专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种半导体发光二极管的表面缺陷检测方法及系统-CN202310812771.X在审
  • 朱礼贵;陈维伟 - 日照鲁光电子科技有限公司
  • 2023-07-05 - 2023-09-15 - G06T7/00
  • 本申请涉及表面缺陷检测技术领域,提供一种半导体发光二极管的表面缺陷检测方法及系统。所述方法包括:对表面检测图像信息集合进行图像预处理,并通过注意力机制约束模块对预处理后的标准表面检测图像信息集合进行处理,获得表面检测前景特征图像集合,进一步对其进行语义分割,并根据语义分割结果获得表面结构分布检测因素;对表面检测前景特征图像集合进行边缘轮廓识别,按照表面检测图像轮廓识别结果与语义分割结果进行匹配,根据匹配结果生成表面瑕疵检测因素;基于表面结构分布检测因素和表面瑕疵检测因素,确定二极管表面缺陷检测结果。采用本方法能够达到保证表面缺陷检测全面性和精确性,同时提高缺陷检测识别处理效率的技术效果。
  • 一种半导体发光二极管表面缺陷检测方法系统
  • [发明专利]一种半导体材料的表面钝化方法-CN202310965774.7在审
  • 朱礼贵;侯玉军 - 深圳市鲁光电子科技有限公司
  • 2023-08-02 - 2023-08-29 - H01L21/56
  • 本申请涉及半导体钝化的技术领域,更具体地说,它涉及一种半导体材料的表面钝化方法。一种半导体材料的表面钝化方法,包括以下步骤:预处理:清洗、除杂;一次钝化处理:通过氧化剂水溶液在硅片基材上形成Si02钝化层;二次钝化处理:将Al2O3复合材料进行混合烧结制成靶材,再利用溅射法在Si02钝化层‑硅片基材上形成Al2O3钝化层;三次钝化处理:将Al2O3钝化层‑Si02钝化层‑硅片基材置于PE‑CVD沉积系统的腔体内,随后进行抽真空处理,之后通入反应气体SiH4及NH3进行沉积处理,之后快速热处理得到Si3N4钝化层‑Al2O3钝化层‑Si02钝化层‑硅片基材。本申请的半导体材料的表面钝化方法可以促使钝化层具有更为优良的致密性、相容性、兼容性,从而增加该钝化层的使用时长。
  • 一种半导体材料表面钝化方法
  • [发明专利]一种第三代半导体精密加工装置-CN202310697298.5有效
  • 朱礼贵;侯玉军 - 深圳市鲁光电子科技有限公司
  • 2023-06-13 - 2023-08-29 - B24B29/02
  • 本发明涉及第三代半导体加工领域,其公开了一种第三代半导体精密加工装置,包括机架,机架上安装有抛光装置,抛光装置包括壳体组,壳体组内设置有悬浮机构与驱动机构,悬浮机构用于接收晶圆并牵引晶圆沿竖直方向发生移动或牵引晶圆旋转,抛光过程中,悬浮机构保持悬浮,驱动机构用于通过磁力耦合方式朝悬浮机构输出动力,本发明中,通过高压气源提供的高压气体,使悬浮机构带着晶圆上移悬空,进而使晶圆自适应抛光垫而与抛光垫完全贴合,抛光过程中,晶圆悬浮且驱动机构与旋转轴之间依靠磁力耦合实现动力传递,大大降低了驱动机构运行产生的振动对抛光过程产生的影响,晶圆与抛光垫之间的抛光压力分布均衡。
  • 一种第三代半导体精密加工装置
  • [发明专利]一种碳化硅晶圆的质量智能检测方法及系统-CN202310778180.5在审
  • 朱礼贵;张其玲 - 日照鲁光电子科技有限公司
  • 2023-06-29 - 2023-08-25 - G06T7/00
