专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]测距光源装置及激光测距设备-CN202310586830.6在审
  • 肖经;张宇;朱新锋;薛炜;刘东明;胡海涛;胡思奇;康殿煜 - 桂林电子科技大学
  • 2023-05-23 - 2023-08-11 - G01S7/481
  • 本申请公开了一种测距光源装置及激光测距设备,该测距光源装置包括信号发生器、光电振荡环路和加法器,所述信号发生器用于产生电信号、所述光电振荡环路用于反馈振荡信号,所述加法器与所述信号发生器、所述光电振荡环路相连接,用于将所述电信号和所述振荡信号进行加法处理后得到驱动信号,使所述光电振荡环路能够基于所述驱动信号产生双频激光信号。本申请的测距光源装置可以产生MHz到GHz级别的双频激光信号,当该测距光源装置工作时,两个频率的信号同时发出,通过双频激光信号测距,具有测量精度高、反应速度快、抗干扰能力强等特点,且本申请的测距光源装置成本低,体积小。
  • 测距光源装置激光设备
  • [发明专利]检测组件和检测方法-CN202310238327.1在审
  • 蔡苗;韦金秀;贠明辉;刘孟源;罗银银;肖经;张玉婷 - 桂林电子科技大学;桂林研创半导体科技有限责任公司
  • 2023-03-14 - 2023-07-14 - G01R31/26
  • 本发明提供了一种检测组件和检测方法,检测组件与扫频组件相连接,用于对功率器件进行检测,检测组件包括基座、第一安装组件、支架组件、第一套筒、第二套筒、探针组件和压力检测组件。第一安装组件设置于基座;支架组件设置于基座;第一套筒与支架组件连接,能够相对于支架组件移动;第二套筒与第一套筒相连接,能够相对于第一套筒运动;探针组件的与第一套筒连接;压力检测组件包括压力检测部件和弹性件;弹性件的一端与第二套筒连接,弹性件的另一端与第一套筒连接;在对功率器件进行检测的情况下,功率器件放置于第一安装组件,压力检测部件能够检测弹性件的第一压力值,以控制探针组件与功率器件的接触状态。
  • 检测组件方法
  • [实用新型]检测组件和检测仪器-CN202222975431.2有效
  • 杨道国;贠明辉;高永杰;肖经;位松;蔡苗;刘东静 - 桂林电子科技大学
  • 2022-11-09 - 2023-06-23 - G01R31/26
  • 本实用新型提供了一种检测组件和检测仪器。检测组件与扫频组件相连接,用于检测功率器件在不同频率下的阻抗变化,检测组件包括夹持组件、接地探针和至少一个检测探针;夹持组件包括第一夹持部和第二夹持部,第一夹持部的一端与第二夹持部的一端相连接;接地探针穿设于第一夹持部;至少一个检测探针穿设于第二夹持部,与接地探针并列设置,能够和功率器件相连接;其中,第一夹持部和第二夹持部能够相对滑动,以使接地探针与至少一个检测探针相对远离或靠近。
  • 检测组件仪器
  • [发明专利]功率器件的检测方法-CN202110975862.6有效
  • 杨道国;贠明辉;肖经;蔡苗;位松;张凯林 - 桂林电子科技大学
  • 2021-08-24 - 2023-04-18 - G01R31/26
  • 本发明提供了一种功率器件的检测方法,包括:对待测功率器件进行扫频处理;获取待测功率器件各端子的等效阻抗参数;根据预设的判断规则,确定待测功率器件的损伤情况;其中,等效阻抗参数包括:等效电阻、等效电容、等效电感。本发明所提供的功率器件的检测方法,通过扫频处理获取待测功率各端子的等效阻抗参数后,可直接通过预设的判断规则对待测功率器件各方面的损伤情况进行有效准确的判定,无需对功率器件进行带电导通工作,无需设计专门的测试电路或测试系统,无需对功率器件进行开封,满足了可靠性检测、快速性检测、通用性检测、无损性检测的需求。
  • 功率器件检测方法
  • [发明专利]检测组件、检测仪器和检测方法-CN202211396095.4在审
  • 杨道国;贠明辉;高永杰;肖经;位松;蔡苗;刘东静 - 桂林电子科技大学
  • 2022-11-09 - 2023-02-03 - G01R31/26
  • 本发明提供了一种检测组件、检测仪器和检测方法。检测组件与扫频组件相连接,用于检测功率器件在不同频率下的阻抗变化,检测组件包括夹持组件、接地探针和至少一个检测探针;夹持组件包括第一夹持部和第二夹持部,第一夹持部的一端与第二夹持部的一端相连接;接地探针穿设于第一夹持部;至少一个检测探针穿设于第二夹持部,与接地探针并列设置,能够和功率器件相连接;其中,第一夹持部和第二夹持部能够相对滑动,以使接地探针与至少一个检测探针相对远离或靠近。
  • 检测组件仪器方法
  • [发明专利]提高扫频信号线性度的方法和装置-CN202210628823.3在审
  • 肖经;文迪;朱新锋;黄前龙 - 桂林电子科技大学
  • 2022-06-06 - 2022-10-21 - G01S13/02
  • 本申请涉及激光雷达测量领域,尤其涉及一种提高扫频信号线性度的方法和装置。一种提高扫频信号线性度的方法,所述方法包括如下步骤:步骤S1:从调频连续波激光雷达发送的激光中依次提取若干时间点的瞬时拍频信号;步骤S2:根据所述调频连续波激光雷达在各个时刻的瞬时拍频信号确定对应的各个时刻的瞬时扫频信号;步骤S3:对各个时刻的瞬时扫频信号进行一阶直线拟合,得到所述调频连续波激光雷达在一段目标时间内的扫频信号。能够避免因激光雷达性能所限导致的误差,并能够得到信号的瞬时参数,且装置简单,测量方便。同时拟合结果以一次函数形式展现,便于后续计算和利用。
