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[发明专利]有源配电网有计划孤岛时分布式馈线自动化供电恢复方法-CN202210935585.0在审
发明人：蔡伟程;王璇;李晔;莫骏;王豫;何天文;蒲华;冯林浩;杨书佺;孙司予;杨雄;黄立纯;张冰;成涛;邹雪俐 -专利权人：四川电力设计咨询有限责任公司
申请日： 2022-08-04 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： H02J3/00 文献下载
摘要：本发明涉及有源配电网馈线自动化技术。本发明是要解决有源配电网孤岛运行情况下的无法直接使用传统的配电网馈线自动化系统及供电恢复方法的问题，提供了一种有源配电网有计划孤岛时分布式馈线自动化供电恢复方法，其技术方案可概括为：在变电站10kV出线开关及各组环网的智能终端单元中分别设置过电流检测元件，并在每一个节点中预存上下游关系信息表及各线路短路电流判据，由节点自行判断线路故障，且在线路故障后自行查找DG节点及联络开关节点等，启动计划孤岛运行，各故障区段下游的联络开关节点自动恢复能够恢复的各节点。本发明的有益效果是，自动化处理，可适配具有计划孤岛的分布式馈线的有源配电网，适用于分布式馈线的有源配电网。
有源配电网有计划孤岛时分馈线自动化供电恢复方法

[发明专利]线路纵联保护装置-CN201811382458.2有效
发明人：蔡伟程;王豫;杨书佺 -专利权人：四川电力设计咨询有限责任公司
申请日： 2018-11-20 - 公布日： 2020-06-09 - 主分类号： H02H7/26 文献下载
摘要：本发明涉及纵联保护技术领域，提供了一种线路纵联保护装置，包括第一继电保护装置和第二继电保护装置；还包括第一切换装置、第二切换装置、第一信号传输装置Ⅰ、第一信号传输装置Ⅱ、第二信号传输装置Ⅰ、第二信号传输装置Ⅱ、信号传输通道Ⅰ、信号传输通道Ⅱ、第一变电站自动化系统、第二变电站自动化系统、第一电源和第二电源、调度中心自动化系统。本发明所述的线路纵联保护装置，通过在输电线路两端配置切换装置实现单套纵联保护装置与两套信号传输通道连接，通过实时监控两套信号传输通道的质量，对信号传输通道进行自动选择，提高了整个装置的可靠性。
线路联保装置

[实用新型]用于高温环境下光电模块性能测试的外部测试板-CN201320355658.5有效
发明人：黄宏光;张华;李旻;彭昌睿;顾益双;杨书佺 -专利权人：四川电力科学研究院;四川大学
申请日： 2013-06-20 - 公布日： 2014-01-15 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了用于高温环境下光电模块性能测试的外部测试板，包括PCB电路安装板，还包括设置在PCB电路安装板上的I2C总线多路复用器、模拟多路复用器、DSP，I2C总线多路复用器的输入端与内部测试板通信连接，模拟多路复用器的输入端与内部测试板连接，I2C总线多路复用器的输出端与DSP连接，模拟多路复用器与DSP连接，DSP的输出端与电平转换芯片连接。本实用新型采集直接测试光电模块而不是将LED剥离后单独测试，从整体上避免了以LED寿命代替光电模块寿命的问题，使得光电模块的寿命更加真实、可靠。
用于高温环境光电模块性能测试外部

[实用新型]用于高温环境下光电模块性能测试的内部测试板-CN201320355659.X有效
发明人：刘明忠;黄宏光;李旻;杨书佺;张茜 -专利权人：四川电力科学研究院;四川大学
申请日： 2013-06-20 - 公布日： 2014-01-15 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公布了用于高温环境下光电模块性能测试的内部测试板，包括有n个SFP插座，n为大于1的自然数，n个SFP插座同时分别与I2C总线多路复用器、模拟多路复用器连接，I2C总线多路复用器、模拟多路复用器均与数字信号处理器连接，数字信号处理器的输出端连接至电平转换芯片，电平转换芯片的输出端通过串口连接至上位机。本实用新型采集直接测试光电模块而不是将LED剥离后单独测试，从整体上避免了以LED寿命代替光电模块寿命的问题，使得光电模块的寿命更加真实、可靠。
用于高温环境光电模块性能测试内部

[发明专利]高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法-CN201310246502.8有效
发明人：舒勤;姜振超;李旻;杨书佺;黄宏光;顾益双 -专利权人：四川电力科学研究院;四川大学
申请日： 2013-06-20 - 公布日： 2013-09-11 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公布了高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法，包括高温烤箱，在高温烤箱内安装有内部测试板，还包括外部测试板，内部测试板与外部测试板连接，外部测试板的输出端传输至计算机。本发明直接对整个光电模块进行加温实验，采集光电模块的5个关键参数在温度变化下的采样数据，对采样数据利用阿伦尼斯模型进行计算，从而评估光电模块在正常情况下的寿命；且不需要剥离出LED即可进行测试，方便实验的成规模应用；最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值，在此温度上进行实验，其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间，测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右，极大地缩短了测试时间。
高温环境光电模块性能测试装置方法

[发明专利]LED加速老化试验最佳测试温度的确定方法-CN201310246505.1有效
发明人：姜振超;舒勤;顾益双;黄宏光;杨书佺 -专利权人：四川电力科学研究院;四川大学
申请日： 2013-06-20 - 公布日： 2013-09-11 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公布了LED加速老化试验最佳测试温度的确定方法，包括（A）实施光模块变温实验，测量并得到工作电流与温度的关系曲线，并拟合成数学函数；（B）得到使加速因子取最大值的测试温度满足的方程；（C）将步骤(A)得到的数学函数带入步骤（B）给出的方程，得到最佳测试温度和相应的测试时间。本发明最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值，在此温度上进行实验，其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间，测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右，极大地缩短了测试时间。
led 加速老化试验最佳测试温度确定方法