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[发明专利]液体识别方法、向量提取方法、液体识别装置及存储介质-CN201811150332.2有效
发明人：陈健;祁春超;谭信辉 -专利权人：深圳市重投华讯太赫兹科技有限公司
申请日： 2018-09-29 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G01N22/00 文献下载
摘要：本申请提供了一种液体识别方法、向量提取方法、液体识别装置及存储介质。该液体识别方法包括：采集被测液体的微波反射信号；根据微波反射信号得到被测液体的微波数据；根据微波数据计算得到被测液体的特征向量；将特征向量输入预设分类器进行识别，并获取识别结果。通过上述液体识别方法，能够快速对被测液体进行识别，提高准确率。
液体识别方法向量提取装置存储介质

[发明专利]光敏器件的采样方法以及图像传感器、电子设备-CN202210860429.2有效
发明人：冯宏庆;仇筱乐;谭信辉;王荣 -专利权人：杭州海康微影传感科技有限公司
申请日： 2022-07-21 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： H04N25/616 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种光敏器件的采样方法以及图像传感器、电子设备，涉及显示技术领域，用于减小电信号放大采样过程中的噪声。光敏器件包括光电转换元件、信号传输电路和双采样电路；光电转换元件用于将光信号转换成电信号，光敏器件的采样方法包括：在第一信号端以及第二信号端的控制下，信号传输电路将光电转换元件输出的电信号放大，并将放大后的电信号作为采样信号输出至双采样电路；双采样电路分时开启，将两次开启时接收到的采样信号分别作为第一采样信号和第二采样信号存储，并将存储在双采样电路中的第一采样信号从第一输出端输出，将第二采样信号从第二输出端输出；第一采样信号与第二采样信号的差值用于表征光信号的强度。
光敏器件采样方法以及图像传感器电子设备

[发明专利]一种激光器电路、提高激光器稳定性的方法及设备-CN202111668005.8在审
发明人：祁春超;王荣;谭信辉;仇筱乐 -专利权人：杭州海康威视数字技术股份有限公司
申请日： 2021-12-30 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： H01S3/097 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种激光器电路、提高激光器稳定性的方法及设备，涉及激光器领域，用于解决在调节激光器输出的激光能量时，激光器的稳定性降低的问题，实现提高了激光器的稳定性的技术效果。供电电路，被配置为向储能电容供电，且供电电压固定；储能电容，被配置为驱动激光产生电路工作，产生激光；能量采集电路，被配置为采集激光器电路输出的第一激光能量；控制电路，被配置为根据第一激光能量和预设的第二激光能量调整储能电容的容值。本申请实施例用于在激光器工作的过程中。
一种激光器电路提高稳定性方法设备

[发明专利]一种三维层析成像系统及方法-CN201810491101.1有效
发明人：祁春超;潘子祥;谭信辉;杨正华 -专利权人：深圳市重投华讯太赫兹科技有限公司;华讯方舟科技有限公司
申请日： 2018-05-21 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：本申请公开了一种三维层析成像系统及方法，该系统包括：无衍射器件、偏光组件、扫描器件以及接收器；无衍射器件用于将入射的第一光束汇聚成第二光束，该第一光束是太赫兹光；偏光组件设置于无衍射器件的出光侧，用于将第二光束中预设偏振方向的光出射到扫描器件；扫描器件用于将该预设偏振方向的光以扫描方式反射到被检材料，并将被检材料反射的第三光束反射到偏光组件；偏光组件还用于改变第三光束的偏振方向，并将偏振方向改变后的第三光束反射到接收器；接收器设置于偏光组件的反射侧，用于接收偏光组件反射的第三光束，以根据第三光束的信息构建被检材料的三维图像。通过上述方式，本申请能够提高材料检测的速度和成像精度。
一种三维层析成像系统方法

[发明专利]安检设备及其图像检测方法-CN201910024567.5有效
发明人：徐利民;祁春超;谭信辉 -专利权人：深圳市重投华讯太赫兹科技有限公司;华讯方舟科技有限公司
申请日： 2019-01-10 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G06T3/40 文献下载
摘要：本申请公开了一种安检设备及其图像检测方法，该检测方法包括：安检设备获取至少一幅三维扫描图像；安检设备对至少一幅三维扫描图像进行投影，以得到二维低分辨图像；安检设备对二维低分辨图像进行超分辨重构，以获得二维高分辨图像，其中超分辨重构包括反向迭代投影；安检设备显示二维高分辨图像。通过这种方式，本申请在不改变安检设备硬件情况下，提高了安检设备图像的分辨率，提升了安检设备对异物的检测识别率，同时降低了虚警率，提高了安检效率。
安检设备及其图像检测方法

