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[发明专利]测距装置以及测距方法-CN201910762966.1有效
发明人：松井优贵;中室健;F·扎帕;F·维拉;R·卢萨纳 -专利权人：欧姆龙株式会社;米兰理工大学
申请日： 2019-08-19 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：测距装置以及测距方法。具体地，所述测距装置包括：光发射部，其被配置成发射光；光接收部，其被配置成接收由所述光发射部发射并被测量对象反射的测量光，所述光接收部包括多个像素，各个像素具有至少一个光接收部并且被配置成输出取决于入射在所述像素上的所述测量光的光接收信号；区分部，其被配置成区分所述像素是否接收到测量光；像素输出控制部，其被配置成根据所述区分部的确定结果单独地选择性地输出各个像素的光接收信号；以及评估部，其被配置成接收由所述像素输出控制部输出的光接收信号并基于这些光接收信号来输出表示所述测量装置与所述测量对象之间的距离的距离信号。
测距装置以及方法

[发明专利]光检测装置、光检测方法和光学式测距传感器-CN201980016793.7有效
发明人：堀野昌伸;松井优贵;中室健;仲田佐幸 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-03-08 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： G01S7/487 文献下载
摘要：光检测装置(1)根据检测开始定时而检测入射的光。光检测装置具有多个受光元件(10a～10c)、信号合成电路(13)、检测电路(14)、时间计测电路(4)和定时提取电路(3)。多个受光元件接收光，分别生成表示受光结果的输出信号。信号合成电路对来自各受光元件的多个输出信号进行合计，从而生成合成信号。检测电路检测合成信号达到第1阈值(V1)以上的定时，从而生成检测信号。时间计测电路根据检测信号，计测检测开始定时与检测出的定时之间的测量期间。定时提取电路在以检测出的定时为基准的预定期间内，提取表示合成信号增加的定时的定时信息(D3)。
检测装置方法光学测距传感器

[发明专利]光检测装置、光检测方法以及光学式测距传感器-CN201980017351.4有效
发明人：堀野昌伸;松井优贵;中室健;仲田佐幸 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-03-08 - 公布日： 2022-04-22 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：光检测装置(1)根据检测开始定时检测入射的光。光检测装置具有多个受光元件(10a～10c)、信号合成电路(13)、检测电路(3)和至少一个时间测量电路(4)。多个受光元件接受光，并分别生成表示受光结果的输出信号(Sa～Sc)。信号合成电路对来自各受光元件的多个输出信号进行合计，生成合成信号(S1)。检测电路检测合成信号在检测开始定时后达到最大的定时，生成表示检测到的定时的检测信号(S2)。时间测量电路根据检测信号，测量检测开始定时与检测到的定时之间的测定期间(T3)。
检测装置方法以及光学测距传感器

[发明专利]测距装置-CN201910728347.0在审
发明人：松井勇树;中室健;F·扎帕;F·维拉;R·卢萨纳 -专利权人：欧姆龙株式会社;米兰理工大学
申请日： 2019-08-08 - 公布日： 2020-03-06 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：一种测距装置(1)，该测距装置包括：光发射部(3)，被配置成发射光(8)；光接收部(4)，被配置成接收由光发射部(3)发射并且被测量物体(2)反射的测量光(5)，光接收部(4)包括被配置成输出取决于所接收的测量光(5)的光接收信号(LR)的多个像素(10)、被配置成接收光接收信号(LR)并且根据所接收的光接收信号(LR)确定特征值的多个确定部(11、111‑117)、以及连接至多个确定部(11、111‑117)的评估部(13)，评估部(13)被配置成根据由确定部(11、111‑117)确定的特征值来计算距离。多个确定部(11、111‑117)中的每个均被配置成仅从多个非相邻像素(10)接收光接收信号(LR)。
测距装置