专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体存储器设备-CN202211434724.8在审
  • 朴楢珍;李南宰;崔殷硕 - 爱思开海力士有限公司
  • 2022-11-16 - 2023-09-29 - H10B43/50
  • 本公开内容提供了一种半导体存储器设备。该半导体存储器设备包括:外围电路结构,在半导体衬底上;导电线,连接到外围电路结构;外围电路侧键合导电图案,连接到导电线;外围电路侧辅助键合导电图案,与外围电路侧键合导电图案间隔开;单元阵列侧键合导电图案,与外围电路侧键合导电图案接触;单元阵列侧辅助键合导电图案,与外围电路侧辅助键合导电图案接触;以及存储器单元阵列,连接到单元阵列侧键合导电图案。
  • 半导体存储器设备
  • [发明专利]半导体器件及其制造方法-CN201910429018.6有效
  • 李南宰 - 爱思开海力士有限公司
  • 2014-10-15 - 2023-09-15 - H01L23/522
  • 一种半导体器件可以包括:层间绝缘层,沿着第一方向层叠且彼此分隔开;字线,形成在所述层间绝缘层之间;牺牲绝缘层,形成在所述层间绝缘层之间使得所述牺牲绝缘层布置在形成有字线的层。所述半导体器件还可以包括单元接触插塞,所述单元接触插塞中的每个包括沿着所述第一方向穿通所述层间绝缘层和所述牺牲绝缘层中的至少一个的第一柱部,和从所述第一柱部的侧壁突出且接触所述字线中的一个的侧壁的第一突出部,其中,所述单元接触插塞具有不同深度。
  • 半导体器件及其制造方法
  • [发明专利]半导体器件及其制造方法-CN201810324131.3有效
  • 李南宰 - 爱思开海力士有限公司
  • 2018-04-11 - 2023-07-21 - H10B41/27
  • 半导体器件及其制造方法。可以提供半导体器件和制造半导体器件的方法。所述半导体器件可以包括形成在基板上方的源线。所述半导体器件可以包括沟道图案,所述沟道图案包括设置在所述源线上方的连接部和沿着第一方向从所述连接部突出的柱部。所述半导体器件可以包括阱结构,所述阱结构沿着所述第一方向从所述连接部突出并且与所述源线分隔开。所述半导体器件可以包括源接触结构,所述源接触结构沿着所述第一方向从所述源线突出并且穿过所述连接部。所述半导体器件可以包括栅极堆叠物,所述栅极堆叠物设置在所述源接触结构和所述阱结构之间并且包围所述连接部上方的所述柱部。
  • 半导体器件及其制造方法
  • [发明专利]包括混合布线接合结构的层叠封装件-CN201910971817.6有效
  • 李南宰 - 爱思开海力士有限公司
  • 2019-10-14 - 2023-04-18 - H01L23/488
  • 包括混合布线接合结构的层叠封装件。一种层叠封装件包括层叠在封装基板上的第一子芯片层叠物和第二子芯片层叠物以及接合布线。第一子芯片层叠物包括第一子芯片和第二子芯片。第一子芯片具有其上设置有第一公共焊盘的第一表面。第二子芯片具有其上设置有第二公共焊盘的第三表面。第三表面接合至第一表面,以使得第二公共焊盘接合至第一公共焊盘。第二子芯片包括与第二公共焊盘相对的第四表面以及从第四表面延伸以使第二公共焊盘露出的通孔。接合布线经由通孔连接至第二公共焊盘并且将第一公共焊盘和第二公共焊盘二者电连接至封装基板。
  • 包括混合布线接合结构层叠封装
  • [发明专利]半导体存储器装置及其制造方法-CN202111676107.4在审
  • 李南宰;曹明宽 - 爱思开海力士有限公司
  • 2021-12-31 - 2022-10-18 - H01L27/11582
  • 本申请涉及半导体存储器装置及其制造方法。本文可以提供一种半导体存储器装置和制造该半导体存储器装置的方法。该半导体存储器装置包括:具有互补金属氧化物半导体(CMOS)电路的基板;栅极层叠体,其具有在垂直方向上交替地层叠在基板上的层间绝缘层和导电图案;多个沟道结构,其穿过栅极层叠体,每个沟道结构具有突出到栅极层叠体上方的第一端部;以及多个导电层,其设置在栅极层叠体上方。多个导电层中的每一个与所述沟道结构中的至少一个的第一端部接触。
  • 半导体存储器装置及其制造方法
  • [发明专利]半导体装置和制造半导体装置的方法-CN202110835730.3在审
  • 吴在永;李南宰 - 爱思开海力士有限公司
  • 2021-07-23 - 2022-06-17 - H01L23/538
  • 本申请涉及半导体装置和制造半导体装置的方法。提供了一种半导体存储器装置和制造半导体存储器装置的方法。该半导体存储器装置包括:导电图案;在导电图案上的蚀刻停止层;导电结合图案,其包括连接到导电图案的接触部分以及从接触部分延伸的焊盘部分;第一介电层,其设置在蚀刻停止层上并且与导电结合图案间隔开;以及第二介电层,其包括第一部分和第二部分,第一部分围绕导电结合图案的焊盘部分与蚀刻停止层之间的、导电结合图案的接触部分的侧壁,第二部分从第一部分延伸以覆盖第一介电层的上表面。
  • 半导体装置制造方法
  • [发明专利]半导体存储器装置及该半导体存储器装置的制造方法-CN202110843071.8在审
  • 李南宰 - 爱思开海力士有限公司
  • 2021-07-26 - 2022-06-14 - H01L27/11521
  • 提供了一种半导体存储器装置及该半导体存储器装置的制造方法。该半导体存储器装置包括:外围电路结构,其具有页缓冲器组;网状的第一源极图案,其设置在外围电路结构上,该网状的第一源极图案具有多个开口;存储器单元阵列,其设置在网状的第一源极图案上;第二源极图案,其设置于网状的第一源极图案与存储器单元阵列之间;以及单元阵列侧焊盘图案,其设置在网状的第一源极图案与第二源极图案之间,从第二源极图案朝向网状的第一源极图案延伸,该单元阵列侧焊盘图案直接接合至网状的第一源极图案。
  • 半导体存储器装置制造方法

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