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[发明专利]一种大曲率微小件表面多层金属薄膜的无损检测方法-CN202110618682.2有效
发明人： 罗晋如;龚星宇;邓林;全琪;蔡吉庆;李云;王曦 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2021-06-03 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明公开一种大曲率微小件表面多层金属薄膜的无损检测方法，包括以下步骤：S1：采用同步辐射X射线微束技术对样品进行检测；S2：采用切入射方法获得表面金属膜层的衍射信号，通过转动样品，使样品与入射X射线相切，入射X射线与样品表面夹角趋近于0°，进而获得表面金属膜层的衍射信号；S3：采用掠入射方法获得中间金属膜层的衍射信号，通过转动样品，使样品中间层与入射X射线形成夹角，夹角小于5°，进而获得中间层金属薄膜镀层的衍射信号；S4：采用透射方法对衍射信号进行校准，此时转动样品，使X射线水平穿透2层复合镀层，从而获得2套衍射信号以辅助校准；采用具有高亮度的同步辐射光源和同步辐射微束技术获得微米级的空间分辨率。
一种曲率微小表面多层金属薄膜无损检测方法

[发明专利]一种ODS钢磁性粉末中纳米相的表征方法-CN202110349259.7有效
发明人：何培;孙良卫;罗晋如;姚伟志;张向东;张昌盛;柯祖斌;董嘉琳 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2021-03-31 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01N23/202 文献下载
摘要：为解决现有技术中ODS钢磁性粉末表征困难的技术问题，本发明提供一种机械合金化ODS钢磁性粉末中纳米相的表征方法，包括：在不同的散射矢量范围，对同一ODS钢磁性粉末进行中子小角散射实验，获取不同散射矢量范围的中子散射数据；将不同散射矢量范围的中子散射数据制成不同散射矢量范围的I－q曲线；将各个不同散射矢量范围的I－q曲线拼合，并通过球形结构函数对拼合后的I－q曲线进行拟合，以获取纳米相的尺度分布结果。本发明实施例为ODS钢磁性粉末中纳米相粒径分布的表征提供了一种更为简单、高效、准确的手段。
一种 ods 磁性粉末纳米表征方法

[发明专利]一种梯度变形量样品弥散强化相的检测装置及方法-CN202110539411.8有效
发明人： 罗晋如;龚星宇;邓林;王长浩;何培 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2021-05-18 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明公开一种梯度变形量样品弥散强化相的检测装置及方法，样品为梯形楔状结构，沿着长度方向样品的厚度逐渐减小，包括检测光源、固定夹具和用于成像的成像板，固定夹具用于夹合样品，固定夹具包括固定夹板、固定架和和调节螺栓，固定夹板用于对样品进行固定，固定架垂直于检测台面布置，固定夹板通过调节螺栓固定在固定架上，且使固定夹板平行于成像板；固定夹板上设置有多个检测孔，检测孔沿着固定夹板的长度方向设置，样品的长度方向和固定夹板的长度方向一致；能够对梯形楔状结构的样品进行准确的检测，方便进一步ODS相随热变形量递增的变化规律，研究热变形过程中ODS相的形成与粗化长大机制，进一步结合已有的TEM表征结果探索其演变机理。
一种梯度变形样品弥散强化检测装置方法

[发明专利]一种铈合金纳米晶层及其制备方法-CN202210653061.2有效
发明人： 罗晋如;龚星宇;邓林;徐康;耿赵文 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2022-06-09 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： C22F1/16 文献下载
摘要：本发明提供了一种铈合金纳米晶层及其制备方法，属于合金表面改性技术领域。本发明提供的铈合金纳米晶层的制备方法，包括：对铈合金进行脉冲激光表面改性处理，得到铈合金纳米晶层；所述脉冲激光表面改性处理的激光功率为25～100W，脉冲宽度为2.5～5ms，离焦量为+2mm，扫描速度为5～10mm/s，搭接率为30～70％，脉冲激光输出波形为抛物线形。实施例的结果显示，本发明提供的方法制备的铈合金纳米晶层的组织为细小马氏体组织，铈合金纳米晶层的厚度为200～600μm；铈合金纳米晶层的硬度能够达到80HV，自腐蚀电位为‑1.25～‑1.28V，自腐蚀电流密度约为‑4.64～‑4.75A·cm3。
一种合金纳米及其制备方法