[发明专利]低电压差分信号LVDS发送器、芯片、LVDS接口、终端设备-CN202111444428.1有效
发明人：王桂玲;王荣;谭信辉 -专利权人：杭州海康威视数字技术股份有限公司
申请日： 2021-11-30 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G05F3/26 文献下载
摘要：本申请提供一种低电压差分信号LVDS发送器、芯片、LVDS接口、终端设备，涉及电子技术领域，用于解决LVDS发送器中功耗较大的问题。低电压差分信号LVDS发送器包括：第一共模反馈电路和驱动电路，第一共模反馈电路的输出端与驱动电路的第一输入端耦合；第一共模反馈电路包括：第一运算放大器、以及依次串联耦合在电源端和接地端之间的第一晶体管、第一电阻、第二电阻和第二晶体管；其中，第一电阻和第二电阻耦合于第一节点，第一运算放大器的第一输入端耦合于第一节点，第一运算放大器的第二输入端用于接收第一基准电压，第一运算放大器的输出端与第一晶体管的栅极和第一共模反馈电路的输出端耦合，第二晶体管的栅极用于接收偏置电压。
电压信号 lvds 发送芯片接口终端设备

[发明专利]光电探测器的制备方法-CN202210855331.8在审
发明人：黄垒;谭信辉;祁春超;王荣 -专利权人：杭州海康威视数字技术股份有限公司
申请日： 2022-07-19 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： H01L31/18 文献下载
摘要：本申请提供一种光电探测器的制备方法。所述光电探测器的制备方法包括：提供衬底；衬底包括具有第一导电类型的衬底本体及位于衬底本体一侧的绝缘层；衬底本体设有朝向绝缘层的具有第一导电类型的第一注入区及具有第二导电类型的第二注入区，第一注入区的掺杂浓度及第二注入区的掺杂浓度均大于衬底本体的掺杂浓度；在绝缘层上形成暴露第一注入区的第一凹槽和暴露所述第二注入区的第二凹槽；在所述第一凹槽和/或所述第二凹槽的底部形成硅晶体膜层；在所述硅晶体膜层上形成金属膜层，采用快速热退火工艺使所述硅晶体膜层与所述金属膜层反应生成金属硅化物膜层；形成至少部分位于所述第一凹槽内的第一电极及至少部分位于所述第二凹槽内的第二电极。
光电探测器制备方法

[实用新型]放射线探测器像素和像素阵列、放射线探测器及检测装置-CN202123084722.4有效
发明人： 谭信辉;祁春超;王荣 -专利权人：杭州海康威视数字技术股份有限公司
申请日： 2021-12-09 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本申请实施例提供放射线探测器像素和像素阵列、放射线探测器及检测装置。该放射线探测器像素，包括半导体衬底、光电二极管、闪烁体以及反射层。光电二极管设置于半导体衬底内，光电二极管具有感光面。闪烁体设置于光电二极管的感光面所在的一侧，且与光电二极管的位置对应。闪烁体具有相对设置的第一表面和第二表面。第一表面靠近光电二极管，第二表面远离光电二极管。其中，第一表面沿第一方向具有第一长度L1。第二表面沿第一方向具有第二长度L2，L1＜L2。在较大间隔和间隔之间的反射层的共同作用下，闪烁体产生的可见光不容易进入到相邻放射线探测器像素的光电二极管的感光面中，从而减少或避免产生光串扰。
放射线探测器像素阵列检测装置

[实用新型]一种光电测试模组及光电测试系统-CN202123089637.7有效
发明人：龙婧;刘广元;王荣;谭信辉 -专利权人：杭州海康威视数字技术股份有限公司
申请日： 2021-12-09 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型提供一种光电测试模组及光电测试系统。所述光电测试模组用于对具有背照式光电元件的待测晶圆进行测试，其包括基板、多个导电探针及多个电连接键；所述基板具有相对的正面和背面，所述基板的正面包括位于中部的探针区及位于所述探针区外围的电连接区；所述多个导电探针按照预设阵列排布于所述基板的所述探针区形成导电探针阵列，所述多个电连接键分散设于所述电连接区，且每一所述电连接键与一个导电探针电性连接。上述光电测试模组，通过在基板的探针区设置导电探针阵列，并在探针区外围的电连接区设置与导电探针电性连接的电连接键，该光电测试模组的结构简单，且方便对具有背照式光电元件的待测晶圆进行测试。
一种光电测试模组系统

[发明专利]光电二极管器件、放射性探测器阵列、探测器及检测装置-CN202111633730.1在审
发明人：祁春超;樊堃;谭信辉 -专利权人：杭州海康威视数字技术股份有限公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2022-04-08 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本申请实施例提供光电二极管器件、放射性探测器阵列、探测器及检测装置，涉及半导体技术领域，用于降低光电二极管在较宽光谱范围内的反射率。该光电二极管器件包括半导体衬底、光电二极管以及抗反射膜。半导体衬底具有第一表面。光电二极管设置于半导体衬底内，光电二极管具有裸露于第一表面的感光面。抗反射膜覆盖光电二极管的感光面。其中，抗反射膜包括依次层叠的第一抗反射层、第二抗反射层以及第三抗反射层。通过3层反射层相互配合，各反射层可分别设计相应的厚度和/或材料，因此，抗反射膜在设计上有更多的组合自由度。抗反射膜作为一个整体对入射光进行作用，使得抗反射膜在较宽光谱范围内均具有低反射率。
光电二极管器件放射性探测器阵列检测装置

