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[发明专利]数据校正方法、记录介质、图像处理装置、扫描型探针显微镜-CN201910213897.9有效
发明人：平出雅人;山崎贤治 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2019-03-20 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G01Q40/00 文献下载
摘要：本发明提供数据校正方法、记录介质、图像处理装置、扫描型探针显微镜，用于不依据观测者而良好地对所获得的图像进行高度校正。公开一种使用了通过扫描型探针显微镜(1)获取到的图像数据的多个测定数据的高度数据校正方法。在该数据校正方法中，计算机(132)从图像数据中提取基准平面区域，选择多个测定数据中的、提取出的基准平面区域内的三个点的测定数据作为第一基准点数据～第三基准点数据，设第一基准点数据～第三基准点数据的高度相同，来进行剩余的测定数据的高度校正。
数据校正方法记录介质图像处理装置扫描探针显微镜

[发明专利]分析装置、显示控制方法以及记录介质-CN202210454768.0在审
发明人：渡边一马;新井浩;藤野敬太;平出雅人;池田雄一郎;中岛秀郎;山崎贤治 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2022-04-27 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：本公开涉及分析装置、显示控制方法以及记录介质。提供一种尽量不对用户造成压力地进行试样的分析的技术。分析装置具备显示部以及控制显示部的显示控制部。显示控制部在用于分析试样的工序中的用户处于等待的工序中，使显示部显示规定信息。
分析装置显示控制方法以及记录介质

[发明专利]信息提供系统、服务器装置、分析装置及信息提供方法-CN202210454321.3在审
发明人：渡边一马;新井浩;平出雅人;池田雄一郎;中岛秀郎;山崎贤治;藤野敬太 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2022-04-27 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01Q60/00 文献下载
摘要：本公开涉及信息提供系统、服务器装置、分析装置及信息提供方法。提供一种在向用户提供便利性的同时进行试样的分析的技术。信息提供系统具备：判定是否需要更换部件的判定部、显示部以及控制显示部的显示控制部。在需要更换部件的情况下，显示控制部使显示部显示与部件的供应商有关的供应商信息。
信息提供系统服务器装置分析方法

[发明专利]扫描探针显微镜-CN202111090378.1在审
发明人：新井浩;小暮亮雅;山崎贤治;藤井岳直 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2021-09-17 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01Q30/00 文献下载
摘要：本发明提供一种扫描探针显微镜，能够在极性溶剂中获取试样表面的形状和电位分布的三维信息。扫描探针显微镜具备：试样工作台；悬臂；移动机构，其使试样工作台与悬臂的基端之间的距离发生变化；激振部，其使悬臂进行振动；位移检测器，其检测探针的位移；测定控制部，其针对多个测定点中的各个测定点执行如下的测定动作：在多个位置处执行在对悬臂进行激振的状态下检测探针的位移的处理；表面形状信息获取部，其通过基于探针的位移求出悬臂的挠曲量，来获取所述试样的表面形状的信息；以及电位信息获取部，其通过基于探针的位移求出该位移的振幅的大小或相位的变化量，来获取在与试样表面垂直的方向上的电位分布的信息。
扫描探针显微镜

[发明专利]扫描探针显微镜以及扫描探针显微镜的光轴调整方法-CN202110221010.8在审
发明人： 山崎贤治 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2021-02-26 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01Q60/18 文献下载
摘要：本发明提供一种扫描探针显微镜以及扫描探针显微镜的光轴调整方法，防止激光的漫反射对扫描探针显微镜的激光的光轴调整的处理造成不好的影响。在基于摄像部拍摄到的图像确定出的激光的光斑的位置在使激光进行了移动的情况下预测出的方向上进行了移动的情况下，扫描探针显微镜的控制装置将确定出的光斑的位置作为初始位置。控制装置基于摄像部拍摄到的图像来确定发生漫反射的位置，以避开发生漫反射的位置的方式使光斑从初始位置移动到悬臂的顶端。
扫描探针显微镜以及光轴调整方法

[发明专利]内燃机的控制装置以及内燃机的控制方法-CN201780040986.7有效
发明人：朝井豪;小川英之;柴田元;山崎贤治 -专利权人：洋马动力科技有限公司
申请日： 2017-06-29 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： F02D19/08 文献下载
摘要：一种控制装置(100)，其应用于具备燃料改性气缸(2)以及输出气缸(3)的内燃机(1)，在该控制装置(100)中，根据燃料改性气缸(2)内的当量比，通过EGR气体量、有效压缩比、或多方指数的变更，来调整燃料改性气缸(2)的压缩端气体温度，以使得由燃料改性气缸(2)生成的改性燃料中的特定气体成分的浓度达到根据内燃机请求输出而规定的目标浓度。
内燃机控制装置以及方法

[发明专利]扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法-CN202110102863.X在审
发明人： 山崎贤治 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2021-01-26 - 公布日： 2021-08-27 - 主分类号： G01Q20/02 文献下载
摘要：本发明提供一种扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法，其目的在于缩短检测部的位置的调整所花费的时间。在检测器的位置调整处理中，控制装置使检测器在检测器运动的平面上以使光电二极管彼此分开的边界线为基准倾斜地运动，并且响应于激光的至少一部分入射到受光面，使检测器移动以使光斑的重心位置与受光面的中心一致。
扫描探针显微镜光轴调整方法