[发明专利]一种能有效减少焊接孔洞的激光焊接B4-CN202110270251.1有效
发明人：李云江;张鹏程;乐国敏;罗晋如;庞晓轩 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2021-03-12 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： B23K26/24 文献下载
摘要：本发明公开一种能有效减少焊接孔洞的激光深熔焊接B4C/Al复合材料的方法，在光纤激光器的焊机上增加同步送粉设备，将同步送粉设备的送粉喷嘴固定在焊机的焊接激光头上，焊接时，调整激光功率和焊接速度使线能量密度超过深熔焊的阀值，同时采用同步送粉方式对焊件进行激光焊接，粉料选用与基体成分一致的球形纯铝粉。该方法能有效的减少焊后区域的孔洞，且具有简单、高效的特点，易于工业实现。
一种有效减少焊接孔洞激光 base sub

[发明专利]一种耐蚀锆基非晶合金复合材料涂层的制备方法-CN202110243470.0有效
发明人：刘学;李晋锋;乐国敏;罗晋如;季亚奇;杨晓珊;周昱昭;王斗 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2021-03-05 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： C23C24/10 文献下载
摘要：本发明属于材料科学与工程领域，特别涉及一种耐蚀锆基非晶合金复合材料涂层的制备方法。通过气雾化制粉技术制备获得Zr50.4Cu28Ni9Al12.3非晶合金球形预合金粉体，将SiC纳米粉均匀包覆在球形预合金粉体表面，在激光熔熔覆过程中使SiC和合金发生原位反应析出强化相，实现了高非晶相含量的复合涂层制备，获得了优异的耐蚀性能，为耐蚀锆基非晶合金复合材料涂层的制备提供了新的技术途径。本发明提出的耐蚀Zr基非晶合金复合材料涂层的制备方法，可有效实现高非晶含量的复合涂层制备，获得优异的耐蚀性能，具有适用范围广、成本低廉的特点。
一种耐蚀锆基非晶合金复合材料涂层制备方法

[发明专利]氢化脱氢钛粉的激光熔化沉积方法-CN201911201359.4有效
发明人：李晋锋;黄留飞;乐国敏;刘学;罗晋如;刘政豪 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2019-11-29 - 公布日： 2021-11-23 - 主分类号： B22F10/28 文献下载
摘要：本发明涉及金属材料激光成型技术领域，提供了一种氢化脱氢钛粉的激光熔化沉积方法，包括以下步骤：选择不规则状的氢化脱氢钛粉为原料，将原料粉末进行球化处理；将经过球化处理后的粉末进行筛分，将筛分后的粉末放入真空干燥箱干燥；设定激光熔化沉积工艺参数和激光扫描路径；根据设定的激光熔化沉积工艺参数和扫描路径，在惰性气体的保护下，粉末逐层熔化沉积在成形基板上，制备出钛部件。本发明可以根据需求设定不同的激光扫描路径，进而生产出不同形状的钛部件；通过特定的激光熔化沉积工艺参数，可制备出微观组织均匀和力学性能优异的钛部件。
氢化脱氢激光熔化沉积方法

