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[实用新型]一种带负载的太阳能测试设备-CN202320223044.5有效
发明人：梁丙生;刘镇岭;王剑斌;赖芸光;廖燕锋 -专利权人：广州晶合设备有限公司
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： H02S50/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试设备，特别涉及一种带负载的太阳能测试设备，包括：测试盒，所述测试盒内设置有测试探针，所述测试盒通过导线与电源电连接，所述电源设置于箱体内，所述箱体内还设置有采集器。将太阳能电池放入到测试盒中，与测试盒中的探针接触，测试盒中带有太阳能模拟灯，模拟太阳光照射太阳能电池，太阳能电池将光能转化为电能，由采集器采集，反馈到电脑，电脑分析太阳能电池性能及寿命情况，该系统还可以用于负载测试，太阳能电池测试用的探针可以与负载相连接，负载消耗太阳能电池的能量后，测试太阳能电池的性能。
一种负载太阳能测试设备

[实用新型]一种多通道信号采集仪器-CN202321183683.X有效
发明人：梁丙生;刘镇岭;王剑斌;赖芸光;廖燕锋 -专利权人：广州晶合设备有限公司
申请日： 2023-05-16 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： H05K7/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种采集仪器，特别涉及一种多通道信号采集仪器，包括：箱体，所述箱体上设置有箱盖，所述箱体上还设置有第一通孔，所述第一通孔内设置有开关，所述箱体后方还设置有若干第二通孔，所述第二通孔上设置有测试工位；本申请可以集成在需要多通道采集的大型设备上，并且装置中集成了电源正反切换模块和电流转电压模块，具有正负极切换、通断等，可以同时高效采集多通道的信号，采集效率高。
一种通道信号采集仪器

[实用新型]一种镜片测试系统-CN202320223068.0有效
发明人：梁丙生;刘镇岭;王剑斌;赖芸光;廖燕锋 -专利权人：广州晶合设备有限公司
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试系统，特别涉及一种镜片测试系统，包括：支撑板，所述支撑板上设置有夹具，所述夹具上设置有积分球，所述积分球下方设置有测试光源，所述积分球侧面设置有光谱仪。测试夹具采用可调式设计，一方面样品可以与积分球表面贴近，避免外界光对测试的影响，另一方面可以同时支持单目或双目的样品，也可以兼容厚度不一的样品；系统采用光源+积分球+光纤光谱仪架构，实现样品的透过率测试；供电模块及控制器集成于光路测试部分底部，从而提高空间的利用率。
一种镜片测试系统

[实用新型]一种翻书式弯折机-CN202222748946.9有效
发明人：梁丙生;刘镇岭;王剑斌;严顺;廖燕锋 -专利权人：广州晶合设备有限公司
申请日： 2022-10-18 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： B29C53/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种弯折机，特别涉及一种翻书式弯折机，包括：第一面板和第二面板，所述第一面板通过两个连接块连接于第一转轴上，两个所述连接块连接于第一面板两侧，所述第一转轴上设置有第一皮带轮，所述第一皮带轮通过第一皮带连接在翻转运动模组上，所述第二面板连接于十字运动模组上。为了检测柔性屏幕的弯折次数的极限，该设备使用磁吸式将柔性屏幕吸在面板上，使用时可以通过控制第一伺服电机转动来带动第一面板翻折进而对柔性屏幕进行弯折，该设备上设置了红外线传感器可以实现翻转次数的检测，同时也可以通过伺服电机控制翻转角度半径等参数，更好的模拟柔性屏幕在日常使用的情况。
一种翻书式弯折机

[实用新型]一种测试电致变色玻璃寿命的设备-CN202223094505.8有效
发明人：梁丙生;刘镇岭;王剑斌;赖芸光;廖燕锋 -专利权人：广州晶合设备有限公司
申请日： 2022-11-16 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种玻璃寿命测试设备，特别涉及一种测试电致变色玻璃寿命的设备，包括：框架，所述框架上设置有若干测试模组和光源模组，所述测试模组和光源模组都与电源相连接。该设备集成了加热装置，将变色玻璃放置到加热装置上面，通过热传导，将变色玻璃升温至设定的温度。可以模拟在高温的情况下测试变色玻璃的寿命。
一种测试变色玻璃寿命设备

