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[发明专利]裸芯间高速扩展系统及其扩展方法-CN202110167305.1有效
发明人：魏敬和;黄乐天;于宗光;赵天津;鞠虎;冯敏刚 -专利权人：中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请日： 2021-02-05 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： G06F15/78 文献下载
摘要：本发明涉裸芯间高速扩展系统及其扩展方法。裸芯间高速扩展系统包括跨裸芯扩展同步器和与跨裸芯扩展同步器连接的直连通路，跨裸芯扩展同步器设置在裸芯上，裸芯之间通过跨裸芯扩展同步器和直连通路连接，所述跨裸芯扩展同步器用于控制数据传输，所述数据包括：时钟信号、复位信号、握手信号和数据信号，其中，所有信号都以差分形式成对出现。该系统通用性好、复杂度低、实现了互连裸芯的灵活扩展，进而构成更大的封装级网络，为后续的微系统集成奠定了基础。
裸芯间高速扩展系统及其方法

[发明专利]一种面向复杂SoC可靠性监测的片上传感器读出系统-CN202011545254.3有效
发明人：黄乐天;王梓任;谢暄;赵天津 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2020-12-23 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种面向复杂SoC可靠性监测的片上传感器读出系统，包括传感器组、传感器网络接口、路由器组、电压/温度传感器、通用异步收发传输器、电压/温度传感器网络接口、通用异步收发传输器网络接口、令牌分发单元。该系统采用层次的树状拓扑结构的片上网络，相比于其它拓扑形式的片上网络面积和功耗开销较小，路由算法简单，网络的可扩展性好，同时能够灵活地承载具有常规数据类型和紧急数据类型的可靠性监测传感器，对不同类型的传感器数据处理具有优先级，先处理紧急数据，并且采用令牌环激励采样的方法确保每个传感器数据采样时温度电压信息的准确性。
一种面向复杂 soc 可靠性监测传感器读出系统

[发明专利]一种面向故障分类的存储器测试系统及方法-CN202011417493.0有效
发明人：黄乐天;王梓任;赵天津;谢暄 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2020-12-07 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开了一种面向故障分类的存储器测试系统及方法。系统包括存储器端口选择器，存储器端口选择器分别与存储器和存储器测试控制器相连；存储器测试控制器分别连接小周期故障记录内容可寻址存储器、大周期故障记录内容可寻址存储器和大周期故障次数记录单元。本发明采用大小周期结合的测试方法解决了现有技术中存储器测试电路实现故障分类的方法过于繁琐、面积开销较大，没有考虑间歇性故障的发生需要一定时间的问题。本发明可以以高效、准确、低开销的方式实现对存储器单元故障类型的分类，便于后续修复工作的开展。
一种面向故障分类存储器测试系统方法

[发明专利]一种基于深度神经网络的逻辑电路老化预测方法-CN202110119332.1有效
发明人：黄乐天;王梓任;谢暄;赵天津 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2021-01-28 - 公布日： 2022-05-20 - 主分类号： G06F30/367 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于深度神经网络的逻辑电路老化预测方法。该方法包括构建片上系统，并进行老化数据采样；对老化数据进行数据整理；对采样数据进行数据积分处理；对积分数据进行数据平均处理；对平均积分数据进行数据分段；对平均积分数据进行数据筛选；对筛选数据进行数据预处理；基于分段结果，采用预处理数据训练神经网络模型；对神经网络模型进行验证；采用训练好的神经网络模型进行逻辑电路老化延迟预测。本发明为了解决现有的逻辑电路老化预测方法存在因工艺、电压和温度产生的偏差和侵入性较强的问题，采用原位传感器进行测量，利用神经网络模型进行预测，通过构建电路的特征变量与电路老化延迟之间的模型实现了对逻辑电路的老化预测。
一种基于深度神经网络逻辑电路老化预测方法

[发明专利]一种分段预测电路老化系统及方法-CN202110839691.4在审
发明人：黄乐天;刘丰瑞;赵天津 -专利权人：电子科技大学长三角研究院（湖州）
申请日： 2021-07-23 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种分段预测电路老化系统及方法，其系统包括：老化模型传感器、片上数据读出电路和PC机；其方法为：对训练数据进行分段，并对老化预测模型进行分段训练，为了预测电路之后的老化情况，使用查表的方法拟合得到温度和电压信息，作为老化预测模型的输入，得到的模型输出便是对之后一段时间老化情况的预测结果；本发明解决了对电路老化预测精度不高的问题。
一种分段预测电路老化系统方法