  • 提高信号线性方法装置
  • [发明专利]一种频谱信息确定方法及相关设备-CN202210628824.8在审
  • 肖经;李志文;朱新锋;文迪;黄前龙 - 桂林电子科技大学
  • 2022-06-06 - 2022-10-18 - G01S7/41
  • 本发明涉及信息处理技术领域,尤其涉及一种频谱信息确定方法及相关设备。其中,该方法包括:采用M种不同的窗函数对目标信号进行截取,得到对应的M组待处理信号数据,其中M≥2;根据所述M组待处理信号数据确定待处理信号序列,所述待处理信号序列为时域信号;将所述待处理信号序列延时n0个点,得到第二待处理信号序列;根据所述待处理信号序列的相位与所述第二待处理信号序列的相位确定相位差;根据所述相位差确定所述目标信号的频谱信息。通过本发明实施例提供的方法,可以克服现有技术抗干扰能力较弱,误差较大以及准确率较低的缺陷。
  • 一种频谱信息确定方法相关设备
  • [发明专利]一种半导体器件故障检测方法及相关设备-CN202111478391.4在审
  • 肖经;朱新锋;黄青春;李志文;张俊宇;文迪;黄前龙 - 桂林电子科技大学
  • 2021-12-06 - 2022-04-15 - G01R31/26
  • 本发明涉及半导体检测领域,尤其涉及一种半导体器件故障检测方法及相关设备。其中,该方法包括:获取参考信号通过待测半导体器件后的反馈信号;根据所述反馈信号和所述参考信号确定所述待测半导体器件的电路反射系数;确定所述电路反射系数与目标电路反射系数之间的第一差值;如果所述第一差值大于第一阈值,则确定所述待测半导体器件已故障。本发明实施例中,通过测量计算出待测半导体器件的电路反射系数,并与正常半导体器件的目标电路反射系数进行比较,从而确定待测半导体器件是否为故障器件,从而可以在无须拆解半导体器件以及特定检测设备的情况下,采用在线测试的方式快速便捷的对半导体器件进行检测。
  • 一种半导体器件故障检测方法相关设备
  • [发明专利]压力传感元件及压力传感系统-CN201910898393.5有效
  • 肖经;黄青春;韦启钦;蔡凯达;蔡苗;杨道国;张国旗 - 桂林电子科技大学
  • 2019-09-23 - 2021-10-22 - G01L1/24
  • 本发明提供了一种压力传感元件和压力传感系统,其中,压力传感元件包括:基底;加载波导,加载波导设置于基底上,两个耦合器与加载波导的两端相连,耦合器用于对激光器发出的光线进行传导,两个耦合器通过光纤分别与激光器和光谱分析仪相连;加载波导包括光栅和形变部,光栅与形变部相连,形变部上设置有一个通孔,通孔的轴线与基底相平行,通孔的轴线与两个耦合器之间的连线相垂直。本发明中的压力传感元件相比于相关技术加载波导的体积可以设置得更小,实现使压力传感元件的体积更小,并且基于形变部的形变量对折射率的影响进行压力检测,可以提高压力传感元件的稳定性,以及压力传感元件的灵敏度。
  • 压力传感元件系统
  • [实用新型]焊盘寿命检测电路和装置-CN202023012677.7有效
  • 肖经;苏云赫;闭大盼 - 桂林电子科技大学
  • 2020-12-15 - 2021-09-17 - G01R31/00
  • 本实用新型提出了一种焊盘寿命检测电路和装置,涉及硬件检测技术领域。其中,上述焊盘寿命检测电路包括:供电电源、并联在供电电源和地之间的第一支路和第二支路。第一支路和第二支路分别设置有用于连接待测焊盘的第一连接节点和第二连接节点。第一支路和第二支路还分别设置有第一开关和第二开关。第一开关和第二开关与波形驱动器连接,波形驱动器用于驱动第一开关和第二开关交替打开和闭合。第一开关和第二开关处于第一开合状态时,供电电源的电流以第一方向流经待测焊盘;第一开关和第二开关处于第二开合状态时,供电电源的电流以第二方向流经待测焊盘。从而缩短焊盘寿命检测所需时间,提高焊盘寿命检测效率。
  • 寿命检测电路装置
  • [实用新型]一种光路切换开关及光路切换装置-CN202120067770.3有效
  • 肖经;邓亦峭;甘家虎;蔡凯达;王艺霏;闭大盼 - 桂林电子科技大学
  • 2021-01-12 - 2021-09-17 - H04Q11/00
  • 本实用新型涉及光通信领域,尤其涉及一种光路切换开关及光路切换装置。所述光路切换开关,包括:开关部以及与所述开关部连接的连接部;所述开关部呈多边形柱状,所述开关部的各个侧面分别为反射面,相邻两个反射面之间的夹角均不相等;所述反射面,用于与入射光源对应时,将入射光源投射到光接收部件;所述连接部,用于带动所述开关部转动,以切换对应所述入射光源的反射面。当光通信的铜线线路发生故障时,可以通过所述连接部控制所述开关部转动,使不同的反射面将入射光源反射至不同的光接收部件,以对通信线路进行切换。
  • 一种切换开关装置

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