专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]环形振荡器的测试方案-CN201380046554.9无效
  • 薛真成;H·权;A·吴 - 晶像股份有限公司
  • 2013-08-15 - 2015-05-06 - H03K3/03
  • 本文中公开了一种方法和装置,用于测试多个环形振荡器。在一个实施例中,此装置包括至少一个环形振荡器结构,该至少一个环形振荡器结构具有:环形振荡器,该环形振荡器具有反转器链,该反转器链具有背对背连接并且可操作以产生振荡的输出的奇数个反转器;以及测试结构,耦合成向环形振荡器提供可观测性链输入或测试输入并且接收振荡的输出作为来自环形振荡器的反馈。
  • 环形振荡器测试方案
  • [发明专利]CMOS器件的IDDQ测试-CN201180060400.6有效
  • 薛真成 - 晶像股份有限公司
  • 2011-11-29 - 2013-08-21 - G01R31/28
  • CMOS器件的IDDQ测试。方法实施例包括应用测试图案输入至一器件,此器件包括一个或多个CMOS(互补金属氧化物半导体)晶体管,以及针对此器件获得电流测量,电流测量中的每一个是应用该测试图案的输入至该器件之后对电流的测量。滤波函数被应用至此电流测量,应用此滤波函数包括从电流测量分离缺陷电流值。此方法还包括至少部分地基于此缺陷电流值与阈值的比较来确定当前的器件中是否有缺陷。
  • cmos器件iddq测试
  • [发明专利]高速输入输出装置的测试-CN201180048196.6有效
  • 薛真成;M·金;S·恩古耶 - 晶像股份有限公司
  • 2011-10-05 - 2013-06-12 - G01R31/28
  • 本发明的实施例一般针对高速输入输出装置的测试。高速输入输出装置的实施例包含传送器及接收器,以及从传送器的输出至接收器的输入的回归连结,回归连结包含第一连接器以及第二连接器以用于传输差分信号。装置更包含第一电感,具有第一终端及第二终端,以及第二电感,具有第一终端及第二终端。第一电感的第一终端连接至第一连接器,第二电感的第一终端连接至第二连接器,第一电感的第二终端及第二电感的第二终端提供测试存取端口,以用于该装置的直流电流测试。
  • 高速输入输出装置测试
  • [发明专利]计算机存储设备和串行IO端口的多点测试-CN201180005563.4有效
  • 薛真成 - 晶像股份有限公司
  • 2011-01-03 - 2013-06-05 - G06F11/267
  • 一种用于计算机存储设备的多点测试的方法和装置。一种测试计算机存储设备的方法的实施例包括耦合多个存储设备,每个存储设备具有串化器输出端以及解串器输入端,其中第一存储设备的串化器输出端与多个存储设备的存储设备中一或多个的解串器输入端相耦合。该方法进一步包括使用每个存储设备的测试生成器产生测试信号模式、在每个存储设备处将测试信号模式串行化、并且将经串行化的测试模式进行传输用于测试存储设备,其中存储设备的测试包括第一测试方式以及第二测试方式。
  • 计算机存储设备串行io端口多点测试

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