专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种高维水文数据处理系统及方法-CN202310517216.4在审
  • 秦凯;史东华;戴永洪;吴士夫;贾克;唐吴晗;张堂亮;张泽;袁冬冬 - 湖北一方科技发展有限责任公司
  • 2023-05-09 - 2023-08-11 - G06V20/10
  • 本发明涉及水文数据处理技术领域,公开了一种高维水文数据处理系统及方法,其中,一种高维水文数据处理方法包括以下步骤:步骤101,基于水文图像生成图像体素,提取属于水体的图像体素生成第一图像体素集合;步骤102,生成图像提取空间,通过图像提取空间提取第一图像体素集合内的体素来生成第一图像特征;步骤103,通过特征卷积模型对第一图像特征进行处理;本发明通过水文图像的空间区域化处理和特征提取来减少非水域的信息维度,并且对水域区域特征进行区域化;本发明采用特征卷积模型对区域化处理的水域图像特征进行处理,能够综合水域的区域流动性和时间上的动态变化,获取水域污染状态,并判断污染的源头。
  • 一种水文数据处理系统方法
  • [发明专利]一种基于大数据分析实现的快速大气污染溯源方法-CN202111067814.3在审
  • 胡学飞;陈春华;戴永洪;汪泉 - 南京环宝信息技术有限公司;长江水利委员会水文局
  • 2021-09-13 - 2022-04-22 - G06Q10/06
  • 本发明公开了环境保护技术领域的一种基于大数据分析实现的快速大气污染溯源方法,包括以下步骤:S1:通过大气采集设备获取数据,对接收到的大气监测数据设置因子超标阀值;S2:结合地理位置,根据监测设备接收的数据实时绘制监测因子浓度变化分布情况;S3:大数据计算平台根据得到的数据,应用标签算法,给每个监测设备打上大气质量标签;S4:经过对各个大气采集设备的大气质量标签进行时序分析,判断大气风向,绘制污染物大气环境质量地图;S5:通过各个监测设备的大气质量标签与大气环境质量标准的合格参数进行非线性数据运算,对于可能存在大气污染的区域提供预警;S6:根据大气质量地图,判断大气质量的变换周期,动态反应区域的大气质量,达到实时监管,精度定位污染源及污染发生的时间。
  • 一种基于数据分析实现快速大气污染溯源方法
  • [实用新型]转塔分选机的新型放盖带装置-CN202121821345.5有效
  • 徐辉;张航;汤富强;黄子明;戴永洪;刘奥 - 山东汉芯科技有限公司
  • 2021-08-05 - 2022-01-18 - B07C5/00
  • 本实用新型涉转塔分选机的新型放盖带装置,转塔分选机的新型放盖带装置,包括轮盘(1),所述的轮盘(1)中部突出设置放盖带绕轴(2),所述的放盖带绕轴(2)上放置盖带,所述的盖带的长度大于等于2500米。所述的放盖带绕轴(2)的轴向长度大于等于6.3厘米。本实用新型增加盖带及放盖带的长度从而减少员工更换的盖带的频次并节约盖带的原材料成本。另本实用新型的放盖带绕轴轴向长度可调整设计使得本实用新型的应用场景更多,适应的盖带规格更广。
  • 分选新型放盖带装置
  • [发明专利]功率放大器芯片测试系统及测试方法-CN202111178872.3有效
  • 张孝忠;徐辉;张航;黄子明;戴永洪;林存西 - 山东汉芯科技有限公司
  • 2021-10-11 - 2021-12-10 - G01R31/28
  • 本发明公开功率放大器芯片测试系统及测试方法,包括箱体以及固定在箱体内部的隔板,所述隔板将箱体的内部空间隔开形成两个测试腔,所述测试腔的底部固定有放置台,所述放置台的顶端放置有芯片,所述箱体的顶部两侧固定连接有挡板,所述挡板的上方设置有用于封挡测试腔而隔绝外部干扰的第一箱盖机构与第二箱盖机构,通过在箱体的顶部两侧固定设置挡板,挡板的上方设置两个结构相同且对称放置的第一箱盖机构与第二箱盖机构,通过挡板对第一箱盖机构与第二箱盖机构进行限位,进而封挡测试腔而隔绝外部对芯片在测试时的干扰,另外,在打开第一旋转盖和第二旋转盖的同时可通过限位组件带动芯片翻转,进而便于芯片的取出与放置。
  • 功率放大器芯片测试系统方法

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