专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种定向目标检测方法-CN202210990028.9在审
  • 何林远;刘旭伦;许悦雷;马时平;周理;刘达;王晨;史鹤欢;陈广阳;马国勇 - 中国人民解放军空军工程大学
  • 2022-08-18 - 2022-11-18 - G06V20/10
  • 本发明公开了一种定向目标检测方法,所述方法包括以下步骤:输入目标图像;在Stem网络中将图像转化序列数据,即图像Token,对图像Token进行稀疏化采样,将采样得到的稀疏Token送入主干网络;在主干网络中提取图像信息的抽象特征;从主干网络输出的特征,在Head头部网络中判别类别和包围框预测;输出检测结果。本发明是第一个端到端的标准编解码结构Transformer网络进行目标检测的;本发明提出的网络无论是从网络结构还是从数据输入都是非对称形式的,有效缓解了Transformer网络高计算开销问题;本发明从稀疏图像Token中高效提取特征,很大程度上消除了图像中的信息冗余,减少了信息间的干扰,从而减少了网络训练收敛周期,提高了网络检测效果。
  • 一种定向目标检测方法
  • [发明专利]半导体装置的形成方法及半导体装置-CN202110047525.0在审
  • 吕文雄;黄晖闵;郑明达;林威宏;颜晨恩;刘旭伦 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2021-01-14 - 2021-07-20 - B81C1/00
  • 本公开实施例提供一种半导体装置的形成方法及半导体装置。半导体装置的形成方法包含将第一半导体基板的第一表面接合至第二半导体基板的第一表面,且在第一半导体基板的第一区中形成一空腔,其中形成空腔包括:供应钝化气体混合物,在空腔的底表面及多个侧壁上沉积钝化层,其中在钝化层的沉积时,钝化层在空腔的底表面上的沉积速率与钝化层在空腔的多个侧壁上的沉积速率相同;以及使用蚀刻气体蚀刻第一半导体基板的第一区,其中蚀刻气体是与钝化气体混合物同时供应,蚀刻第一半导体基板的第一区包括在垂直方向蚀刻的速率大于在水平方向蚀刻的速率。
  • 半导体装置形成方法

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