[发明专利]一种太赫兹检测装置-CN201810277663.6有效
发明人：祁春超;吴光胜;谭信辉;杨正华 -专利权人：深圳市重投华讯太赫兹科技有限公司;华讯方舟科技有限公司
申请日： 2018-03-30 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： G01N21/3586 文献下载
摘要：本发明涉及安全检查技术领域，提供了一种太赫兹检测装置，包括用于产生激光的激光系统、用于对激光进行色散补偿的色散补偿系统、光分束器、用于对激光进行延时扫描的光纤拉伸系统、用于产生和接收太赫兹波并对待检测样品进行检测的样品检测系统和用于对测试数据进行分析的数据处理系统，激光系统通过光纤与色散补偿系统连接，色散补偿系统通过光纤与光分束器连接，光分束器通过光纤同时与光纤拉伸系统、样品检测系统连接，光纤拉伸系统通过光纤与样品检测系统连接，同时样品检测系统通过光纤与数据处理系统连接；不仅可以对多种物质进行识别，而且可以自动识别待检测样品，从而大大提高了安全检查的效率，满足不同场景的使用需求。
一种赫兹检测装置

[发明专利]一种太赫兹光谱仪-CN201810276794.2有效
发明人：祁春超;谭信辉;吴光胜;杨正华 -专利权人：深圳市重投华讯太赫兹科技有限公司;华讯方舟科技有限公司
申请日： 2018-03-30 - 公布日： 2021-06-08 - 主分类号： G01N21/3586 文献下载
摘要：本发明涉及太赫兹光谱技术领域，提供了一种太赫兹光谱仪，包括用于与外部激光系统连接的色散补偿系统、光分束器、用于对激光进行延时扫描的光纤拉伸系统、用于产生和接收太赫兹波并对待检测样品进行检测的检测系统和用于对测试数据进行分析的数据处理系统，色散补偿系统通过光纤与光分束器连接，光分束器通过光纤同时与光纤拉伸系统、检测系统连接，光纤拉伸系统通过光纤与检测系统连接，同时检测系统通过光纤与数据处理系统连接；由于激光在光纤中传输，有效提高了太赫兹光谱仪的稳定性，使得太赫兹光谱仪可以应用于室外环境和工业场景中，有效拓展了太赫兹光谱仪的应用场景。
一种赫兹光谱仪

[发明专利]一种基于压电陶瓷驱动的复合控制方法、设备及存储介质-CN202011133368.7在审
发明人：潘子祥;潘奕;谭信辉 -专利权人：深圳市重投华讯太赫兹科技有限公司
申请日： 2020-10-21 - 公布日： 2021-01-08 - 主分类号： G05B11/42 文献下载
摘要：本申请公开了一种基于压电陶瓷驱动的复合控制方法、设备及存储介质，该复合控制方法包括：获取压电陶瓷的期望输出位移，以及实际输出变化量；基于实际输出变化量获取反馈补偿电压；对期望输出位移进行前馈补偿控制，获取前馈补偿电压；基于反馈补偿电压和前馈补偿电压驱动压电陶瓷驱动器。上述方案，能够对压电陶瓷的输出位移实现精确控制。
一种基于压电陶瓷驱动复合控制方法设备存储介质

[发明专利]一种多角度太赫兹成像系统及其成像方法-CN202010495621.7在审
发明人：尹权韬;潘子祥;谭信辉;祁春超 -专利权人：华讯方舟科技有限公司;深圳市华讯方舟太赫兹科技有限公司
申请日： 2020-06-03 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：本申请公开了一种多角度太赫兹成像系统及其成像方法，该多角度太赫兹成像系统包括：传送带，用于传输待测物；至少一个太赫兹源，设置于传送带的上方，用于向传送带上的待测物发射多个角度的太赫兹信号；太赫兹相机，设置于传送带的下方，用于接收穿过传送带上的待测物的太赫兹信号。通过上述方法，本申请可以在较低成本下实现对待测物多角度成像的效果，提高太赫兹成像的准确性。
一种角度赫兹成像系统及其方法

[实用新型]太赫兹检测装置-CN201921942587.2有效
发明人：祁春超;涂阳阳;谭信辉 -专利权人：深圳市华讯方舟太赫兹科技有限公司;华讯方舟科技有限公司
申请日： 2019-11-11 - 公布日： 2020-10-02 - 主分类号： G01V8/00 文献下载
摘要：本实用新型公开一种太赫兹检测装置，该太赫兹检测装置包括传送组件与检测组件，传送组件用于带动待测物体沿着预设方向进行传输；检测组件，用于对位于传送组件上的待测物体进行检测；其中，传送组件与检测组件分离设置。通过上述方式，本实用新型能够减少晃动对检测组件的影响，从而提高检测效果。
赫兹检测装置

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