  • 本发明涉及智能监测技术领域,提供了一种碳化硅晶圆的质量智能检测方法及系统,方法包括:连接定位载台,定位完成采集图像采集结果;构建基础比对特征集合,对图像采集结果进行特征比对,确定异常区域;扫描异常区域,获得异常区域图像采集结果;采集同类型晶圆的异常特征,分类标识并构建异常特征识别模型;将异常区域图像采集结果输入异常特征识别模型,初始识别,调用异常特征集合,对异常区域图像采集结果执行异常特征匹配,输出异常检测结果,解决了碳化硅晶圆的缺陷检测效率低技术问题,实现了自动进行碳化硅晶圆的缺陷检测,提高缺陷检测效率的技术效果。
  • 一种碳化硅质量智能检测方法系统
  • [发明专利]一种氮化镓功率器件的封装设备-CN202310917900.1在审
  • 朱礼贵;侯玉军 - 深圳市鲁光电子科技有限公司
  • 2023-07-25 - 2023-08-22 - H01L21/67
  • 本发明属于芯片封装技术领域,尤其是涉及一种氮化镓功率器件的封装设备,包括放置架,所述放置架的下方设有第一传送带,所述放置架的上侧壁固定连接有胶箱,所述胶箱的左侧壁固定连接有蠕动泵,所述蠕动泵的进料端和胶箱的侧壁固定连通,所述蠕动泵的出料端通过弹性管固定连通有注胶头,所述注胶头的外壁套设有检测机构,所述放置架的上侧内壁固定连接有微型电动推杆。本发明能够在将灌封胶注入氮化镓功率器件后,可以自动检测灌封胶内是否残留有气泡,然后对含有气泡的氮化镓功率器件进行除气泡工作,从而避免灌封胶内含有气泡,会影响氮化镓功率器后续使用的可靠性和质量。
  • 一种氮化功率器件封装设备
  • [发明专利]一种基于生产数据的二极管性能预测方法及系统-CN202310593528.3有效
  • 朱礼贵;侯玉军 - 日照鲁光电子科技有限公司
  • 2023-05-25 - 2023-08-04 - G06Q10/063
  • 本发明提供了一种基于生产数据的二极管性能预测方法及系统,涉及智能分析技术领域,采集多个生产节点对应的多组生产数据集,基于目标二极管在所处电路的性能属性信息,确定多个生产节点的预设质量指标,进行生产节点关联性分析,得到生产线拓扑结构并进行相关节点标识,输出标识节点网络,调用各个标识节点的标识生产数据集输入性能预测模型,输出性能预测结果,解决了现有技术中对于二极管的性能预测方法智能度不足,分析深度与严谨度不足,且与应用实况的结合度不足,导致预测结果不够精准,较之实际应用存在偏差的技术问题,基于生产工艺进行逐节点分析,建模进行综合性影响评估,保障预测结果的精准度,提高电路适配度。
  • 一种基于生产数据二极管性能预测方法系统
  • [发明专利]一种碳化硅MOSFET制备用蚀刻装置-CN202310734958.2在审
  • 朱礼贵;侯玉军 - 深圳市鲁光电子科技有限公司
  • 2023-06-20 - 2023-07-28 - H01L21/67
  • 本发明涉及第三代半导体的晶圆加工领域,其公开了一种碳化硅MOSFET制备用蚀刻装置,其包括机架,机架上安装有底壳,底壳的上开口端安装有保温壳,底壳内设置有用于承托待蚀刻晶圆的承托机构,保温壳内安装有用于对晶圆进行蚀刻的蚀刻装置,蚀刻装置先对晶圆上表面进行蚀刻液涂刷,刻蚀出凹槽,后往复朝凹槽内注入蚀刻液,并且蚀刻液涂刷以及朝凹槽内注入蚀刻液的过程中,蚀刻装置的移动方向保持相同,本发明能够使蚀刻液直接与凹槽的槽底接触,降低蚀刻液与凹槽的槽壁接触,解决了背景技术中提到的“湿法蚀刻最终得到的蚀刻区域的宽度要比计划的蚀刻区域的宽度大,蚀刻结果的精度受到影响”的问题。
  • 一种碳化硅mosfet制备蚀刻装置
