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[实用新型]一种测试针压接接触式象限类光电探测器测试工装-CN202023209828.8有效
发明人：钱煜;潘攀;周红轮;周小燕;孔繁林;袁鎏;缪奇;路小龙 -专利权人：西南技术物理研究所
申请日： 2020-12-28 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种测试针压接接触式象限类光电探测器测试工装，属于光电探测器测试领域。本实用新型的底座设有若干个上部粗，下部细的台阶孔，中间设置通孔，底座两侧挖空，并各安装一个不锈钢连接杆，底座另外两侧有两个安装孔；顶座设有若干个上部细，下部粗的台阶孔，用于放置测试针和器件管脚，中间设置通孔，用于放置螺丝以便固定底座和顶座；压板中间为一个圆孔，该圆孔直径大于器件管帽直径且小于器件最大外径，用于压接固定器件；两侧分别有一个可旋转的侧壁，侧壁底部为钩状，用于钩住底座的连接杆，使被测器件与测试针保持紧密连接。本实用新型对器件管脚精度要求不高，不易产生接触不良，使用寿命长，上下器件方便。
一种测试针压接接触象限光电探测器工装

[发明专利]一种改善探测器芯片清洗工艺碎片的工装夹具-CN202011587479.5在审
发明人：刘从吉;蒲勋;胡卫英;王鸥;周红轮;钱煜;曾璞 -专利权人：西南技术物理研究所
申请日： 2020-12-29 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： H01L21/673 文献下载
摘要：本发明涉及一种改善探测器芯片清洗工艺碎片的工装夹具，属于芯片制造领域。本发明的工装夹具的清洗舟高度为65mm，为50mm直径的硅片留有足够的空间；所述清洗舟的顶部设置一个压条，使得硅片在清洗的过程中被限制在了清洗舟内部；所述清洗舟两端各增加了一个提手，便于清洗硅片的操作人员操作。本发明能提高清洗效率并大大降低了清洗过程中由于水流不稳定造成的碎片，本发明在硅基四象限激光探测器光敏芯片清洗过程中的碎片率明显改善，并且改进的方法应用到其余科研项目上效果明显。
一种改善探测器芯片清洗工艺碎片工装夹具

[发明专利]代码编译方法及装置-CN201710031295.2有效
发明人： 周红轮;侯坤明 -专利权人：腾讯科技（深圳）有限公司
申请日： 2017-01-17 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G06F8/41 文献下载
摘要：本发明是关于一种代码编译方法，属于软件开发技术领域。所述方法包括：接收针对源程序的编译指令；若所述编译指令指示编译获得的目标程序用于调试，则获取调试代码设置规则；根据所述调试代码设置规则设置调试代码；对设置有所述调试代码的所述源程序进行编译。该方法由开发人员预先设置好调试代码设置规则，当开发人员需要对源程序进行调试时，自动根据调试代码设置规则在源程序的代码中设置调试代码并编译，当开发人员需要对源程序进行反复修改和调试时，不需要开发人员每一轮调试之前在源程序中手动设置调试代码，极大的简化了开发人员的调试代码设置步骤，减少了调试时间，提高软件程序的调试效率。
代码编译方法装置

[实用新型]光纤耦合输出小光斑形成装置和光电探测器测试装置-CN201922283904.0有效
发明人：钱煜;周红轮;李龙;周小燕;田子文;孔繁林;袁鎏;缪奇 -专利权人：西南技术物理研究所
申请日： 2019-12-18 - 公布日： 2020-10-30 - 主分类号： G02B6/38 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种光纤耦合输出小光斑形成装置，属于光电探测器测试技术领域。以往常用的FC光纤出光头发射出的光发散较严重，测试串扰时会导致测试结果偏大。出光头加装聚焦透镜的光纤发出的脉冲激光在焦点处形成很小的光斑，但这类光纤发出的激光不稳定，测试时器件输出信号抖动较大，不适于测试。本实用新型设计的装置有效地避免了由于FC光纤输出发散所导致的串扰测试结果超标，且经本装置射出的脉冲激光很稳定，对测试过程不造成影响。
光纤耦合输出光斑形成装置光电探测器测试

