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[发明专利]一种卤素钙钛矿单晶材料及其制备方法和应用-CN202310568273.5在审
发明人：张伟;张帅;邹政;肖梓杰 -专利权人：广州大学
申请日： 2023-05-18 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： C30B7/08 文献下载
摘要：本发明提供了一种卤素钙钛矿单晶材料及其制备方法和应用。本发明的卤素钙钛矿单晶材料的制备方法，包括如下步骤：S1：将卤素盐溶解在溶剂中，加热，随后降温结晶，在溶液中生长出小块的FAPbBr(3‑X)I(X)单晶，X＝0‑2；S2：从溶液中取出FAPbBr(3‑X)I(X)单晶，随后对溶液进行过滤，向过滤后的溶液中加入1‑2颗FAPbBr(3‑X)I(X)单晶，培养至单晶生长为预设尺寸，取出，制得卤素钙钛矿单晶材料。本发明的卤素钙钛矿单晶材料单晶尺寸大、单晶质量好、发光强度高，具有较强的实际应用价值。
一种卤素钙钛矿单晶材料及其制备方法应用

[发明专利]一种溶液发光量子产率测量装置及其测量方法-CN202310107618.7在审
发明人：张伟;林浩勃;肖梓杰 -专利权人：广州大学
申请日： 2023-02-09 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：本发明提供了一种溶液发光量子产率测量装置及其测量方法，包括测试光路、光谱仪和上位机，测试光路包括激光器组件和光路组件，光路组件包括样品支架和凸透镜，凸透镜分别位于样品支架两侧及下方，光谱仪与光纤连接，光纤的接头用于接收样品支架远离激光器组件一侧的凸透镜透过的光线以及样品支架下方的凸透镜透过的光线，光谱仪与上位机连接。本发明通过采用参比法，通过待测发光物质和参比发光物质的稀溶液在同一条件测得的发光强度和吸光度并加以计算得到待测发光物质的量子产率。可用于测量多种激发波长的发光物质，待测发光物质和参比发光物质经激光激发后测量并计算可直接得到发光光谱和激发波长处的吸收值，相比传统测量方法更简单快捷。
一种溶液发光量子测量装置及其测量方法

[发明专利]一种太赫兹光产生装置及其光学泵浦太赫兹探测系统-CN202310252007.1在审
发明人：张伟;肖梓杰;江建钧 -专利权人：广州大学
申请日： 2023-03-15 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： H01S1/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种太赫兹光产生装置及其光学泵浦太赫兹探测系统，包括依次对应配合设置的第一柱面镜、第二柱面镜、反射光栅、凹面镜、二分之一波片和锂酸铌晶体，入射激光依次经过所述第一个柱面镜、所述第二个柱面镜、所述凹面镜、所述二分之一波片和所述锂酸铌晶体后产生太赫兹光。本发明利用光栅的衍射效应产生波前倾斜的激光，并且利用柱面镜产生大小合适的椭圆光斑，通过相干放大产生强太赫兹光，可以实现某些太赫兹透过率较小的样品的测试。太赫兹探测方式可以通过单脉冲直接测量太赫兹波的完整波形，可以在完成动力学测量的同时测量不同延迟时间下的太赫兹波形，大大提高了测试效率和测试灵敏度。
一种赫兹产生装置及其光学泵浦太探测系统

[发明专利]一种钙钛矿异质结及其制备方法-CN202310199928.6在审
发明人：张伟;邹政;肖梓杰;钟健斌;关伯瑛;刘翠红 -专利权人：广州大学
申请日： 2023-03-02 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： H10K30/10 文献下载
摘要：本发明涉及光电器件技术领域，尤其是涉及一种钙钛矿异质结及其制备方法，该钙钛矿异质结包括窄带隙钙钛矿单晶和宽带隙钙钛矿单晶，且宽带隙钙钛矿单晶负载在窄带隙钙钛矿单晶的表面；其中，窄带隙钙钛矿单晶材料的带隙为2.21eV‑2.34eV，宽带隙钙钛矿单晶材料的带隙为2.91eV‑3.29eV。本发明的钙钛矿异质结结构为宽带隙钙钛矿单晶包裹窄带隙钙钛矿单晶，因外层钙钛矿的带隙较宽，其吸光波长范围相比于内层窄带隙钙钛矿更窄，因此仅需选择合适波段的激光激发，便能避免外层钙钛矿信息的干扰而直接获取内层钙钛矿信息。同时，因外层钙钛矿可以起到保护内层钙钛矿的作用，可在一定程度上钝化内部钙钛矿的表面缺陷并隔绝工作环境中水蒸气及氧气的影响。
一种钙钛矿异质结及其制备方法

