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[发明专利]基于扫描曝光技术的光栅基底面形误差补偿方法、装置-CN202311055791.3在审
发明人：巴音贺希格;姜珊;李昱伯;刘兆武;王玮;李文昊;李烁;姜岩秀 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-08-22 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G02B5/18 文献下载
摘要：本发明涉及光栅研制技术领域，具体涉及基于扫描曝光技术的光栅基底面形误差补偿方法、装置，具体地，本申请采用基于扫描干涉场曝光系统干涉条纹相位调制的光栅基底面形误差补偿技术，解决了在全息光栅研制领域基底面形加工误差使光栅衍射波前变差的问题，实现了光栅全口径衍射波前质量的提高，通过二维工作台位移测量系统的反馈和干涉条纹相位控制系统调制间的配合，达到光栅基底面形误差的全口径补偿，不仅降低了对光栅基底的加工精度要求，同时还能够提高光栅全口径的衍射波前质量，这对于制造米级尺寸光栅而言，具有至关重要的应用价值。
基于扫描曝光技术光栅基底误差补偿方法装置

[发明专利]多模态全文信息检索方法、系统及存储介质-CN202310474800.6在审
发明人： 刘兆武;冯漪;凌霏 -专利权人：深圳匠人网络科技有限公司
申请日： 2023-04-26 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G06F16/9535 文献下载
摘要：本发明公开了一种多模态全文信息检索方法、系统及存储介质，所述方法包括以下步骤：获取需要管理的不同类型的文件，所述文件的类型包括文本、图片、音频或视频中的一种或几种；判断所述文件的类型；根据所述文件的类型采用对应的识别策略对所述文件进行识别；将识别结果以文本形式输出，供后续的数据处理和分析使用。本发明实现了快速精确地检索各种类型的文件，实现了对各种类型的文件进行更加高效的搜索和管理，提高了文件自动化管理的效率，降低了企业运营成本。
多模态全文信息检索方法系统存储介质

[发明专利]直播归口管理方法、系统及存储介质-CN202310480469.9在审
发明人： 刘兆武;冯漪;凌霏 -专利权人：深圳匠人网络科技有限公司
申请日： 2023-04-26 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： H04N21/2187 文献下载
摘要：本发明公开了一种直播归口管理方法、系统及存储介质，该方法包括：创建直播归口管理任务，生成直播归口管理的基础信息，基础信息包括推流信息和拉流信息；平台分发设置：设置分发平台，其中，对于需要分发直播流的平台，仅需填写对应平台的推流地址，推流地址为服务器URL地址和串流码；直播管理设置：包括设置直播延迟时间和设置安全片，其中，设置直播延迟时间，用于控制直播中输出到推流原始画面的延时拉流地址的画面对于真正的推流画面的延迟，设置安全片时上传并选择需要使用的图片或者视频类型的安全片，用于直播过程中切换观众能看到的直播画面。本发明可满足用户多平台同时进行直播的需求，并保证直播的传播效果和高效性。
直播归口管理方法系统存储介质

[发明专利]二维光栅位移测量装置-CN202210673720.9有效
发明人：李文昊;刘兆武;吉日嘎兰图;尹云飞;王玮;周文渊;白宇 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-06-15 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种二维光栅位移测量装置，包括：第一激光器系统、第二激光器系统、光束折转系统、二维衍射光栅、第一信号处理系统和第二信号处理系统；第一激光器系统和第二激光器系统用于发出具有频差的正交线偏振光束，线偏振光束经过光束折转系统被分为八束光束，其中的四束光束经过光束折转装置的折射后以Littrow角度入射至二维衍射光栅中得到四束衍射光束；四束衍射光束分别与另外四束光束分别发生干涉后形成四路干涉信号；第一信号处理系统和第二信号处理系统分别用于对四路干涉信号进行处理，实现单次衍射的两倍细分三维位移测量。本发明提高了光栅位移测量系统的稳定性和精度，使得读数头的结构更加简便与灵活。
二维光栅位移测量装置

