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[发明专利]一种衍射元件、高分辨率光谱仪及光谱检测方法-CN201810373028.8有效
发明人：蔡志坚;吴利;苏衍峰;吴建宏 -专利权人：苏州大学
申请日： 2018-04-24 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本发明涉及光谱检测设备领域，公开了一种衍射元件、高分辨率光谱仪及光谱检测方法。待测光源通过准直透镜平行入射到所述光谱仪的衍射元件上，所述衍射元件由多个衍射光栅单元构成，所述衍射光栅单元的刻痕密度分布和/或刻痕倾斜方向不同，待测光经过所述衍射元件后发生无规则散射，通过图像传感器记录待测光在零级衍射处和一级衍射处的散斑图案，再由光谱分析系统将所述散斑图案与波长‑散斑图案标准库进行比对，反推出待测光的光谱数据。本发明的光谱仪结构简单、具有高分辨率，并且人为可控、可进行批量生产，同时使用该光谱仪进行光谱检测误差小、操作简单，具有广泛的应用价值。
一种衍射元件高分辨率光谱仪光谱检测方法

[发明专利]分光特性测定装置、分光特性测定方法和炉的控制方法-CN201980016024.7有效
发明人：儿玉俊文;天野胜太;高桥幸雄 -专利权人：杰富意钢铁株式会社
申请日： 2019-03-01 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本发明的一个实施方式的分光特性测定装置(1)具备：将对象物A的直线状区域所发出的光或者来自直线状区域的反射光作为分光信息获取的成像分光装置(4)；对包含直线状区域的对象物A的二维区域的图像进行拍摄的二维摄像装置(6)；以及基于通过二维摄像装置(6)拍摄的图像而决定成像分光装置(4)获取分光信息的范围的运算装置(7)。
分光特性测定装置方法控制

[发明专利]摄像单元及测定装置-CN202180013797.7在审
发明人：中村共则 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2021-01-04 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：测定装置具备：倾斜分色镜，其将来自样品的光对应于波长透过或反射而予以分离，且透过率及反射率对应于波长的变化而变化的波长频带的宽度、即边缘跃迁宽度具有规定的宽度；全反射镜，其将在倾斜分色镜被透过或反射的光的一方予以反射；摄像元件，其由第1摄像区域对在倾斜分色镜被透过或反射的光的另一方进行摄像，且由与第1摄像区域不同的第2摄像区域对在全反射镜被反射的光进行摄像；及控制装置，其基于倾斜分色镜中的透过率及反射率相对于波长的变化所涉及的光学特性，对由第1摄像区域及第2摄像区域摄像的图像进行修正。
摄像单元测定装置

[发明专利]分光光度计-CN201780088686.6有效
发明人：渡边真人;军司昌秀 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2017-04-20 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本发明的分光光度计中，分光器与PDA的位置关系被设定为，使得在构成PDA的PD中至少对具有200nm～300nm之间的波长的光进行接收的PD的受光面反射的光的反射位置、与该反射光在所述保护板被再次反射并入射至该PDA的受光面时的其入射位置之间的距离为构成所述PDA的1个PD的宽度尺寸以下。
分光光度计

[发明专利]光学装置和方法-CN202080062452.6在审
发明人：罗宾·王;彼得·诺里斯 -专利权人：牛津大学创新有限公司
申请日： 2020-09-04 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本发明提供了一种高光谱成像装置(100)，包括用于从场景(106)接收光场的入射件(102)、编码器(108)、至少一个色散元件(110、112)、至少一个阵列检测器(114、116)和处理器(118)。编码器(108)被布置为从入射件(102)接收光场的至少一部分并对其进行变换以提供具有不同空间图案的第一编码光场(120)和第二编码光场(122)。至少一个色散元件(110、112)被布置为分别向第一编码光场(120)和第二编码光场(122)施加光谱剪切，以提供第一剪切光场(124)和第二剪切光场(126)。至少一个阵列检测器(114、116)被布置为检测第一剪切光场(124)和第二剪切光场(126)。处理器(118)被布置为处理至少一个阵列检测器(114、116)的输出信息，以确定与所述场景的高光谱图像相对应的数据立方体(128)。
光学装置方法

