专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果35个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]扫描式哈特曼像质检测系统和方法-CN202211725620.2在审
  • 张为国;杨伟斌;熊欣;高明友;杜春雷 - 珠海迈时光电科技有限公司
  • 2022-12-30 - 2023-04-07 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种扫描式哈特曼像质检测系统和方法,涉及光学检测技术领域。扫描式哈特曼像质检测系统包括沿光路传播方向依次设置的激光器、可变光阑、待测镜头、扩束镜和哈特曼传感器,还包括数据采集卡、移动机构和上位机;数据采集卡用于采集哈特曼传感器的检测信号并发送至上位机进行处理;移动机构用于根据上位机的控制指令,控制哈特曼传感器进行旋转或者平移;其中,哈特曼传感器包括间隔设置且固定连接的线阵微透镜阵列和线阵探测器。根据本发明实施例的扫描式哈特曼像质检测系统,通过采用线阵探测器,并结合旋转平移的方式发挥其成像较长的优点,在光学检测时能够增大视场,且相对面阵探测器而言价格较低,在一定程度上降低检测成本。
  • 扫描式哈特曼像质检系统方法
  • [发明专利]一种金属偏振分光器-CN202211543284.X在审
  • 夏良平;张满;王乡;涂红;杜春雷;山程 - 珠海迈时光电科技有限公司;长江师范学院
  • 2022-12-03 - 2023-03-07 - G02B27/28
  • 本发明提供了一种金属偏振分光器,该器件由梳状的绝缘介质支撑的顶部金属‑介质‑金属和梳状绝艳介质底部的金属‑介质‑金属构成,梳状绝缘介质成规则的周期或随机排列。当波长远大于梳状绝缘介质宽度的入射光照射到该器件时,偏振方向与梳状分布方向垂直时,光波将被透射,入射光偏振方向与梳状分布方向平行时,光波将被反射,从而获得偏振分光效果。本发明采用梳状介质和金属结合形成偏振分光器件,结构层厚度薄,不仅分光后获得光束的偏振度高,而且客服了传统分光棱镜体积庞大、不利于集成的问题。
  • 一种金属偏振分光
  • [发明专利]匀光片-CN202010200190.7有效
  • 夏良平;王乡 - 珠海迈时光电科技有限公司
  • 2020-03-20 - 2023-02-10 - G02B27/09
  • 本发明公开了一种匀光片,包括多个微透镜,至少一个所述微透镜包括交替叠加的折射型曲面和衍射型台阶结构。当激光入射到该匀光片上时,入射光被微透镜分割,并通过微透镜折射型曲面的发散作用在远场形成发散的光斑,同时通过微透镜表面的衍射型台阶结构调节发散光斑的均匀性和边界截止性,可以提升远场匀化光斑的形状控制能力、能量分布均匀性以及边界截止性,同时避免零级衍射。客服了传统的衍射型匀光结构中零级衍射对结构深度的敏感性和大角度匀光问题,同时克服了传统的折射型匀光结构中光斑均匀性不足和边界截止性差的问题。
  • 匀光片
  • [发明专利]激光分束器-CN202010410274.3有效
  • 夏良平;王乡 - 珠海迈时光电科技有限公司
  • 2020-05-15 - 2022-08-23 - G02B27/09
  • 本发明公开了一种激光分束器,包括若干阵列排布的头冠形结构,所述头冠形结构包括连续的样条曲面以及以所述样条曲面的质心对称设置的两个陡直的峭壁。本发明克服了传统二元台阶型衍射光学器件仅能利用第一级衍射,导致衍射角度受特征尺寸的限制,采用微小的三维头冠面型结构阵列,利用其产生的多个衍射级次组成激光分束图案,不仅衍射器件的角度大,而且大幅降低了结构面型的特征尺寸,另一方面头冠面型的三维分布使激光分束能量均匀性好,并且中央零级能量对结构的深度误差不敏感,相对于传统二元衍射器件,其结构加工容差更大。
  • 激光分束器
  • [发明专利]宽光谱干涉显微测量方法、装置、电子设备及介质-CN202210160959.6在审
  • 张为国;孙艳林;熊欣;邓晓洲;杜春雷 - 珠海迈时光电科技有限公司
  • 2022-02-22 - 2022-06-10 - G01B11/24
  • 本发明提供一种宽光谱干涉显微测量方法、装置、电子设备及介质,该宽光谱干涉显微测量方法包括:获取待测样品的干涉图;确定干涉图的调制度,通过调制度标识干涉图的第一区域,第一区域用于表征符合设定阈值的相位展开区域;对第一区域执行相位展开,得到干涉图多个焦面的真实相位图;对多个焦面的真实相位图相位拼接,得到干涉图的相位分布;根据相位分布确定待测样品的表面高度分布。本发明的有益效果为:以干涉条纹调制度量化条纹质量,以相位展开方法获得在设定区域的样品高度分布;将不同焦面位置获取的样品高度进行拼接,可获得扩展量程的高精度形貌测量结果,适用用于高精度、大量程宽光谱干涉显微测量。
  • 光谱干涉显微测量方法装置电子设备介质

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top