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[发明专利]一种CT图像伪影校正方法、系统及介质-CN202310060751.1在审
发明人：谭伯仲;阳庆国 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2023-01-17 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种CT图像伪影校正方法、系统及介质，获取投影图像集；在投影图像集中，选择任意一张投影图像，通过散射核函数对所述投影图像进行化处理，获得直穿投影数据，通过硬化校正函数对直穿投影数据进行处理，获得映射投影数据，遍历投影图像集，获得若干映射投影数据；构建重建图像；计算重建图像的信息熵，以信息熵最小为目标，计算散射核函数中的最优散射拟合参数以及硬化校正函数中的最优硬化拟合参数；基于最优散射拟合参数对若干影数据进行散射校正，通过最优硬化拟合参数对直穿投影数据进行校正，基于校正后的数据，构建所述待测物体的CT图像；本发明的有益效果为实现了通过准确获取的校正参数，构建去伪影效果好的CT图像。
一种 ct 图像校正方法系统介质

[发明专利]一种用于静高压下样品厚度在位测量的桌面式装置及方法-CN202210302182.2有效
发明人：谭伯仲;何强;阳庆国 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2022-03-25 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01B15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于静高压下样品厚度在位测量的桌面式装置及方法，涉及高压声速实验的样品厚度在位测量技术领域，该装置包括控制计算机、微焦点X光机、大腔体高压装置、X射线图像探测器、X光机位移系统、探测器位移系统和隔震光学平台；微焦点X光机安装于X光机位移系统上，X射线图像探测器安装于探测器位移系统上；待测样品放置于大腔体高压装置的压砧中；X光机位移系统、大腔体高压装置、探测器位移系统依次水平安装在隔震光学平台上；各子系统均通过线缆连接控制计算机进行远程控制和数据传输。相比传统基于同步辐射光源方案，本发明极大地减少实验成本和空间，操作使用简单，有益于推广到普通小型实验室使用。
一种用于压下样品厚度在位测量桌面装置方法

[发明专利]基于投影平均图像的快速CT环形伪影校正方法及系统-CN202211291889.4在审
发明人： 阳庆国;谭伯仲 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2022-10-20 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本发明公开了基于投影平均图像的快速CT环形伪影校正方法及系统，涉及图像处理技术领域，其技术方案要点是：对不同角度下的原始投影图像进行叠加平均处理，得到投影平均图像；对投影平均图像进行微分运算，得到反映投影平均图像中灰度突变部的微分图像；依据微分图像计算不同像素位置处的滤波核窗口尺寸；依据滤波核窗口尺寸对投影平均图像进行自适应的低通滤波，得到低频图像；将投影平均图像除以低频图像，得到增益校正图像；依据增益校正图像对不同角度下的原始投影图像进行像素增益修正，得到增益一致的投影序列图像。本发明从投影平均图像中提取所有像素的增益不一致特性，在不明显降低图像质量的条件下消除或减轻环形伪影。
基于投影平均图像快速 ct 环形校正方法系统

[发明专利]基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法及系统-CN202211286546.9在审
发明人： 阳庆国;谭伯仲 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2022-10-20 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本发明公开了基于等量衰减参数寻优的CT硬化伪影校正方法及系统，涉及图像处理技术领域，其技术方案要点是：获取多色投影数据；初始化硬化校正函数中的拟合参数，并通过硬化校正函数将每个角度下的多色投影数据映射为相应的等效单色投影数据；对每个角度下的等效单色投影数据求和，计算得到每个角度下的投影总值；以所有角度下的投影总值满足等量衰减建立最优化参数求解模型；利用迭代优化求解方法对最优化参数求解模型进行求解，得到最优参数；依据最优参数更新硬化校正函数中的拟合参数，并通过更新后的硬化校正函数将每个角度下的多色投影数据映射为相应校正后的等效单色投影数据。本发明可改善因多能重建引起的伪影，提升图像重建质量。
基于等量衰减参数 ct 硬化校正方法系统

[发明专利]一种激光加载材料动态破碎行为的X光成像方法及靶结构-CN202210213109.8在审
发明人：刘冬兵;李建明;孟立民;胡厚胜;李英华;张林;程晋明;阳庆国;叶雁 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2022-03-04 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G01N23/083 文献下载
摘要：本发明公开了一种激光加载材料动态破碎行为的X光成像方法及靶结构，靶结构包括背光丝靶、支撑板、靶架和加载靶，靶架包括背光部和加载部，背光丝靶设置于支撑板，支撑板设置于背光部，加载靶设置于加载部；背光丝靶指向加载靶，且背光丝靶和加载靶在同一轴线上。本方法与传统针孔辅助成像方法中所采用的靶结构相比，利用背光丝靶结构代替针孔结构，可将背光源的尺寸约束至10～15μm，相较于传统针孔约束后的50μm左右的背光源尺寸，可利用本靶结构获得均匀的次级光场分布，从而提高对材料动态破碎行为的高时空分辨X光成像效果精度。本靶结构对于X光成像效果的高时间分辨能达到fs～ns级别，高空间分辨能达到μm级别，且光子能量具有灵活可调的特点。
一种激光加载材料动态破碎行为成像方法结构