[实用新型]一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备-CN202320022006.3有效
发明人：梁丙生;刘镇岭;王剑斌;赖芸光;廖燕锋 -专利权人：广州晶合设备有限公司
申请日： 2023-01-05 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备，涉及测试设备技术领域，包括安装柜、电源组、测试槽，所述测试槽的内部设置有测试单元。本实用新型通过设置测试单元，实现安装座对发光器件进行通电点亮测试，电脑内部的软件控制信号采集仪器采集测试硅光二极管的信号，通过分析硅光二极管的信号判断反光器件的寿命情况，与此同时，通过高精度温度控制器使加热片对测试槽内进行升温，使温度传感器检测到指定温度后，加热片对测试槽内维持恒定温度，从而对发光器件进行高温测试，通过以上零件的相互配合使用，实现同步对若干个发光器件进行高温和亮度衰减测试，大大增加测试设备的实用性，降低测试成本，提高测试效率。
一种集成温和亮度寿命测试发光器件设备

[发明专利]一种智能化半导体器件发光寿命测试设备-CN202310153906.6在审
发明人：梁丙生;刘镇岭;王剑斌;赖芸光;廖燕锋 -专利权人：广州晶合设备有限公司
申请日： 2023-02-23 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种智能化半导体器件发光寿命测试设备，涉及测试设备技术领域，包括：感应模块；温度模块，通过导线与中控装置电性连接，用于调节检测过程中的温度；供电模块；检测模块。本发明通过设置硅光二极管，中控装置控制恒流电源，让恒流电源输出恒流，给器件供电，点亮器件，器件发光，测试盒中的硅光二极管将光能转为电能，软件控制采集仪器采集测试和硅光二极管的信号和测试盒中的电压电流，通过分析硅光二极管的信号，判断器件的寿命情况，将加热片集成到了测试盒中，用高精度温度控制器控制加热片进行测试盒升温，使其达到需要测试的温度，并将发光器件在测试盒中点亮，高温和亮度衰减一起做测试。
一种智能化半导体器件发光寿命测试设备

[实用新型]一种便于携带测试OLED和TEG器件的治具-CN202223045010.6有效
发明人：梁丙生;刘镇岭;王剑斌;赖芸光;廖燕锋 -专利权人：广州晶合设备有限公司
申请日： 2022-11-16 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种治具，特别涉及一种便于携带测试OLED和TEG器件的治具，包括：测试盒，所述测试盒边缘开设有第一通孔，所述第一通孔内设置有电流电压表，所述测试盒上设置有盖板，所述测试盒内设置有测试板。本设备集成了电池、电流表、电压表、电压调节模块等，适用于展会，可以直接点亮OLED和TEG器件，便于携带在身上给客户展示OLED和TEG器件，也便于测试OLED和TEG器件的好坏。
一种便于携带测试 oled teg 器件

[发明专利]一种带自动补偿的翻书式弯折机-CN202211272189.0在审
发明人：梁丙生;刘镇岭;王剑斌;严顺;廖燕锋 -专利权人：广州晶合设备有限公司
申请日： 2022-10-18 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： B29C53/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种弯折机，特别涉及一种带自动补偿的翻书式弯折机，包括：第一面板和第二面板，所述第一面板通过连接块连接于第一转轴上，所述第一转轴上设置有第一皮带轮，所述第一皮带轮通过第一皮带连接在翻转运动模组上，所述第二面板连接于十字运动模组上；为了检测柔性屏幕的弯折次数的极限，该设备使用磁吸式将柔性屏幕吸在面板上，使用时可以通过控制第一伺服电机转动来带动第一面板翻折进而对柔性屏幕进行弯折，该设备上设置了红外线传感器可以实现翻转次数的检测，同时也可以通过伺服电机控制翻转角度半径等参数，更好的模拟柔性屏幕在日常使用的情况。
一种自动补偿翻书式弯折机

[实用新型]一种自动化切换测试点位的测试盒-CN202221217472.9有效
发明人：王剑斌;梁丙生;刘镇岭;严顺;廖燕锋 -专利权人：广州晶合设备有限公司
申请日： 2022-05-20 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试盒，特别涉及一种自动化切换测试点位的测试盒，包括：盒体，所述盒体上铰接有盒盖，所述盒盖上设置有探针，所述盒体底部开设有通孔，所述通孔内设置有导热块，所述导热块下方设置有半导体制冷片。传统测试盒，需要手动去拨动开关实现测试，测试效率低，且费时费力，而本申请的测试盒可实现自动化切换测试点，实现自动测试功能，提高了测试效率，极大节约了人力成本。
一种自动化切换测试