[发明专利]一种陶瓷增强合金中纳米陶瓷相的高通量优选方法-CN202110566584.9在审
发明人： 罗晋如;龚星宇;董武梅;王长浩;邓林 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2021-05-24 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： B22F10/28 文献下载
摘要：本发明公开一种陶瓷增强合金中纳米陶瓷相的高通量优选方法，包括以下步骤：S1：将不锈钢基底粉末分别与不同成分和配比的纳米粉体机械混合制备多种混合粉末；S2：采用激光熔覆法将多种混合粉末按成分梯度分区打印成板状单臂样品；S3：将单臂样品切割成楔形结构，经高温保温处理后使用普通热辊轧机进行单道次平轧，获得不同变形量条件下的厚度一致的轧制板材；S4：采用网格逐点打硬度的方法对样品不同成分部分在不同变形量处的强化程度进行评估；通过制备具有梯度成分的坯料，并联用楔形轧制法制备同时具有成分和变形量梯度的样品板材，采用逐点硬度法筛选维氏硬度值最高的合金成分与变形量，有助于陶瓷相增强合金中增强相的快速优选。
一种陶瓷增强合金纳米通量优选方法

[发明专利]一种高强韧ODS钢的高通量制备与成分工艺优选方法-CN202110405221.7在审
发明人： 罗晋如;何培;王长浩;邓林;张鹏程 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2021-04-15 - 公布日： 2021-10-08 - 主分类号： B22F9/08 文献下载
摘要：本发明公开一种高强韧ODS钢的高通量制备与成分工艺优选方法，包括以下步骤：S1：通过机器学习方法对现有的高通量成分进行筛选，确定出基体合金成分的优选范围；S2：在优选范围内选择需要制备样品的成分，通过雾化制粉法制备基体合金成分的预合金粉末；S3：将制备得到的预合金粉末与Y2O3粉末通过高能球磨机混合均匀制得球磨粉末；S4：对制备得到的球磨粉末进行包套抽气制备得到粉坯；S5：重复步骤S2‑S4，选取不同成分进行制备，并制得不同成分下的ODS钢粉末包套样品；S6：将不同成分ODS钢粉末包套样品进行热等静压同步烧结，制得不同成分下的坯料；S7：将坯料样品切割成楔形板材，对楔形板材经过高温保温处理后进行单道次平轧，制备厚度相同的轧制板材。
一种强韧 ods 通量制备成分工艺优选方法

[发明专利]铜铁合金、铜铁合金微纳米复合多孔材料及其制备方法-CN202010031376.4有效
发明人：刘学;赵玲;陈天雄;李晋锋;乐国敏;王斗;周昱昭;杨晓珊;罗晋如;刘政豪;张玮;王小英 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2020-01-13 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： C22C1/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种新型的铜铁合金、铜铁合金微纳米复合多孔材料及其制备方法，属于材料科学与工程领域技术领域。本发明所述铜铁合金中含有Cu、Fe和金属M，Cu与Fe原子数量比为25～75:25～75；所述铜铁合金的结构为富Cu骨架包裹富Fe相分离枝晶；所述铜铁合金中金属M的含量为0～60at.％，其余为Cu、Fe和不可避免的杂质；所述金属M为Mn、Cr、或Si中的任意一种。本发明的新型铜铁合金具有二次相分离结构，具有优异的磁学、力学及电学性能。还能够腐蚀得到微米、纳米复合多孔结构的铜铁合金微纳米复合多孔材料，该结构的铜铁合金微纳米复合多孔材料表面浸润性能够通过腐蚀时间进行有效调控。
铁合金纳米复合多孔材料及其制备方法

[发明专利]双源能量分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置-CN202010330007.5在审
发明人：蔡吉庆;张鹏程;邓俊;李云;罗晋如;马策;陈力;王欢;陈镐 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2020-04-24 - 公布日： 2020-07-17 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明公开了一种双源能量分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，包括第一X射线源、第一准直器、第二X射线源、样品运动评台、第一探测器、第二准直器、第二探测器和计算机控制系统。本发明通过合理的结构及流程设计，将X射线衍射分析技术与计算机断层成像技术相结合，并利用硬件结构和信息数据耦合的方式，在一套装置上同时实现了衍射分析与计算机断层成像的功能，如此不仅拓展了现有技术的应用场景，更加灵活、全面地满足了实际应用的需求；而且通过上述方式，本发明能够实现材料内部夹杂物或第二相的原位物相分析以及颗粒相的分布均匀性检测，进而解决均匀物质中的夹杂物原位物相分析及多相材料中特定区域的物相分析等检测难题。
能量分辨射线衍射分析断层成像耦合装置

