专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种横纵分离一体化级间线式分离装置及其应用-CN202010356058.5在审
  • 石云峰;王博;郝鹏;曾杜娟;唐科;胡振兴;郑卫东;吴浩 - 大连理工大学
  • 2020-04-29 - 2021-10-29 - F42B15/36
  • 本发明提供了一种横纵分离一体化级间线式分离装置及其应用,属于航天级间分离领域。装置包括:双向线式分离环和异面分离切割索;所述双向线式分离环为环状结构,在其外表面上设置有纵向分离削弱槽和横向分离削弱槽;所述横向分离削弱槽为环形槽;在所述横向分离削弱槽上设置有削弱槽交汇孔,其贯穿所述双向线式分离环的壁;所述纵向分离削弱槽从所述双向线式分离环的上端一直延伸到所述削弱槽交汇孔处;所述异面分离切割索设置在所述双向线式分离环的内侧,其位置与纵向分离削弱槽和横向分离削弱槽的位置对应。本发明避免了使用多个级间分离装置分别执行级间横向分离和纵向分离,有效节省了级间段整体质量,大幅简化了级间分离系统的复杂程度。
  • 一种分离一体化级间线式装置及其应用
  • [发明专利]一种条件式接触承载的线式分离环-CN201911130350.9有效
  • 石云峰;郝鹏;王博;曾杜娟;吴浩;蒋亮亮;刘长治 - 大连理工大学
  • 2019-11-19 - 2021-07-06 - F42B15/36
  • 一种条件式接触承载的线式分离环,属于航空航天技术领域。包括分离板、内外接触承载模块、刚性挡、聚能切割、蒙皮桁条,分离板、内外接触承载模块和蒙皮桁条四者之间通过螺栓连接。分离板外表面开有环向分离削弱槽;两个外接触承载模块固定在分离板外表面,且对称安装在分离削弱槽两侧;两个内接触承载模块固定在分离板内表面且对称安装;刚性挡块安装在两个挡块装配槽形成的空间内,刚性挡块内安装聚能切割索,聚能切割索与分离削弱槽对齐;蒙皮桁条固定在分离板外表面。本发明通过在分离板削弱槽两侧增加接触承载模块,改变线式分离环在轴压载荷下的承载方式,在保证线式分离环横线分离可靠性的前提下,有效提升结构轴向承载能力。
  • 一种条件式接触承载分离
  • [实用新型]一种横纵分离一体化级间线式分离装置-CN202020689769.X有效
  • 石云峰;王博;郝鹏;曾杜娟;唐科;胡振兴;郑卫东;吴浩 - 大连理工大学
  • 2020-04-29 - 2021-01-19 - F42B15/36
  • 本实用新型提供了一种横纵分离一体化级间线式分离装置,属于航天级间分离领域。装置包括:双向线式分离环和异面分离切割索;所述双向线式分离环为环状结构,在其外表面上设置有纵向分离削弱槽和横向分离削弱槽;所述横向分离削弱槽为环形槽;在所述横向分离削弱槽上设置有削弱槽交汇孔,其贯穿所述双向线式分离环的壁;所述纵向分离削弱槽从所述双向线式分离环的上端一直延伸到所述削弱槽交汇孔处;所述异面分离切割索设置在所述双向线式分离环的内侧,其位置与纵向分离削弱槽和横向分离削弱槽的位置对应。本实用新型避免了使用多个级间分离装置分别执行级间横向分离和纵向分离,有效节省了级间段整体质量,大幅简化了级间分离系统的复杂程度。
  • 一种分离一体化级间线式装置
  • [发明专利]一种精确测量纳米线杨氏模量的方法-CN200910078086.9有效
  • 郑泉水;曾杜娟;魏贤龙;李喜德;陈清 - 清华大学
  • 2009-02-13 - 2009-07-15 - G01N3/38
  • 本发明涉及一种精确测量纳米线杨氏模量的方法,其原理为:在纳米线悬臂梁上引入一个新加支点,改变纳米线悬臂梁的固有频率,通过调节纳米线悬臂梁上新加支点的位置,得到一组纳米线悬臂梁的数据点信息,经过这些数据点得出的实验数据曲线。实验数据曲线与理论数据曲线拟合,得出与实验数据曲线最接近的那条理论数据曲线相对应的观测误差值,从而来间接推算出纳米线悬臂梁固定端支点的准确位置。与现有测量纳米线杨氏模量的电致共振法相比,本发明的方法可以得出纳米线悬臂梁固定端存在的不能直接得出的观测误差,使得测量结果更接近真实结果。本发明的方法简单且结果准确,因而为纳电子器件的设计和应用提供了必要的参数。
  • 一种精确测量纳米线杨氏模量方法

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