[实用新型]一种适用于光学性能测试的气氛可控样品室和装置-CN202122932086.X有效
发明人：彭军;林俊;肖梓杰;邹贤劭;李林怡;郑淑卿;庄耀斌;刘翠红;张伟 -专利权人：广州大学
申请日： 2021-11-26 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01N21/03 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种适用于光学性能测试的气氛可控样品室，包括圆形支架、密封盖和卡箍；密封盖的数量为两个，两个密封盖分别与圆形支架的两端密封连接形成样品测试区域；圆形支架的侧面设有凸块，卡箍的内侧壁设有凹槽，凸块插入凹槽，卡箍的内侧壁顶向圆形支架的侧面；圆形支架内部中空设置，圆形支架内部设有样品放置网。本实用新型还涉及一种适用于光学性能测试的气氛可控装置。本实用新型气密性好、通用性强和体积轻巧，属于光谱分析仪器技术领域。
一种适用于光学性能测试气氛可控样品装置

[外观设计]电灯泡-CN202030266892.6有效
发明人： 肖梓杰 -专利权人： 肖梓杰
申请日： 2020-06-01 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： 26-04 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：电灯泡。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于照明。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
电灯泡

[实用新型]一种吸收光谱测试系统-CN201920698540.X有效
发明人：张伟;肖梓杰;肖颖;陈鸿佳;温观钊;冯君仪 -专利权人：广州大学
申请日： 2019-05-16 - 公布日： 2020-02-07 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种吸收光谱测试系统，其包括，转轮式光源(1)、第一透镜(2)、第一光阑(3)、样品架(4)、第二光阑(5)、第二透镜(6)、光强度传感器(7)、单片机模块以及显示模块；该系统采用转轮式光源结构，可以实现探测物体对不同波长光的吸收，且在其探测光路上透镜的设置，使光源呈平行光出射，透过物体后经凸透镜汇聚到光强度传感器上，减少待测物体折射对测量的影响；另外该系统采用单片机最小系统，可以实现实时数字化显示数值；整体来看该测试系统结合了日常生活例如农业探测领域的特点，采用常规的光学部件，其探测光路简单紧凑，构成的吸收光谱测试系统结构简单，造价便宜，且携带方便。
透镜光强度传感器测试系统吸收光谱转轮式光阑光源探测凸透镜单片机最小系统测试系统结构本实用新型单片机模块数字化显示待测物体光学部件光源结构探测光路显示模块携带方便波长光常规的平行光探测光样品架出射紧凑测量折射汇聚吸收

[实用新型]一种便携式低成本光谱仪-CN201920704282.1有效
发明人：张伟;冯君仪;温观钊;肖梓杰;肖颖;陈鸿佳;刘翠红 -专利权人：广州大学
申请日： 2019-05-16 - 公布日： 2019-12-20 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种便携式低成本光谱仪，该光谱仪在入光口位置通过光阑的约束以及透镜的汇聚从而使外部入射的发散光变为平行光，同时采用平面反射镜组通过反射作用使不同波长的光之间的水平位移增大，再分别经过透镜聚焦到光强度传感器上进行光强度检测，从而使分光更明显且实现同时测量，且该光谱仪所使用的部件较为常规，其成本较低，相比较市面上的光谱仪大多昂贵厚重，本实用新型的光谱仪造价便宜，且其体积较小，携带方便，适应广泛应用于日常的农业生产探测中。
光谱仪本实用新型透镜光强度传感器平面反射镜组光强度检测反射作用农业生产水平位移透镜聚焦位置通过携带方便低成本发散光平行光入光口波长分光光阑入射探测测量汇聚外部应用

[发明专利]一种待加工零件的基准确立方法-CN201811305959.0在审
发明人： 肖梓杰;刘涛;张珊珊;李昂 -专利权人：北京星航机电装备有限公司
申请日： 2018-11-05 - 公布日： 2019-02-15 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明属于测量技术领域，具体涉及一种利用激光扫描测量与数据处理方法的待加工零件的基准确立方法。该方法利用在待加工零件上建立易于找正和传递的辅助工艺基准，在激光扫描测量后对待加工零件的扫描数据与理论模型进行拟合，输出辅助工艺基准的相关数据，完成待加工零件的基准确立。本发明能够克服复杂待加工零件难以确立加工基准的问题，通过型面测量和后期数据处理的方式提升待加工零件的基准确立的精度，同时使得待加工零件后续加工的精度和效率大大提升。
待加工零件激光扫描测量辅助工艺数据处理测量技术领域后续加工加工基准加工零件理论模型扫描数据面测量拟合找正传递输出

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