[发明专利]单源角度分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置-CN202010330054.X在审
发明人：张鹏程;蔡吉庆;王欢;陈力;陈镐;马策;李云;罗晋如 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2020-04-24 - 公布日： 2020-07-07 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明公开了一种单源角度分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，包括用于发射X射线的X射线源、第一准直器、测角仪、样品放置台、第二准直器、第一探测器、第二探测器和计算机控制系统。本发明通过合理的结构及流程设计，将X射线衍射分析技术与计算机断层成像技术相结合，并利用硬件结构和信息数据耦合的方式，在一套装置上同时实现了衍射分析与计算机断层成像的功能，如此不仅拓展了现有技术的应用场景，更加灵活、全面地满足了实际应用的需求；而且通过上述方式，本发明能够实现材料内部夹杂物或第二相的原位物相分析以及颗粒相的分布均匀性检测，进而解决均匀物质中的夹杂物原位物相分析及多相材料中特定区域的物相分析等检测难题。
角度分辨射线衍射分析断层成像耦合装置

[发明专利]单源能量分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置-CN202010330073.2在审
发明人：蔡吉庆;马策;李云;张鹏程;陈力;罗晋如;谈笑 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2020-04-24 - 公布日： 2020-07-07 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明公开了一种单源能量分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，包括X射线源、第一准直器、样品运动平台、第二准直器、第一探测器、第二探测器和计算机控制系统。本发明通过合理的结构及流程设计，将X射线衍射分析技术与计算机断层成像技术相结合，并利用硬件结构和信息数据耦合的方式，在一套装置上同时实现了衍射分析与计算机断层成像的功能，如此不仅拓展了现有技术的应用场景，更加灵活、全面地满足了实际应用的需求；而且通过上述方式，本发明能够实现材料内部夹杂物或第二相的原位物相分析以及颗粒相的分布均匀性检测，进而解决均匀物质中的夹杂物原位物相分析及多相材料中特定区域的物相分析等检测难题，因此本发明适于推广。
能量分辨射线衍射分析断层成像耦合装置

[发明专利]单源面探测器式X射线衍射分析与断层成像耦合装置-CN202010330053.5在审
发明人：蔡吉庆;王欢;罗晋如;陈镐;李云;邓俊;唐涛;王鹍;张鹏程 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2020-04-24 - 公布日： 2020-07-07 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明公开了一种单源面探测器式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，包括依次分布的X射线源、准直器、样品运动平台、光束阻挡器、探测器和计算机控制系统。本发明通过合理的结构及流程设计，将X射线衍射分析技术与计算机断层成像技术相结合，并利用硬件结构和信息数据耦合的方式，在一套装置上同时实现了衍射分析与计算机断层成像的功能，如此不仅拓展了现有技术的应用场景，更加灵活、全面地满足了实际应用的需求；而且通过上述方式，本发明能够实现材料内部夹杂物或第二相的原位物相分析以及颗粒相的分布均匀性检测，进而解决均匀物质中的夹杂物原位物相分析及多相材料中特定区域的物相分析等检测难题，因此本发明适于推广。
单源面探测器射线衍射分析断层成像耦合装置

[发明专利]一种晶体衍射信号获取方法-CN201710952341.2在审
发明人：窦作勇;张鹏程;马策;陈力;罗晋如;谈笑;李云;王旻;董平 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2017-10-13 - 公布日： 2018-02-16 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明提供一种晶体衍射信号获取方法，通过采用W靶X射线管，并用铅块屏蔽透射X射线，并加装滤波片减少干扰，可在面探测器上获得清晰的衍射图像。本发明方法可穿透3mm厚的铁，40mm厚的铝，快速获得晶体材料从表层到内部的衍射信号，有利于材料内部的物相、织构和应力分析。
一种晶体衍射信号获取方法

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