  • [发明专利]一种二极管制备控制优化方法及系统-CN202310677486.1在审
  • 朱礼贵;李洋 - 日照鲁光电子科技有限公司
  • 2023-06-09 - 2023-07-14 - G06Q10/04
  • 本发明公开了一种二极管制备控制优化方法及系统,涉及生产控制领域,其中,所述方法包括:分析目标二极管的生产制备工艺中M个工艺步骤的生产难度,获得M个生产难度参数;获得M个关联度参数,结合M个生产难度参数,获得M个工艺步骤的综合关键值,并选取N个关键步骤;获得N个工艺参数区间;基于N个工艺参数区间,获得N个待寻优工艺参数集,分别在N个待寻优工艺参数集中进行寻优,获得N个最优关键工艺参数,对生产制备工艺进行控制优化。解决了现有技术中二极管的生产制备工艺精准性低,进而造成二极管的生产质量不高的技术问题。达到了提高二极管的生产制备工艺精准性,提升二极管的生产质量的技术效果。
  • 一种二极管制备控制优化方法系统
  • [实用新型]一种CVT变速器的齿形带轮、钢带传动机构-CN202222106073.1有效
  • 朱礼贵;王庆宇;杨瀚清 - 哈尔滨剑桥学院
  • 2022-08-11 - 2023-07-07 - F16H9/16
  • 本实用新型公开了一种CVT变速器的齿形带轮、钢带传动机构,涉及汽车变速器的技术领域,解决了CVT变速器依靠摩擦力来传递动力,耐久性不好,磨损严重的问题,包括:输入系统、输出系统和钢带传动片,输入系统的第一滚轮和输出系统的第二滚轮通过钢带传动片传动连接,本实用新型中,主动圆锥齿形带轮左轮、主动圆锥齿形带轮右轮、从动圆锥齿形带轮左轮和从动圆锥齿形带轮右轮均选用圆锥齿轮,在推动主动圆锥齿形带轮左轮和主动圆锥齿形带轮右轮的间距及从动圆锥齿形带轮左轮和从动圆锥齿形带轮右轮的间距的过程中能够保证钢带传动片和圆锥齿轮的啮合,保证了动力传输的稳定,有效降低了由于摩擦造成的磨损,增加了CVT变速器的使用寿命。
  • 一种cvt变速器齿形传动机构
  • [发明专利]一种二极管器件自测试装置-CN202310283361.0有效
  • 朱礼贵;侯玉军 - 深圳市鲁光电子科技有限公司
  • 2023-03-22 - 2023-06-13 - G01R1/04
  • 本发明涉及一种二极管器件自测试装置,涉及二极管器件测试的技术领域;包括测试基柱,测试基柱的内侧固定连接有对二极管器件进行测试的测试基板,测试基板上开设有通过倒置的方式安装二极管的放置圆孔,测试基板的后侧端铰接有通电连接罩,测试基板的下方安装有上下滑移安装在检测基柱内侧壁上的密封框,通电连接罩的内部设置有触点连接组件,测试基板的下方设置有对二极管光源进行密闭测试的密闭组件,本发明能够避免外界环境对二极管的亮度操作影响,提高二极管亮度测试的效率;其次本发明还能够对二极管进行位置调节,保证针脚的排布,提高二极管检测的效率。
  • 一种二极管器件测试装置
  • [发明专利]一种碳化硅的生产监测优化控制方法及系统-CN202310286082.X有效
  • 朱礼贵;王琪 - 日照鲁光电子科技有限公司
  • 2023-03-23 - 2023-06-09 - G05B19/418
