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- [发明专利]控温测试台及测试系统-CN202310541407.4在审
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陈振朋;李杰;张琦杰;庞星;王佳淳
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杭州长川科技股份有限公司
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2023-05-11
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2023-08-18
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G01R1/02
- 本发明涉及一种控温测试台及测试系统，控温测试台包括承载组件及探针组件，承载组件具有用于收容电子元件，如芯片的检测槽。冷媒机构生成的控温气体进入气体通道后，可通过扩散孔向检测槽扩散。检测槽内的电子元件的底面朝向扩散孔，控温气体能够直接吹向电子元件的底面。控温气体流经气体通道时，还能够对穿过气体通道的探针进行控温。而且，控温气体还能够从电子元件的底面与检测槽的底壁之间的间隙流过，从而对探针的顶部实现控温，以使探针的顶部与电子元件保持温度的一致。因此，当压接机构将电子元件压接于探针时，由于电子元件与探针之间的温差极小，故能够精准地控制电子元件的测试温度，从而提升测试精度。
- 测试系统
- [实用新型]防霜可视装置及测试分选机-CN202320615305.8有效
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梁雨泉;陈豪杰;张琦杰
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杭州长川科技股份有限公司
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2023-03-20
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2023-07-21
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H05B3/84
- 本实用新型提供了一种防霜可视装置及测试分选机，涉及测试分选机技术领域，本实用新型提供的防霜可视装置包括加热元件、观察窗组件和第一隔热部件，观察窗组件具有面向外界的外侧面，加热元件设置于外侧面，第一隔热部件的一侧开设有安装槽，另一侧开设有与安装槽连通的第一观察孔，观察窗组件安装于安装槽内，观察窗组件对应第一观察孔设置。本实用新型提供的防霜可视装置使用加热元件对观察窗进行防霜，无需向观察窗组件内部所营造的密闭环境中通干燥气体，节省成本，且可有效避免观察窗组件面向外界的一侧受外界环境湿度影响存在结霜结露的风险。
- 可视装置测试分选
- [实用新型]测试装置-CN202320493119.1有效
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王佳淳;李杰;陈振朋;张琦杰;邱国志
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杭州长川科技股份有限公司
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2023-03-08
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2023-06-20
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G01R31/28
- 本实用新型涉及一种测试装置，所述测试装置包括测试机构和支撑座；所述测试机构包括向其一侧表面凸设的探针，所述探针用于与电子元器件接触测试；所述支撑座设于所述测试机构的另一侧表面；所述支撑座上开设有气流通道，所述气流通道被构造为供预设温度的气体流过以与所述测试机构换热。上述测试装置，将气流通道开设于支撑座上，当向气流通道内通入预设温度的气体时，通过测试机构间接传温于探针及芯片，相对于现有技术中将气流通道直接开设于测试机构的测试座上的方式，测试机构设有探针的位置不再镂空，即测试机构的测试座不再镂空，使得测试机构在承受较大的下压力时也不易损坏，满足测试大尺寸的芯片的需求。
- 测试装置
- [发明专利]控温装置及老化测试设备-CN202211480418.8在审
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徐瀚宗;张琦杰;邱国志
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杭州长川科技股份有限公司
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2022-11-23
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2023-03-28
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G01R31/28
- 本申请涉及电子元件测试技术领域，尤其涉及一种控温装置及老化测试设备。该控温装置包括多工位分流结构，其包括上下分层设置的上层分流区和下层测试区，以及设于上层分流区和下层测试区之间将两者分区的分流板；分流板上分布设有多个上下贯穿设置的分流口，上层分流区设有用于进气的上层入口，下层测试区设有用于出气的下层出口，下层测试区还设有多个工位，多个工位与多个分流口对应设置；控温装置能够将控温气体由上层入口输入上层分流区，通过分流口后流经下层测试区的工位，再由下层出口输出。解决了现有控温装置风量分配不均、各个电子元件控温均匀性较差的技术问题。
- 装置老化测试设备
