专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种IGBT器件及其制备工艺-CN202311064440.9在审
  • 吴小利;王海军 - 上海擎茂微电子科技有限公司
  • 2023-08-23 - 2023-10-10 - H01L29/739
  • 本申请公开了一种IGBT器件及其制备工艺,涉及半导体器件领域。其结构包括:N型衬底,P型多晶硅,N型多晶硅区域,ILD氧化层和发射极金属;所述衬底上刻蚀有浅沟槽,所述沟槽填充有P型多晶硅,所述N型衬底上形成有P阱区域和P型多晶硅栅区域,所述P阱区域形成有P型多晶硅填孔,所述P型多晶硅填孔与所述P型多晶硅栅区域之间形成发射极;所述N型多晶硅为表面被反型的N型多晶硅,所述N型多晶硅形成发射极的N型接触;所述ILD氧化层为所述N型多晶硅与所述发射极金属之间的电绝缘层;所述发射极金属填充所述ILD氧化层区域并覆盖其表面。本申请提供的IGBT器件及其制备工艺,可以改善平面IGBT的栅源短路失效。
  • 一种igbt器件及其制备工艺
  • [发明专利]一种抗闩锁效应的沟槽型绝缘栅晶体管器件-CN201911014906.8有效
  • 阳平 - 上海擎茂微电子科技有限公司
  • 2019-10-24 - 2023-05-16 - H01L29/739
  • 本发明涉及一种抗闩锁效应的沟槽型绝缘栅晶体管器件,包括芯片本体,芯片本体的边缘为终端保护区,芯片本体包括N型基区、P型基区、P+接触区及N+发射区、N型场终止区、P型集电极区、集电极金属层、发射极金属,芯片本体的中部包括元胞区,元胞区内设有多个元胞,芯片本体的中部还包括与元胞区隔离的闩锁测试区,闩锁测试区内设有闩锁测试模块,闩锁测试模块包括两组测试端子组件,每组测试端子组件包括位于P+接触区上方并与P+接触区连接的闩锁测试端子。本发明的抗闩锁效应的沟槽型绝缘栅晶体管器件具有闩锁检测功能,能够防止器件由于闩锁现象造成损坏。
  • 一种抗闩锁效应沟槽绝缘晶体管器件
  • [发明专利]一种低应力的半导体芯片-CN202010348049.1有效
  • 阳平 - 上海擎茂微电子科技有限公司
  • 2020-04-28 - 2023-04-14 - H01L27/082
  • 本发明涉及一种低应力的半导体芯片,包括半导体基板,半导体基板包括由多个IGBT元胞并联形成的IGBT芯片区,衬底上还设有阻止区,阻止区位于IGBT芯片区以外,阻止区内设有设有第一接触沟槽,第一接触沟槽内设有热膨胀系数大于二氧化硅热膨胀系数的金属。本发明的低应力的半导体芯片,能降低半导体芯片的面内应力和IGBT芯片区内的应力,改善硅片的翘曲度,能避免后续工艺中设备传送问题,能形成低应力的深沟槽IGBT器件。
  • 一种应力半导体芯片
  • [发明专利]IGBT器件-CN202211434920.5在审
  • 王海军;吴小利 - 上海擎茂微电子科技有限公司
  • 2022-11-16 - 2023-03-21 - H01L29/739
  • 本发明公开了一种IGBT器件包括:多个第一沟槽栅,包括填充于第一栅极沟槽中的第一栅介质层和第一栅极导电材料层,第一栅极导电材料层连接到栅极。在版图结构上,各第一栅极沟槽平行排列。在至少一条第一栅极沟槽上设置有米勒电容连续调节结构,包括:第二沟槽栅,第二沟槽栅包括填充于第二栅极沟槽中的第二栅介质层和第二栅极导电材料层。第二栅极沟槽和对应的第一栅极沟槽相交,第二和第一栅极沟槽相连通,第二和第一栅极导电材料层电连接;利用第二和第一栅极沟槽相交的特点,第二栅极沟槽的长度、间距和数量都独立于第一栅极沟槽,通过调节第二栅极沟槽的长度、间距或数量调节米勒电容并实现米勒电容的连续调节,以实现对芯片性能进行更精细控制。
  • igbt器件
  • [发明专利]一种可靠性改善型半导体器件-CN202110258725.0有效
  • 王海军 - 上海擎茂微电子科技有限公司
  • 2021-03-10 - 2022-11-04 - H01L29/06
  • 本发明涉及一种可靠性改善型半导体器件,包括中部为元胞区、边缘为终端保护区和截止区的器件本体,器件本体包括表面具有绝缘介质层的半导体衬底、设于绝缘介质层上方的金属互联层及位于金属互联层上方且延伸至截止区的保护层,金属互联层通过器件本体表面的第一接触孔与半导体衬底表面的基极或栅极连接,器件本体的截止区表面设有底端延伸至半导体衬底的第三接触孔,第三接触孔内设有连接半导体衬底与金属互联层的漏电泄放金属。本发明的可靠性改善型半导体器件具有漏电吸收功能,可靠性高、使用寿命长。
  • 一种可靠性改善半导体器件

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