[发明专利]一种智能展示语音转文字方法、系统及介质-CN202211577991.0在审
发明人：詹梓彦;刘兆武 -专利权人：深圳匠人网络科技有限公司
申请日： 2022-12-02 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： H04N21/4402 文献下载
摘要：本发明公开了一种智能展示语音转文字方法、系统及介质，所述方法包括以下步骤：在捕获到音视频文件时，将所述音视频文件转换成文本；根据预先约定的标点符号分割每句文本，得到分割后的语句文本信息；查找预先建立的字典表；若所述字典表里查找到与所述分割后的语句文本信息相对应的历史数据，则从所述字典表中获取对应的先前合并好的文本段落；对所述文本段落进行渲染；根据敏感词、禁用词或者搜索词对渲染后的文本段落内容中的单字符进行处理；将处理后的单字符与所述文本段落同步在页面展示。通过本发明，用户可以快速找出违规地方所在，还可以快速跳转到对应的进度来进行人工审核，确认问题是否存在，极大的减少了用户合规处理的工作量。
一种智能展示语音转文方法系统介质

[发明专利]一维光栅位移测量装置-CN202210675050.4有效
发明人：李文昊;刘兆武;吉日嘎兰图;尹云飞;王玮;周文渊;刘林 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-06-15 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种一维光栅位移测量装置，包括：激光装置、偏振分光棱镜、第一折光装置、衍射光栅、第二折光装置、探测器装置；激光装置用于发出两束线偏振光束垂直入射至偏振分光棱镜中，被偏振分光棱镜分为互相垂直的第一光束和第二光束、第三光束和第四光束；第一光束和第三光束经过第一折光装置的折射后以Littrow角度入射至衍射光栅中分别得到+1级衍射光束和‑1级衍射光束，+1级衍射光束和‑1级衍射光束再次经过第一折光装置的折射和偏振分光棱镜的反射后进入探测器装置中；第二光束和第四光束经过第二折光装置的两次反射和偏振分光棱镜的透射后进入探测器装置中。本发明提高了光栅位移测量系统的稳定性和精度，使读数头的结构更加简便。
光栅位移测量装置

[发明专利]一种基于利特罗衍射的光栅位移测量装置及方法-CN202310107183.6有效
发明人：孙宇佳;李文昊;刘林;刘兆武;于宏柱;金思宇;姜珊;王玮;姜岩秀 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-02-14 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本申请属于超精密位移测量技术领域，具体提供一种基于利特罗衍射的光栅位移测量装置及方法，该装置包括：光源系统、光学系统、光栅、光电接收模块及信号处理系统，光栅为平面反射式的闪耀光栅，光源系统发出正交的第一和第二线偏振光；光学系统将第一和第二线偏振光以不同级次的Littrow角度入射至光栅表面，将第一和第二线偏振光经光栅衍射产生的第一和第二衍射光入射至光电接收模块；光电接收模块接收第一和第二衍射光并形成干涉位移信号，将干涉位移信号传输到信号处理系统；信号处理系统对干涉位移信号进行相移解算，测得光栅的位移量。本申请的基于利特罗衍射的光栅位移测量装置，避免了反射光与衍射光产生混叠，提高了测量精度。
一种基于利特罗衍射光栅位移测量装置方法

[发明专利]一种基于任意交叉二维光栅的多自由度测量装置-CN202310014841.7有效
发明人： 刘兆武;周文渊;李文昊;姜珊;王玮;巴音贺希格;刘林;孙宇佳;金思宇 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-01-06 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本申请提供一种基于任意交叉二维光栅的多自由度测量装置，包括：二维光栅、第一读数头、第二读数头及第三读数头，二维光栅的栅线夹角为θ，且0﹤θ≦，二维光栅用于使入射到其上的光线发生衍射；第一读数头、第二读数头及第三读数头设置于二维光栅的表面之上且在同一高度平面内呈三角形分布；二维光栅能够相对于第一读数头、第二读数头及第三读数头产生六自由度的运动，第一读数头、第二读数头及第三读数头均设有第一输出通道和第二输出通道，测量装置按预先设定的测量模型计算得到二维光栅的六自由度。本申请的测量装置，具备单自由度至六自由度的测量能力，并且不必基于栅线相互垂直的二维光栅和对称分布的读数头而建立，增大了适用范围。
一种基于任意交叉二维光栅自由度测量装置