[发明专利]一种基于相衬成像的高能X射线CT装置及成像方法-CN202010191200.5在审
发明人：章林文;刘进;夏连胜;张篁;阳庆国;李晶 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2020-03-18 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于相衬成像的高能X射线CT装置及成像方法，所述高能X射线CT装置包括高能X射线源、样品台和成像装置；高能X射线源为高能X射线准点光源，为样品的照射光源，定向发射并辐照、透射样品；样品台用于放置样品，高能X射线源透过样品后，透射的X射线以波动方式传输并在样品后方的像平面处相干叠加而形成含相位与振幅信息的光子强度信息；成像装置设置在样品后方的像平面处，光子强度信息，并将光子强度信息转化成图像信号。本发明解决了现有基于高能X射线吸收衬度CT技术导致获取的CT图像质量不够理想，空间分辨率较差，尤其是获取的产品内部微小间隙的图像分辨率很低，微小间隙可见不可测，且难以辨别微缺陷的问题。
一种基于成像高能射线 ct 装置方法

[发明专利]一种全视场X射线荧光成像系统的成像方法-CN201610369713.4有效
发明人： 阳庆国 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2016-05-30 - 公布日： 2019-07-16 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供了一种全视场X射线荧光成像系统及成像方法，该方案包括X射线光源、滤片组、样品台、球面晶体、限光滤波装置、二维空间分辨的探测器和计算机；样平台上放置样品；X射线光源发出的X射线照射在样品上，样品发出的X射线荧光依次经过限光滤波装置和球面晶体滤波选单后聚焦成像在探测器上；计算机能够控制X射线光源和接收探测器的回传信息。本方案可以实现非扫描的全视场X射线荧光成像，获得待测样品中某一元素的含量及二维分布图像。这种全视场的X射线荧光成像技术具有较大的视场、较高空间分辨率、极高的光谱分辨率、较大的景深、图像采集速度快、可逐一单独分析样品中的多种元素，其他元素荧光或散射噪声干扰低等优点。
一种视场射线荧光成像系统方法

[发明专利]一种基于横向梯度多层膜反射元件的X射线单能成像方法-CN201610164479.1在审
发明人：程显超;阳庆国;程晋明;祁双喜;朱鹏飞;叶雁;彭其先 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2016-03-22 - 公布日： 2016-08-17 - 主分类号： H05H1/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于横向梯度多层膜反射元件的X射线单能成像方法，该方案针对一定发射度的点发射X射线光源，通过元件参数的特殊设计，使多层膜上各个位置处都满足对同一光子能量的反射/衍射，达到X射线单能成像的目的。本发明克服了采用具有对数螺旋面型的晶体元件作为反射元件，受反射元件面型的影响而具有较大像差的劣势，同时，多层膜元件的带宽较大，反射光子通量较高，其在线调节也相对容易。本发明应用于X射线单能成像领域，包括Z箍缩、ICF过程中的等离子体自发光成像，点投影背光成像，和基于实验室X射线光源的吸收衬度成像和相位衬度成像等。
一种基于横向梯度多层反射元件射线成像方法

[实用新型]一种光学延迟测量装置-CN201320670302.0有效
发明人：陶世兴;赵新才;杨丽玲;温伟峰;李建中;肖正飞;胡腾;阳庆国;刘宁文;彭其先;李泽仁 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2013-10-29 - 公布日： 2014-05-07 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及高精度时间延迟测量技术领域，尤其是涉及一种光学自相关方法测量光学延迟测量装置。本实用新型针对现有技术中存在的问题，提供一种基于光学自相关的精确延迟测量方法，该方法能够测量小于10皮秒时间延迟，最大测量范围则由自相关仪量程决定，测量相对精度优于1%。本实用新型通过脉冲激光器、第一光纤耦合器、延迟线装置、第二光纤耦合器、自相关仪、处理器等配合实现。本实用新型适用于光纤，自由空间光学领域亚纳秒时间延迟的精确测量。
一种光学延迟测量装置

[发明专利]一种光学延迟测量方法及装置-CN201310518331.X有效
发明人：陶世兴;赵新才;杨丽玲;温伟峰;李建中;肖正飞;胡腾;阳庆国;刘宁文;彭其先;李泽仁 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2013-10-29 - 公布日： 2014-02-05 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明涉及高精度时间延迟测量技术领域，尤其是涉及一种光学自相关方法测量光学延迟测量方法及装置。本发明针对现有技术中存在的问题，提供一种基于光学自相关的精确延迟测量方法，该方法能够测量小于10皮秒时间延迟，最大测量范围则由自相关仪量程决定，测量相对精度优于1%。本发明通过脉冲激光器、第一光纤耦合器、延迟线装置、第二光纤耦合器、自相关仪、处理器等配合实现。本发明适用于光纤，自由空间光学领域亚纳秒时间延迟的精确测量。
一种光学延迟测量方法装置