[发明专利]紫外选择性硅雪崩光电探测芯片-CN201210566512.5无效
发明人： 周红轮;刘小会;曾璞 -专利权人：西南技术物理研究所
申请日： 2012-12-24 - 公布日： 2013-07-17 - 主分类号： H01L31/107 文献下载
摘要：本发明提出的一种紫外选择性硅雪崩探测芯片，P+光吸收层（4）以小于200nm的厚度相连N型层（3），N+欧姆接触层（5）对称于P+光吸收层（4），在N+欧姆接触层（5）的两边，设有高掺杂深扩散区穿通整个N-型外延层（2），使雪崩区之外的整个芯片处于同一电位的P+深扩散区（6），该P+深扩散区（6）通过N-型外延层（2）上端平面设置的氮化硅钝化层（9），经芯片阳极（7）、芯片阴极（8）与N+欧姆接触层（5）互连。本发明以超浅的光吸收层避免光生载流子在表面附近复合，在电场的加速作用下产生碰撞离化效应，实现光生载流子的雪崩倍增；通过高掺杂深扩散区穿通整个外延层，实现对紫外波段的选择性探测。
紫外选择性雪崩光电探测芯片

[实用新型]光敏芯片钝化结构-CN201220720861.3有效
发明人：王鸥;邱月瓴;曾璞;刘小会;周红轮;胡卫英;刘从吉;罗成思 -专利权人：西南技术物理研究所
申请日： 2012-12-24 - 公布日： 2013-06-12 - 主分类号： H01L31/0216 文献下载
摘要：本实用新型提出的一种光敏芯片钝化结构，旨在提供一种减少干扰，合格率高，易于实现的硅基探测器的光敏芯片钝化结构。本实用新型通过下述技术方案予以实现：硅基探测器的光敏芯片钝化结构，包括光刻保留在工艺芯片表面的氧化硅钝化膜，氧化硅钝化膜同P型隔离区氧化硅断开，用聚酰亚胺胶膜包裹P型隔离区氧化硅钝化膜，各个方向包裹了氧化硅钝化膜，形成完整包裹型双层钝化膜。本实用新型包含了聚酰亚胺与氧化硅薄膜，芯片表面保留氧化硅钝化膜，并同P型隔离区氧化硅断开，让聚酰亚胺胶包裹隔离区氧化硅，形成完整包裹型钝化膜，有效减少了离子污染。消除了器件在背景光照下输出干扰信号，减少了不合格品的数量，提高了器件性能。
光敏芯片钝化结构

[发明专利]多象限光电探测器高低温测试系统-CN201110370352.2无效
发明人：钱煜;余永琦;周小燕;苏洁梅;王鸥;李潇;郭勇;周红轮;何伟;祁祖峰;向秋澄;柯尊贵;刘从吉;胡卫英 -专利权人：西南技术物理研究所
申请日： 2011-11-21 - 公布日： 2012-07-04 - 主分类号： G01R31/01 文献下载
摘要：本发明一种多象限光电探测器高低温测试系统，用于测试多象限光电探测器在高低温条件下的电参数。它包括，一个电连接直流稳压电源的示波器，内置测试夹具的高低温箱，在示波器与所述高低温箱之间，电连接有一个带有选通控制面板的选通电路控制箱，选通控制面板上设有对应测试器件位置的数码管信号灯，高低温箱输入端相连选通电路控制箱的输出端，高低温箱输出端相连激光光源，激光光源通过光纤耦合头连接被测试器件。本发明可以一次性测试多只多象限光电探测器，相比以往每次只能测试一只器件的测试系统，可以节约大量的时间和人力。由于器件在测试时一直置于高低温箱中，可以保证其环境温度的稳定。使测试状态真实可靠。
象限光电探测器低温测试系统

[发明专利]带光子陷阱的光电探测芯片-CN201010593239.6无效
发明人：王鸥;王平秋;周红轮;郭勇;李丰;马孜;苏洁梅;何伟;石柱;钱煜;向秋澄;覃文治;李潇;刘小会;周小燕;刘从吉;柯尊贵;胡卫英 -专利权人：西南技术物理研究所
申请日： 2010-12-17 - 公布日： 2011-08-03 - 主分类号： H01L31/0352 文献下载
摘要：本发明提出的一种带光子陷阱的光电探测芯片，旨在提供一种可以解决传统直接光电探测芯片元件在吸收长度较长的波长时响应速度和量子效率的矛盾限制，实现高速和高量子效率的兼容，适合各种半导体材料的芯片，增强波长范围可以覆盖芯片全部工作波长范围的光电探测芯片。本发明通过下述技术方案予以实现：它具有光电探测元件(PD)，在所述PD芯片本体(12)上制有由反射腔体和微透镜阵列构成的光子陷阱，该光子陷阱使到达芯片表面光束经过微透镜阵列进入反射腔体，局限在芯片吸收区中反复反射，直至被完全吸收。
光子陷阱光电探测芯片

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