[发明专利]面向老化监测的传感器总成积分筛选系统及其筛选方法-CN202110841500.8在审
发明人：黄乐天;刘丰瑞;赵天津 -专利权人：电子科技大学长三角研究院（湖州）
申请日： 2021-07-26 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： G01N27/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种面向老化监测的传感器总成积分筛选系统及其筛选方法，传感器总成包括环境传感器、环形振荡器、压力生成器和计数器，面向老化监测的传感器总成积分筛选系统包括老化检测装置、数据传输装置和处理器，老化检测装置包括多个存储增量计算单元，多个存储增量计算单元的输入端分别与环境传感器、压力生成器和计数器的输出端对应连接，压力生成器的输出端还与环境传感器的输入端连接，温度筛选单元，温度筛选单元的输入端连接传感器总成，其输出端连接数据打包处理单元的输入端，数据打包处理单元，多个存储增量计算单元的输出端同时与数据打包处理单元的输入端连接，数据打包处理单元的输出端通过数据传输装置与处理器连接。
面向老化监测传感器总成积分筛选系统及其方法

[发明专利]一种片上系统的老化检测系统及其检测方法-CN202110841487.6在审
发明人：黄乐天;刘丰瑞;赵天津 -专利权人：电子科技大学长三角研究院（湖州）
申请日： 2021-07-26 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种片上系统的老化检测系统及其检测方法，所述片上系统的老化检测系统包括多个传感器接口、数据传输模块和系统接口，所述传感器接口用于读取所述片上系统的多个传感器中的电路老化信息，并将所述老化信息通过数据传输模块传输至所述系统接口，所述系统接口对所述老化信息进行处理后传输至系统总线。本发明所提供的片上系统的老化检测系统及其检测方法，能够结合电路老化的实际情况，得到适于芯片实际运行时的老化状态检测结果。
一种系统老化检测及其方法

[发明专利]一种状态可配置的原位老化传感器系统-CN202011418386.X有效
发明人：黄乐天;王梓任;赵天津;谢暄 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2020-12-07 - 公布日： 2021-09-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种状态可配置的原位老化传感器系统，其包括反相器、n个缓冲模块和第一计数器；每个缓冲模块均包括依次连接的状态配置单元、模式选择器和缓冲器，每个缓冲模块中的模式选择器为该缓冲模块的外部输入端，每个缓冲模块中的缓冲器为该缓冲模块的输出端；第m个缓冲模块的输出端与第m+1个缓冲模块的外部输入端相连接；反相器的输出端连接第一个缓冲模块的外部输入端；最后一个缓冲模块的输出端分别连接反相器的输入端和第一计数器的输入端。本发明采用状态配置单元，使得链路中间节点的信号概率和信号翻转率可配置，解决了现有技术中传感器组合逻辑链路中间节点的状态固定导致无法对复杂的逻辑电路进行老化预测的问题。
一种状态配置原位老化传感器系统

[发明专利]基于备份电路的原位老化传感器及老化监测方法-CN201910841513.8有效
发明人： 赵天津;黄乐天;李强 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2019-09-06 - 公布日： 2021-07-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了基于备份电路的原位老化传感器及老化监测方法，设置与原电路组合逻辑单元相同的备份组合逻辑单元，还包括备份组合逻辑单元、多个多路复用器和计数器；在不同时刻ti(i＝0、1、2、···)分别对所述原电路组合逻辑单元和所述备份组合逻辑单元进行测试，得到不同时刻ti下两者的总延时值；将tn时刻下两者的总延时值与tm时刻下两者的总延时值分别进行对比，利用备份组合逻辑单元的对比值修正原电路组合逻辑单元的对比值，得到由时刻tm至时刻tn的原电路组合逻辑单元的老化系数。实现了高精度的老化测量，抵消了工艺、温度对老化监测的影响，保障了军用电子设备电路的高可靠性，能够及时发现电路的隐患。
基于备份电路原位老化传感器监测方法

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