[发明专利]一种半导体测试用测试架-CN202210788495.3在审
发明人：梁丙生;刘镇岭;严顺;廖燕锋 -专利权人：广州晶合设备有限公司
申请日： 2022-07-06 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试架，特别涉及一种半导体测试用测试架，包括：底座，所述底座上设置有支撑板，所述支撑板上设置有第一支架，所述第一支架上设置有通孔，所述通孔内设置有转轴，所述转轴上固定有承托台。本申请用于半导体测试过程中的承托台的微调，装置中设置有三个编码器，编码器与电机和导轨之间具有防抖功能，可以有效减少调整过程中手部抖动对承托台的影响，同样，在微调结束后，可以通过设置阈值以防止测试过程中的误触，提高测试精度。
一种半导体测试

[发明专利]一种TFT测试装置及其测试方法-CN202210786760.4在审
发明人：王剑斌;梁丙生;刘镇岭;严顺;廖燕锋 -专利权人：广州晶合测控技术有限责任公司
申请日： 2022-07-06 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试装置，特别涉及一种TFT测试装置，包括：测试盒，所述测试盒设置于底座上，所述底座上设置有第一支撑杆，所述第一支撑杆上设置有第二支撑杆，所述第二支撑杆上设置有第三支撑杆，所述第三支撑杆上设置有吸盘。待测TFT薄膜通过负压吸附装置移动，减少刚性抓取对薄膜的损坏，以减少测试过程中对TFT的损伤；同时装置通过不同管路和活塞筒的联动使负压吸附装置可以方便的吸起和放下TFT薄膜，使用方便。
一种 tft 测试装置及其方法

[发明专利]Panel IVL-LT一体机测试设备-CN202210509119.6在审
发明人：王剑斌;梁丙生;刘镇岭;严顺 -专利权人：广州晶合测控技术有限责任公司
申请日： 2022-05-10 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种一体机，特别涉及一种Panel IVL‑LT一体机测试设备，包括：外壳，所述外壳内设置有三轴运动控制系统，所述三轴运动控制系统设置于外壳底部，所述外壳内还设置有导热片，所述导热片设置于温度控制系统上；本装置服务于大面积TFT器件的Panel测试，自动化程度高，适用于批量测试，也可以对单个Panel进行独立设定测试；同时，本装置采用独立的大尺寸半导体制冷制热模块，可实现区域的独立温控使用效果好。
panel ivl lt 一体机测试设备

[发明专利]一种TFT薄膜晶体管恒温老化寿命测试盒-CN202210550507.9在审
发明人：王剑斌;梁丙生;刘镇岭;严顺;廖燕锋 -专利权人：广州晶合测控技术有限责任公司
申请日： 2022-05-20 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试盒，特别涉及一种TFT薄膜晶体管恒温老化寿命测试盒，包括：测试盒，测试盒包括盒体和盖板，所述盒体底部设置有通孔，所述盒体底部的通孔内设置有贯穿盒体的导热块，所述盖板上设置有若干探针。本申请发明了一种TFT薄膜晶体管恒温老化寿命测试盒，可以提供给TFT薄膜晶体管一个恒温的测试环境，提高了TFT薄膜晶体管测试结果的准确性。本装置通过给TFT薄膜晶体管供电发光，在一定的时间内，观察发光亮度的大小，来判断TFT薄膜晶体管的寿命情况，结构简单，使用效果好。
一种 tft 薄膜晶体管恒温老化寿命测试

[发明专利]一种大面积太阳光模拟装置-CN202210509139.3在审
发明人：王剑斌;梁丙生;刘镇岭;严顺 -专利权人：广州晶合测控技术有限责任公司
申请日： 2022-05-10 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： F21S8/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种模拟装置，特别涉及一种大面积太阳光模拟装置，包括：外壳，所述外壳顶部开设有通孔，所述通孔上固定有散热装置，所述外壳内部设置有光源，所述光源下方设置有滤光片，所述滤光片下方设置有待测元器件；本发明提供了一种光谱曲线和太阳能一样的大面积太阳光模拟装置，本装置还与治具集成在一起，实现TFT器件的光电稳定性检测和TFT器件性能的综合评估，本装置的散热块上设置有若干凹槽和折流板，可以有效提高散热效率，使用效果好。
一种大面积太阳光模拟装置

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