[发明专利]新型光谱仪和基于DLP技术的光强检测方法-CN202111528373.2在审
发明人：杨荣华 -专利权人：深圳思凯测试技术有限公司
申请日： 2021-12-14 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本发明公开一种新型光谱仪和基于DLP技术的光强检测方法，其中，新型光谱仪包括依次设置的入射狭缝、准直元件、色散元件、DLP挡光板以及探测器；其中，所述DLP挡光板，用以将经所述色散元件按波长分散成的多条光束以预设规则转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光；探测器，位于所述DLP挡光板的投影面上，用以测量所述投影光中的CIEXYZ三刺激值。本发明技术方案能提高光谱仪检测CIERGB的效率。
新型光谱仪基于 dlp 技术检测方法

[发明专利]分光测定装置及分光测定方法-CN201980089626.5在审
发明人：井口和也;增冈英树 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2019-12-20 - 公布日： 2021-09-14 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本发明的分光测定装置(1)具备光学系统(10)、光检测器(20)及解析部(30)。光学系统(10)将来自对象物(S)的被测定光朝光检测器(20)的受光面引导，且在光检测器(20)的受光面上形成被测定光的分光像。光检测器(20)具有在多行排列有多个像素的受光面。光检测器(20)通过在受光面上的第1区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第1曝光时间受光分光像并输出被测定光的第1光谱数据。光检测器(20)通过在受光面上的第2区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第2曝光时间受光分光像并输出被测定光的第2光谱数据。第2曝光时间比第1曝光时间长。由此，可实现能够使用一个光检测器取得高动态范围的光光谱的分光测定装置及分光测定方法。
分光测定装置方法

[发明专利]分色镜阵列以及光检测装置-CN201880098119.3在审
发明人：穴泽隆;伊名波良仁;山本周平;中泽太朗 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2018-10-12 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本公开的分色镜阵列在右手系XYZ正交坐标系中，具备沿X轴的正方向相互平行地排列m个(m≥2)分色镜DA1～DAm的第一组和沿X轴的负方向相互平行地排列n个(n≥2)分色镜DB1～DBn的第二组。DA1～DAm的入射面及DB1～DBn的入射面与XZ平面垂直。并且，将DA1～DAm的入射面的法线投影到XZ平面的直线在XZ平面上的倾斜度为负，将DB1～DBn的入射面的法线投影到XZ平面所形成的直线在XZ平面上的倾斜度为正。
分色镜阵列以及检测装置

[发明专利]分光测量装置和分光测量方法-CN201980030327.4在审
发明人：庄沱 -专利权人：索尼公司
申请日： 2019-04-23 - 公布日： 2020-12-18 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本发明的目的是实现使得能够独立地调整分光测量装置的空间分辨率和波长分辨率的配置。该分光测量装置包括：空间分辨率调整单元，用于调整分光测量装置的空间分辨率；以及波长分辨率调整单元，用于调整分光测量装置的波长分辨率，其中，空间分辨率调整单元通过将从分光测量装置的会聚单元到分光成像单元的输出光保持为平行光并且调整会聚单元的构成元件的参数，在不改变波长分辨率的情况下改变分光测量装置的空间分辨率。波长分辨率调整单元调整分光测量装置的分光成像单元的参数，以在不改变空间分辨率的情况下改变分光测量装置的波长分辨率。
分光测量装置测量方法

[发明专利]频谱检查装置-CN201710308480.1有效
发明人：王唯科;陈裕仁 -专利权人：采钰科技股份有限公司
申请日： 2017-05-04 - 公布日： 2020-11-13 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本公开提出一种频谱检查装置，包括：一感测单元阵列，包括一第一感测单元及一第二感测单元；一双带通滤波器，配置在该感测单元阵列上以覆盖该第一感测单元及该第二感测单元，其中该双带通滤波器允许光线中的一第一波段及一第二波段通过；以及一滤波器，配置于该双带通滤波器上且覆盖该第二感测单元，其中该滤波器允许光线中波长长于一第一波长的光通过，其中该第一波长长于该一波段的波峰波长且短于该第二波段的波峰波长。
频谱检查装置

