专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]单晶提拉装置及单晶提拉方法-CN202180020036.4在审
  • 高野清隆;菅原孝世;镰田洋之;小内骏英;太田友彦 - 信越半导体株式会社
  • 2021-02-22 - 2022-10-25 - C30B29/06
  • 本发明是一种单晶提拉装置,具备:提拉炉,其具有中心轴;以及磁场产生装置,其设置于该提拉炉的周围,且具有超导线圈,通过对熔融的半导体原料施加水平磁场,从而抑制在坩埚内的对流,超导线圈是鞍型形状,设有2组对置配置的鞍型形状的超导线圈的对,2组超导线圈的对中的2根所述线圈轴包含在相同的水平面内,在水平面内,在将提拉炉的中心轴的磁力线方向设为X轴时,2根线圈轴间的夹着X轴的中心角度α为100度以上、120度以下。由此,提供能够通过提高磁场产生效率来减小线圈高度,而能够将磁场中心提高至半导体原料的熔融液面附近,从而能够获得氧浓度比以往更低的单晶的单晶提拉装置及单晶提拉方法。
  • 单晶提拉装置方法
  • [发明专利]硅单晶的制造方法-CN202080096689.6在审
  • 菅原孝世;星亮二;太田友彦 - 信越半导体株式会社
  • 2020-12-01 - 2022-09-23 - C30B29/06
  • 本发明提供一种硅单晶的制造方法,其为在熔融开始前的原料中导入氮化硅粉末并通过切克劳斯基法提拉掺杂有氮的硅单晶的硅单晶的制造方法,其特征在于,基于所述氮化硅粉末中所包含的碳杂质量,以使硅单晶中的碳浓度在容许值以下的方式限制能够使用的氮化硅粉末的上限量,从而掺杂氮。由此,能够在达成低碳浓度规格的同时,以低成本实现目标的氮掺杂量。
  • 硅单晶制造方法
  • [发明专利]单晶培育方法-CN201980056306.X有效
  • 星亮二;三原佳祐;菅原孝世;松本克 - 信越半导体株式会社
  • 2019-06-10 - 2022-09-02 - C30B29/06
  • 本发明涉及一种单晶培育方法,其为基于直拉法(CZ法)或磁控拉晶法(MCZ法)的单晶培育方法,其包括:将装填在坩埚中的硅原料熔融形成熔融液的第一工序;使所述熔融液部分凝固形成凝固层的第二工序;在所述凝固层与所述熔融液共存的状态下,去除所述熔融液的至少一部分的第三工序;将所述凝固层熔融形成熔融液的第四工序;及由该熔融液培育单晶硅的第五工序。由此能够提供用一台CZ拉晶机进行硅原料的高纯度化和单晶培育、从而培育降低了杂质浓度的单晶的方法。
  • 培育方法
  • [发明专利]单晶硅的制造方法、外延硅晶片、以及单晶硅基板-CN201910458568.0有效
  • 菅原孝世;星亮二 - 信越半导体株式会社
  • 2019-05-29 - 2022-08-09 - C30B15/04
  • 技术问题:提供一种单晶硅的制造方法,其在通过氮掺杂来促进析出的低/无缺陷结晶单晶硅基板以及外延硅晶片中,即使在顶端的低温/短时间的器件工艺流程中也能够形成充分的BMD,并能够以较高的成品率制造具有较高的吸杂能力的晶片。解决方案:一种单晶硅的制造方法,其特征在于,利用切克劳斯基法通过在结晶整面为N‑区域的条件下进行提拉从而使单晶硅生长,以2×1013atoms/cm3以上且3.2×1014atoms/cm3以下的氮浓度掺杂氮,使单晶硅的提拉轴向的结晶中心部的温度梯度Gc与结晶周边部的温度梯度Ge的比为Ge/Gc>1,与提拉单晶硅时的偏析所导致的氮浓度的增加相应地逐渐地增大Ge/Gc。
  • 单晶硅制造方法外延晶片以及
  • [发明专利]单晶制造装置-CN202111412204.2在审
  • 高桥宽贵;小内骏英;菅原孝世 - 信越半导体株式会社
  • 2021-11-25 - 2022-07-19 - C30B29/06
  • 本发明提供一种通过有效地冷却培育中的单晶从而能够实现该单晶的生长速度的高速化的单晶制造装置。该单晶制造装置具有:容纳收容原料熔液的坩埚的主室、提拉并收容单晶的提拉室、以及以包围提拉中的单晶的方式从主室的顶部向原料熔液表面延伸并被强制冷却的冷却筒,该单晶制造装置还具有嵌合于冷却筒的内侧的冷却辅助筒和嵌合于冷却辅助筒的直径扩大部件,冷却辅助筒具有沿轴向贯穿的切缝,冷却辅助筒通过直径扩大部件的压入而与冷却筒的内表面贴紧,冷却辅助筒具有以覆盖冷却筒的与原料熔液相对的底面的方式向外侧延伸的凸缘部,通过嵌合在冷却辅助筒凸缘部与冷却筒底面之间的贴紧辅助部件,使冷却筒底面、贴紧辅助部件和冷却辅助筒凸缘部贴紧。