- [发明专利]一种芯片温度调节方法-CN202210238853.3有效
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梁雨泉;张琦杰;邱国志
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杭州长川智能制造有限公司
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2022-03-11
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2022-08-09
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G05D23/20
- 本申请涉及芯片测试领域，涉及一种芯片温度调节方法，包括：利用温度传感器多次获取参考芯片的温度数据，其中，参考芯片从同一批次的待测试芯片中选取；当参考芯片的温度数据不在预设的温度区间内时，基于参考芯片的温度数据以及预设的温度值，确定用于对接合器的温度调节的第一温度补偿值以及用于对测试座的温度调节的第二温度补偿值；当对待测试芯片进行测试时，控制第一温度调节单元基于第一温度补偿值对接合器的温度进行调节，及控制第二温度调节单元基于第二温度补偿值对测试座的温度进行调节，以使得待测试芯片的温度于预设的温度区间内。本发明提高了待测试芯片的温度调节的准确率和效率。
- 一种芯片温度调节方法
- [发明专利]一种控温测试台-CN202210185124.6有效
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陈豪杰;张琦杰;邱国志
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杭州长川科技股份有限公司
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2022-02-28
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2022-06-10
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G01R31/00
- 本发明公开了一种控温测试台，属于测试设备技术领域，控温测试台包括：吹气元件，吹气元件内设有进气通道和出气通道，进气通道供预设温度的气体流入，出气通道供气体流出；基座组件，与吹气元件组装形成测试区，基座组件内设有连通进气通道与出气通道的流通腔，流通腔与测试区连通，流通腔向测试区输送气体；探针，安装于基座组件中，并贯穿流通腔，以使气体能够流经探针。通过在基座组件上设置流通腔，流通腔连通进气通道与出气通道，且流通腔还与测试区连通，从而使用同样的预温气体同时为电子元件与探针预温、控温，保证二者均可达到目标温度，不存在温差，接触时不发生热量传递，电子元件温度稳定，提高测试精准度。
- 一种测试
- [实用新型]干燥气换热装置-CN202122621299.0有效
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徐瀚宗;张琦杰;邱国志
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杭州长川科技股份有限公司
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2021-10-28
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2022-03-01
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F26B21/00
- 本实用新型涉及热交换领域，尤其是涉及一种干燥气换热装置。本实用新型提供的干燥气换热装置，用于芯片安装装置，所述芯片安装装置包括安装腔，包括干燥气发生机构、温度调节机构和换热机构；所述换热机构包括第一腔室和第二腔室，所述温度调节机构与所述第二腔室连通，用于向第二腔室输送导热流体；所述干燥气发生机构与所述第一腔室连通，用于向第一腔室输送干燥气体，所述第一腔室与安装腔连通；所述第一腔室与所述第二腔室相贴合以进行热交换。由于干燥气热容量低，于传输过程中温度受环境影响大，本实用新型中第一腔室、第二腔室，对传输过程中的干燥气体实时进行热交换有效解决了该问题。
- 干燥气换热装置
- [发明专利]测试装置-CN202110866169.5在审
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梁雨泉;张琦杰;邱国志
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杭州长川科技股份有限公司
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2021-07-29
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2021-12-10
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G01R31/28
- 本发明涉及电子元件测试技术领域，特别是涉及测试装置。一种测试装置，用于测试电子元件，包括测试台及电路板，所述电路板与所述测试台电性连接；所述测试台上开设有进气孔、出气孔及气体流道，所述气体流道分别与所述进气孔及所述出气孔连通，气体能够从所述进气孔进入所述气体流道，从所述出气孔流出向并接触所述电路板，以将所述电路板的温度控制在‑10℃‑100℃范围之内。本发明的优点在于：如此设置，能够保护电路板及电路板上的元器件免受高温影响，延长寿命，同时能够缓解电路板结霜的问题，防止电路板短路，并且，能够降低电路板及电路板上的元器件的选型要求。
- 测试装置
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