[发明专利]多通道宽场成像系统以及用于在其中使用的光学系统-CN201680031742.8有效
发明人： F.A.莫雷 -专利权人：诺瓦达克技术公司
申请日： 2016-03-29 - 公布日： 2020-06-05 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：一种用于与多通道宽场成像系统一起使用的光学系统，该光学系统包括：物镜；用来将光分成第一波长范围和第二波长范围的二向色元件，该二向色元件被定位成从该物镜接收几乎平行的主射线；用来从二向色元件接收第一波长范围的光的第一通道透镜系统；以及用来从二向色元件接收第二波长范围的光的第二通道透镜系统。
通道成像系统以及用于其中使用光学系统

[实用新型]一种便携式低成本光谱仪-CN201920704282.1有效
发明人：张伟;冯君仪;温观钊;肖梓杰;肖颖;陈鸿佳;刘翠红 -专利权人：广州大学
申请日： 2019-05-16 - 公布日： 2019-12-20 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种便携式低成本光谱仪，该光谱仪在入光口位置通过光阑的约束以及透镜的汇聚从而使外部入射的发散光变为平行光，同时采用平面反射镜组通过反射作用使不同波长的光之间的水平位移增大，再分别经过透镜聚焦到光强度传感器上进行光强度检测，从而使分光更明显且实现同时测量，且该光谱仪所使用的部件较为常规，其成本较低，相比较市面上的光谱仪大多昂贵厚重，本实用新型的光谱仪造价便宜，且其体积较小，携带方便，适应广泛应用于日常的农业生产探测中。
光谱仪本实用新型透镜光强度传感器平面反射镜组光强度检测反射作用农业生产水平位移透镜聚焦位置通过携带方便低成本发散光平行光入光口波长分光光阑入射探测测量汇聚外部应用

[发明专利]感测图像和光源-CN201680013589.6有效
发明人： C·崔 -专利权人：微软技术许可有限责任公司
申请日： 2016-02-19 - 公布日： 2019-08-23 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本描述涉及捕捉或感测场景的彩色图像以及关于照明场景的光的类型(例如，光源)的信息。一个示例可包括表现为像素阵列的图像传感器。该示例还可包括被配置成将来自场景的图像聚焦在像素阵列上的透镜。像素阵列可包括被配置成感测图像的第一像素以及被配置成捕捉关于场景的光照的信息的第二像素。
图像光源

[实用新型]电子设备-CN201821101929.3有效
发明人：陈业旺;阮双琛;韩培刚;仇明侠;欧阳德钦;刘敏秋;陈燕平 -专利权人：深圳技术大学（筹）
申请日： 2018-07-12 - 公布日： 2019-08-02 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电子设备，涉及光学领域，该电子设备包括：多个光谱测量单元、滤波单元、功率测量单元和中央处理器。该光谱测量单元外接超连续谱光源。该滤波单元外接该超连续谱光源。该功率测量单元与该滤波单元相连。该中央处理器，与该光谱测量单元和该功率测量单元相连。该电子设备可提高测量超连续谱光源的总功率的精确度。
电子设备功率测量单元超连续谱光谱测量滤波单元光源中央处理器外接本实用新型光学领域总功率测量

[发明专利]评估环境光中的光谱贡献以及校正视场误差的系统和方法-CN201510473871.X有效
发明人： D·G·阿伦;C-W·裴;R·I·奥尔森;R·黑歇费尔内尔 -专利权人：马克西姆综合产品公司
申请日： 2015-08-05 - 公布日： 2019-06-14 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本公开内容描述了用于评估在环境光中的光谱贡献的系统、方法和设备。本公开内容还描述了用于补偿视角误差的系统、方法和设备，所述视角误差由以下因素引起：用户、环境结构(例如，建筑物、树、固定装置或地质构造)、大气效应(例如，臭氧覆盖范围、烟、浓雾、薄雾或云)、设备结构，和/或设备相对于正被测量的光源(例如，太阳、室内/室外光辐射器或至少部分反射的表面)的方向/倾斜。本公开内容还描述了用于评估光测量结果或颜色测量结果中的光谱贡献以及说明视场误差的原因以便获得精确的评估的系统、方法和设备。
评估环境中的光谱贡献以及校正视场误差系统方法

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