  • 制造装置
  • [发明专利]单晶提拉装置及单晶提拉方法-CN202080033333.8在审
  • 高野清隆;矢岛涉;菅原孝世;鎌田洋之;太田友彦 - 信越半导体株式会社
  • 2020-03-19 - 2021-12-17 - C30B15/00
  • 本发明是一种单晶提拉装置,具备:提拉炉,其配置有加热器和坩埚并具有中心轴;以及磁场产生装置,其具有超导线圈,磁场产生装置具有四个超导线圈,在由包含X轴和提拉炉的中心轴的剖面划分的两个区域的每一个中,各两个超导线圈配置为相对于剖面线对称,其中,该X轴是包含四个超导线圈的所有线圈轴的水平面内的中心轴上的磁力线方向,四个超导线圈都配置为,线圈轴相对于Y轴成大于‑30°小于30°的角度范围,该磁力线的方向相对于剖面线对称,在每一个区域中,两个超导线圈产生的磁力线的方向相反。由此,提供一种在单晶提拉装置的解体·安装时不需要使磁场产生装置移动,能够降低培育的单晶中的氧浓度,并且能够抑制培育的单晶中的生长条纹的单晶提拉装置。
  • 单晶提拉装置方法
  • [发明专利]单晶硅生长装置以及单晶硅生长方法-CN201380047665.1在审
  • 星亮二;菅原孝世 - 信越半导体株式会社
  • 2013-08-26 - 2015-05-13 - C30B29/06
  • 本发明涉及一种单晶硅生长装置,其是在加热用的石墨加热器的内侧配置石墨坩埚,在其内侧配置石英坩埚,并从石英坩埚内装满的原料熔融液中使结晶生长,基于切克劳斯基单晶生长法的单晶硅生长装置,在石墨加热器的外侧具有加热器外侧绝热部件,在石墨坩埚的下部具有坩埚下部绝热部件,在石墨坩埚及石英坩埚的直体部上方具有坩埚上部绝热部件,具有位于石墨坩埚的直体部外侧的坩埚外侧绝热部件,在石墨坩埚及石英坩埚的直体部内侧具有坩埚内侧绝热部件,在原料熔融液液面的上方具有隔热部件,在坩埚上部绝热部件、坩埚外侧绝热部件和坩埚内侧绝热部件的内侧所形成的空间内,石墨坩埚以及石英坩埚可升降。由此,提供一种能够维持原料熔融液液面的保温性,抑制因凝固等而导致的有错位化的单晶硅生长装置以及单晶硅生长方法。
  • 单晶硅生长装置以及方法
  • [发明专利]单晶制造装置及单晶制造方法-CN201080052894.9有效
  • 岛田聪郎;菅原孝世 - 信越半导体股份有限公司
  • 2010-11-09 - 2012-08-15 - C30B29/06
  • 本发明提供一种单晶制造装置,是利用切克劳斯基法来实行的单晶制造装置,其具备:坩埚,其容置原料;主室,其容置将该原料加热成原料熔液的加热器;及副室,其连接设置于该主室的上部,用以提拉并容置培育后的单晶;所述单晶制造装置的特征在于具有:内屏蔽,其配置于所述加热器与所述主室之间,并隔绝所述加热器的辐射热;及支持构件,其从下方支持该内屏蔽;并且,所述内屏蔽在三处以上的支点处与所述支持构件接触而得以被支持,所述内屏蔽的下端在所述支点以外不与所述支持构件接触。由此,提供一种单晶制造装置,所述单晶制造装置可以通过降低由内屏蔽向支持构件的热量散失,来提高炉内保温性,省电并且减少单晶的制造时间。
  • 制造装置方法
  • [发明专利]单晶的成长方法及单晶的提拉装置-CN200980113403.4有效
  • 菅原孝世;星亮二;高沢雅纪;宫原祐一;岩崎淳 - 信越半导体股份有限公司
  • 2009-03-24 - 2011-04-06 - C30B29/06
  • 本发明关于一种单晶硅的成长方法及提拉装置,该单晶硅的成长方法根据切克劳斯基法,将单晶从已在石英坩埚内熔融的硅原料的熔融液提拉而使其成长,其特征在于:以上述石英坩埚的外壁侧为正极,并以电极侧为负极的方式,施加直流电压,一边使电流从上述电极流过一边根据上述提拉轴来使单晶硅成长;并且,该电极是与用以提拉上述单晶的提拉轴分开设置,且被浸渍于上述硅原料的熔融液中。由此,在单晶硅的成长过程中,通过使适当的结晶化层即失透发生在石英坩埚的内壁表面,同时防止锂等的碱金属混入单晶硅中,能提高单晶产率与生产性,并且在切片成芯片后的热氧化处理中,能抑制氧化膜的异常成长。
  • 成长方法装置

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