[发明专利]瞬态X射线衍射实验方法及其专用定位支架-CN201310357528.X有效
发明人：王海容;叶雁;阳庆国;王洪建;彭辉;彭其先;李泽仁 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2013-08-14 - 公布日： 2013-11-13 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：一种瞬态X射线衍射实验方法，包括带激光入口(3)的真空靶室(4)，设在真空靶室(4)外的激光器(1)；真空靶室(4)中装有聚焦镜(5)，背光靶定位点(7-1)，静态衍射靶定位点(7-2)和动态衍射靶定位点(7-3)，接收装置(9-1、9-2)。其专用定位支架是：真空靶室(4)中固定有由横杆和竖杆构成的T形支架(7)，竖杆一端垂直固定于横杆中心，背光靶定位点(7-1)固定于竖杆另一端，且竖杆与背光靶靶面过靶心的法线(10)同轴，静态衍射靶定位点(7-2)和动态衍射靶定位点(7-3)分别固定于横杆两端且与横杆中心等距离。本发明可以在一次实验中同时进行静态实验和动态实验，获得静态和动态实验衍射图像，具有同步性、高对比性。
瞬态射线衍射实验方法及其专用定位支架

[发明专利]一种超高速同轴分幅相干成像光路的成像方法-CN201310296473.6有效
发明人：陈光华;李泽仁;彭其先;王德田;邓向阳;刘寿先;阳庆国 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2013-07-16 - 公布日： 2013-10-09 - 主分类号： G03B39/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种超高速同轴分幅相干成像光路的成像方法，利用同轴序列脉冲激光照明被摄物体，利用一束参考光与同轴序列脉冲激光干涉实现相干快门，控制序列脉冲激光的某一个特定脉冲所包含的被摄物体的图像信息的显现与否。利用多束不同延时的参考光可以将序列脉冲激光的每一个脉冲所包含的图像信息分别显现出来，从而实现分幅成像。本发明不需要借助机械或电子快门器件，采用全光光路即可以实现对瞬态物理过程的超高速和同轴分幅成像，图像分辨率高、成像频率高，每幅图像都具有和单幅成像相同的空间带宽，不存在幅数越多，带宽越小和牺牲空间分辨的问题，成像频率由序列脉冲间隔决定。
一种超高速同轴相干成像方法

[发明专利]激光驱动产生X射线光源的双光谱成像装置-CN201210252295.2有效
发明人：王洪建;叶雁;李军;阳庆国;李晓亚;朱鹏飞;刘振清;朱巍;李泽仁 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2012-07-18 - 公布日： 2012-11-14 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：一种激光驱动产生X射线光源的双光谱成像装置，包括激光器(1)、真空室(3)、设于真空室(3)上并与激光器(1)相配合的驱动激光入口(2)、装于真空室(3)中的靶组件，靶组件由平面箔靶(601)和支架(602)构成，且平面箔靶(601)位于真空室(3)中间位置，平面箔靶(601)所在平面将真空室(3)分隔成靶前空间和靶后空间，其特征在于：在靶前或靶后布置能够聚集的球面弯晶，实现对X射线的衍射，在球面弯晶的下游的样品支架(701)上布置待测样品，用成像器接收背光成像信息；在靶后或靶前引入轫致辐射谱线，直接透射样品支架上的待测样品，在接收信号端，用成像器接收背光成像信息。
激光驱动产生射线光源光谱成像装置

[实用新型]单孔径多重成像的光学成像测距装置-CN200620047908.9无效
发明人： 阳庆国;刘立人;栾竹;刘德安;孙建锋 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2006-11-17 - 公布日： 2008-04-02 - 主分类号： G01C3/00 文献下载
摘要：一种单孔径多重成像的光学成像测距装置，其特征在于构成：同光轴地依次包括成像主透镜、多重成像元件、场镜和光电探测器，该光电探测器的输出端接数字图像处理器，所述的成像主透镜与多重成像元件紧贴在一起，所述的数字图像处理器用于处理由光电探测器采样的数字图像，提取物体的深度信息的数据处理软件。本实用新型只需单次成像，即可获得完备的成像，而且系统结构紧凑，易于装配，不需要复杂的相机定位和标定，测距算法简单，可快速地获得物体的深度信息。
孔径多重成像光学测距装置

[发明专利]单孔径多重成像的光学成像测距装置-CN200610118430.9无效
发明人： 阳庆国;刘立人;栾竹;刘德安;孙建锋 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2006-11-17 - 公布日： 2007-05-09 - 主分类号： G01C3/00 文献下载
摘要：一种单孔径多重成像的光学成像测距装置，其特征在于构成：同光轴地依次包括成像主透镜、多重成像元件、场镜和光电探测器，该光电探测器的输出端接数字图像处理器，所述的成像主透镜与多重成像元件紧贴在一起，所述的数字图像处理器用于处理由光电探测器采样的数字图像，提取物体的深度信息的数据处理软件。本发明只需单次成像，即可获得完备的成像，而且系统结构紧凑，易于装配，不需要复杂的相机定位和标定，测距算法简单，可快速地获得物体的深度信息。
孔径多重成像光学测距装置

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