[发明专利]扫描型探针显微镜用数据处理装置-CN201680086985.1有效
发明人： 山崎贤治;小暮亮雅 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2016-06-24 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G01Q30/04 文献下载
摘要：本发明为一种扫描型探针显微镜用数据处理装置，其对通过使用扫描型探针显微镜利用探针扫描试样表面而针对该试样表面的多个测定点中的各方获取到的、表示相对于第1物理量的变化的第2物理量的变化的两轴数据进行处理，其具备：特征量算出部(41)，其根据各测定点上的两轴数据来求1种至多种特征量；特征量选择部(42)，其让使用者选择特征量中的1种；二维映射图像显示部(43)，其根据使用者对特征量的选择而画面显示为以各测定点为1像素的二维映射图像；以及两轴数据显示部(44)，当二维映射图像中的像素中的1个被使用者选择时，其对与该被选择的像素以及邻接于该像素的1个至多个像素相对应的测定点的两轴数据进行画面显示。
扫描探针显微镜数据处理装置

[发明专利]扫描探针显微镜以及使用扫描探针显微镜的物理性质测定方法-CN201880096598.5在审
发明人： 山崎贤治;小暮亮雅 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-08-09 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： G01Q60/24 文献下载
摘要：扫描探针显微镜(50)具备探针(20)、用于指示探针(20)的悬臂(2)、用于载置试样(S)的扫描仪(43)、使试样(S)与探针(20)之间的距离发生变化的驱动部(4)以及测定悬臂(2)的位移的位移测定部(3)。扫描探针显微镜(50)还具备：曲线制作部(11)，其制作第一曲线和第二曲线，该第一曲线表示试样(S)接近探针(20)时的探针(20)与试样(S)之间的距离同表示悬臂(2)的位移的量的关系，该第二曲线表示试样(S)远离探针(20)时的探针(20)与试样(S)之间的距离同表示悬臂(2)的位移的量的关系；以及物理性质计算部(53)，其求出表示第一曲线与第二曲线之间的面积的量，来作为试样的物理性质。
扫描探针显微镜以及使用物理性质测定方法

[发明专利]扫描探针显微镜以及扫描探针显微镜的控制装置-CN201880095528.8在审
发明人：渡边一马;藤野敬太;平出雅人;山崎贤治;中岛秀郎;池田雄一郎;新井浩 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-07-27 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G01Q20/02 文献下载
摘要：悬臂(2)的顶端部具有探针(7)。光学系统(80)向悬臂(2)照射激光，检测被悬臂(2)反射的激光。测量部(14)基于根据由光学系统(80)检测到的激光的位置的变化而获得的悬臂(2)的位移，来测量试样(9)的特性。激光调整部(20)在调整激光的光轴时使激光的光斑直径大于测量试样(8)的特性时的光斑直径。摄影部(10)在调整激光的光轴时拍摄包括探针(7)的位置的范围。显示部(12)显示所拍摄到的图像。
扫描探针显微镜以及控制装置

[发明专利]扫描型探针显微镜及光强度调整方法-CN201910328923.2在审
发明人：渡边一马;藤野敬太;饭田荣治;平出雅人;山崎贤治;中岛秀郎;池田雄一郎;新井浩 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2019-04-23 - 公布日： 2019-11-01 - 主分类号： G01Q60/00 文献下载
摘要：本发明提供一种能够提高用户的操作性的扫描型探针显微镜及光强度调整方法。扫描型探针显微镜(1)具备光源、检测器(7)、壳体、开闭门、开闭传感器(14)以及控制部(16)等。开闭门被设置于壳体。控制部(16)也作为光强度变更处理部(164)起作用。在扫描型探针显微镜(1)中，当开闭传感器(14)检测到开闭门的开闭时，光强度变更处理部(164)基于开闭传感器(14)的检测结果，自动变更从光源(4)照射的光的强度。因此，能够省去用户手动的光的强度调整作业。其结果，能够提高使用扫描型探针显微镜(1)时的用户的操作性。
探针显微镜扫描型开闭传感器开闭门变更处理部光强度调整壳体光源检测器检测结果强度调整自动变更开闭照射检测

[发明专利]扫描型探针显微镜-CN201910303073.0在审
发明人：渡边一马;藤野敬太;饭田荣治;平出雅人;山崎贤治;中岛秀郎;池田雄一郎;新井浩 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2019-04-16 - 公布日： 2019-10-29 - 主分类号： G01Q30/00 文献下载
摘要：本发明提供一种能够缩短微小对象物体的观察时间的扫描型探针显微镜。通过对每条线(L)重复下述处理，来基于多条线(L)的测定范围(R)内的检测信号执行用于获取样品的表面图像的正式测定：即，一边使悬臂在沿X方向的规定长度的线(L)上进行扫描，一边以规定的第1间隔(D11)获取到检测信号后，使悬臂以规定的第2间隔(D12)在Y方向上进行扫描。在正式测定前，通过以比第1间隔(D11)宽的间隔来获取检测信号，或者使悬臂以比第2间隔(D12)宽的间隔在Y方向上进行扫描，来执行用于获取比正式测定粗的样品的表面图像的预备测定。
检测信号悬臂探针显微镜扫描表面图像扫描型微小对象粗的预备重复观察

[发明专利]测量机-CN200410042993.5有效
发明人：小仓胜行;山崎贤治 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2004-06-14 - 公布日： 2005-02-02 - 主分类号： G01B21/20 文献下载
摘要：一种测量机，在其构成中的多个构造体之中，作为可动构件或者导引可动构件的移动的导向构件(32)的至少一个构造体，具有密闭空间(322)。在该密闭空间内填充了填充物。根据该构成，可以提高可动构件或者导向构件(32)的刚性。另外，可以有效地衰减伴随可动构件的移动产生的残余振动。
测量

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