  • 本发明提供了一种碳化硅的生产监测优化控制方法及系统,涉及碳化硅技术领域,该方法包括:读取碳化硅的生产控制工艺,进行初始控制节点布设;采集获得历史加工生产信息,进行生产影响特征提取,并对生产影响特征提取结果执行特征补偿;确定关键节点;得到关键节点实时生产数据;输出异常检测结果;基于所述生产控制工艺进行工艺间关联评价,获得关联评价结果;重新定位关键节点,并基于所述异常检测结果和重新定位关键节点的监测结果生成优化补偿参数,解决了现有技术中存在的由于对碳化硅的生产工序转换节点的异常检测效果不佳,进而导致生产监测的准确性和针对性不足的技术问题,达到提高生产监测准确性和针对性的技术效果。
  • 一种碳化硅生产监测优化控制方法系统
  • [发明专利]一种碳化硅生产工单管理方法及系统-CN202310504769.6在审
  • 朱礼贵;陈维伟 - 日照鲁光电子科技有限公司
  • 2023-05-08 - 2023-06-06 - G06Q10/0631
  • 本发明提供了一种碳化硅生产工单管理方法及系统,涉及智能管理技术领域,加载碳化硅新增工单信息与碳化硅生产车间基本信息,确定设备产能信息;获取碳化硅原料预存量,当设备产能信息不满足工单规模信息进行工单生产序列优化;当碳化硅原料预存量不满足工单规模信息时进行原料采购优化,完成碳化硅生产工单管理,解决了现有技术对于碳化硅生产工单的管理方法智能度与精细度程度较低,只能基于预先设定机制进行流水化管理,面对异常状态时的自适应调整能力较弱,无法基于实时生产状态进行契合性调整的技术问题,通过确定生产设备并进行产能分析,针对新增工单基于设备产能与原料库存量分别进行评估调整,实现生产匹配性智能化管理。
  • 一种碳化硅生产管理方法系统
  • [发明专利]一种CVT变速器传动机构-CN202011597380.3有效
  • 朱礼贵;沙宇;李凡;王海金 - 哈尔滨剑桥学院
  • 2020-12-29 - 2023-03-17 - F16H9/24
  • 本发明提供了一种CVT变速器传动机构,属于变速器传动领域。本发明的可移动调速套筒通过轴承固定在输入轴或输出轴上,可移动调速套筒上通过滚针轴承固定带轮右轮,可移动调速套筒左侧的输入轴或输出轴上通过轴上限位卡环固定带轮左轮,弹簧左侧压紧带轮右轮,弹簧右侧通过限位卡环压紧可移动调速套筒;可移动调速套筒通过限位卡环限位在输入轴或输出轴上;可移动调速套筒的凸轮上安装滚轮并通过销轴固定,滚轮上依次固定有钢带传动片和垫片。本发明采用电控凸轮调整钢带位置改变带轮传动直径进而改变传动比的方式,使得传动比的改变相较传统CVT采用压力改变带轮直径改变传动比要精准灵敏,同时省略了传统CVT的压紧机构,使结构变得更加简单。
  • 一种cvt变速器传动机构
  • [发明专利]一种SCR元件自动化生产装置及工艺-CN202310091784.2在审
  • 朱礼贵;侯玉军 - 深圳市鲁光电子科技有限公司
  • 2023-02-10 - 2023-03-14 - H01L27/02
  • 本申请涉及电气元件组件的制造技术领域,特别是涉及一种SCR元件自动化生产装置及工艺,包括组装台,所述组装台上转动设置有与其同轴心的进位环,且进位环外沿周向均匀设置有若干组装面板,所述组装台上且沿着进位环周向依次设置有上料区、焊接区、检测区和下料区,以实现SCR元件组装、焊接和检测一体化;本发明通过外壳上料框、内核上料框以及顶盖上料框分别存放SCR外壳、SCR内核、SCR顶盖,在进位环带动组装面板上的底模转动过程中实现SCR外壳、SCR内核、SCR顶盖依次自动组装,以实现SCR元件的自动化组装,之后通过现有的超声波焊接机、检测机对完成组装的SCR元件进行焊接和检测。
  • 一种scr元件自动化生产装置工艺

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