[发明专利]一种语音转文字的智能标记方法、系统及介质-CN202211496746.7在审
发明人：詹梓彦;刘兆武 -专利权人：深圳匠人网络科技有限公司
申请日： 2022-11-24 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： H04N21/435 文献下载
摘要：本发明公开了一种语音转文字的智能标记方法、系统及介质，所述方法包括以下步骤：在捕获到媒体流播放画面时，将音视频文件转换成文字信息，并将所述文字信息在文字信息显示界面媒体流播放画面的音视频文件同步呈现给用户；采用预设标记策略对所述文字信息进行标记，得到标记信息；根据用户选中的标记点，将所述标记信息在标记信息显示界面与所述文字信息、音视频文件同步回显给用户。相对于现有技术，本发明将媒体流播放画面(例如直播、音视频文件等)和语音转文字部分、标记部分结合在一起，可以根据播放进度或文本进行智能标记，方便自己或者其他协作者进行检查或者审核，提高对媒体流合规内容的审核效率。
一种语音转文智能标记方法系统介质

[发明专利]一种通用文件和图片批注方法、系统及介质-CN202211486317.1在审
发明人：詹梓彦;刘兆武 -专利权人：深圳匠人网络科技有限公司
申请日： 2022-11-24 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G06T11/60 文献下载
摘要：本发明公开了一种通用文件和图片批注方法、系统及介质，所述方法包括：获取待批注文件，对所述待批注文件进行预处理，转为图片集合；将所述图片集合返回至页面；采用MVC模型对页面结构进行整合，从底往上分为图片展示层、批注渲染层和用户操作层；在接收到用户触发的批注指令时，记录对应的数据，并对所述图片集合进行渲染。本发明将所有主流的通用文件在后台转换为图片后返回给前端统一进行canvas处理展示，用户只需在通用文件和图片批注系统中对相应的图片画框批注即可，可以极大的降低用户的学习成本，同时使用的canvas技术可以在保证页面高性能的情况下，仍可以提供较好的视觉效果。
一种通用文件图片批注方法系统介质

[发明专利]一种长行程工作台精密位移分步测量方法和装置-CN202211343261.4在审
发明人： 刘兆武;王玮;李文昊;姜珊;巴音贺希格;李烁 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-10-31 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：一种长行程工作台精密位移分步测量方法与装置涉及精密测量领域，解决现有技术中长量程精密位移测量装置无法精密测量运动的工作部件的技术问题。该装置包括：测量反射镜、双直线导轨、第一测量干涉组件、第二测量干涉组件、电机组件和丝杠螺母副；丝杠螺母副中的丝杠两端分别设置在电机组件和第一测量干涉组件上，保持固定的距离，丝杠螺母副中的螺母安装在第二测量干涉组件上，通过电机组件带动丝杠的转动，改变第二测量干涉组件位于丝杠上的位置，调节第一测量干涉组件和第二测量干涉组件之间的距离；并使第一测量干涉组件、第二测量干涉组件和电机组件沿双直线导轨运动；第一测量干涉组件和第二测量干涉组件分别检测测量反射镜上设置的被测物。
一种行程工作台精密位移分步测量方法装置

[发明专利]光栅栅距测量装置及方法-CN202211343583.9在审
发明人： 刘兆武;姜岩秀;孙宇佳;刘林;李文昊;姜珊;王玮;张桐;于硕 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-10-31 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G01B11/14 文献下载
摘要：本发明光栅栅距测量装置及方法涉及光栅检测领域，解决了人为操作对精度的影响，和高精度检测时系统的复杂程度的问题。利用光栅衍射干涉原理结合光栅相移定理解决以上问题，采用对称结构的Littrow衍射光相干涉，当光栅移动一个栅距时，其衍射光的相位变化一个周期，对称结构的Littrow衍射光干涉相位变化两个周期，利用差频相位检测原理和高倍的电子细分技术检测衍射光干涉相位变化，再利用双频激光测距系统检测光栅移动距离，通过高精度二维工作台的快速扫描可以对不同刻线密度光栅栅距进行高精度检测。
光栅测量装置方法

[发明专利]轴承内外径测量装置及其测量方法-CN202211276403.X有效
发明人：于硕;王玮;李文昊;姚雪峰;张桐;刘兆武;白雪龙 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-10-19 - 公布日： 2023-01-03 - 主分类号： G01B11/08 文献下载
摘要：本发明涉及轴承测量技术领域，提供一种轴承内外径测量装置及其测量方法，用于解决在装夹时存在偏心误差，精度不高，拟合计算直径时存在拟合误差的问题。本发明利用V型块的定位特性，无需对轴承进行回转，避免了装调时偏心等因素带来的仪器误差，可对不同直径轴承实现快速装夹。同时提出的直径三点测量方法依靠精密的位移台位移坐标数据以及探测器和激光干涉仪的进一步数据补偿，可精确的在一次装夹中同时测量轴承的内、外径。与现有的轴承内外径测量方法相比，可进行大量程、高精度测量；本发明避免了利用拟合出的圆周数据间接计算直径时的计算误差，以及回转测量时轴承装夹偏心带来的装配误差。
轴承外径测量装置及其测量方法

[发明专利]回转类零件测量时轴心对准方法-CN202211276434.5有效
发明人：李文昊;于硕;王玮;张桐;姚雪峰;刘兆武;白雪龙 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-10-19 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01B21/00 文献下载
摘要：本发明涉及精密测量技术领域，提供一种回转类零件测量时轴心对准方法，包括以下步骤：S11、将V型块平放在三坐标机平台上，并将探针移动至V型块的V型槽底角Y1坐标位置处；S12、利用探针测量在Y1坐标下对应的坐标X1和X2；通过对V型块的位置进行调整，直至探针位于中点M1处；S13、将探针移动至下一测量点Y2处，再次获取X轴坐标X3和X4；通过对V型块的位置进行调整，直至探针位于中点M2处；S14、通过n次测量和对V型块的调整，当得到的中点Mn与上一次得到的中点Mn‑1的横坐标相同时，完成对V型块的对准。本发明结构简单，无复杂传动机构，可靠性高，缩短了对回转零件测量时的初步装调时间。
回转零件测量轴心对准方法

[发明专利]六维测量装置及方法-CN202110722961.3有效
发明人：吉日嘎兰图;李文昊;刘兆武;尹云飞;王玮;姜珊;刘林;白宇 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2021-06-28 - 公布日： 2022-08-16 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供六维测量装置及方法，装置部分包括竖直位移测量单元、水平位移测量单元、角度测量单元、二维光栅、单频激光器、处理器单元；二维光栅与待测物体固定连接，单频激光器发出的单频激光射入二维光栅产生衍射，当二维光栅的位置发生改变时，衍射光的形态发生改变；将衍射光的数据传递至处理器单元，处理器单元根据接收的数据，计算得到二维光栅的水平位移、竖直位移和角度变化。本发明运用处理器单元对信号进行解耦处理，可实现单次衍射的四倍光学细分。本发明还采用对称的结构分布和四步相移相结合的方式，消除测量系统在光程上引入的影响的同时实现六维测量；在限制光程的情况下，保证三维位移测量方面的光程差保持一致。
测量装置方法

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