“蒋常斌”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果13个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种片上系统芯片的测试方法及系统-CN201911401980.5在审
发明人： 蒋常斌 -专利权人：北京自动测试技术研究所
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2020-04-17 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本发明公开了一种片上系统芯片的测试方法及系统。该方法对基于高速串行链路连接的第一适配器和第二适配器，进行诊断和校准；诊断校准完成后，通过第一适配器逐个获得每个待测片上系统芯片的测试激励矢量和期望矢量，并基于高速串行链路将测试激励矢量压缩打包后传输到第二适配器，得到某个待测片上系统芯片的测试激励矢量；对得到的测试激励矢量进行校验，如果校验通过，则将测试激励矢量相应地传输至对应的待测片上系统芯片的输入引脚，以完成测试。该方法用高速串行传输媒介代替传统的测试电缆，并且对测试激励矢量串行化后压缩并加入校验机制，使得测试激励矢量到待测片上系统芯片的输入引脚映射不仅是完全可编程的，而且还保证测试结果的准确性。
一种系统芯片测试方法

[发明专利]一种用于HDMI接口的测试装置及测试方法-CN201611238488.7有效
发明人：高剑;冯建科;郭士瑞;袁科学;蒋常斌;李杰 -专利权人：北京自动测试技术研究所
申请日： 2016-12-28 - 公布日： 2019-04-23 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于HDMI接口的测试方法及其测试方法，其中，该测试装置包括解码模块、功能测试模块、逻辑判断模块和集成电路测试仪；其中，逻辑判断模块分别与解码模块、功能测试模块和集成电路测试仪相连接，用于对其他模块进行控制、逻辑分析、通信与监测；解码模块用于将接收的HDMI信号解码成低速信号，并将低速信号发送到功能测试模块进行测试。该测试装置以及对应的测试方法解决了HDMI高速信号测试的难题，测试稳定可靠，测试效率较高。
一种用于 hdmi 接口测试装置方法

[发明专利]一种用于频率信号发生芯片的修调装置-CN201511019883.1有效
发明人：高剑;冯建科;郭士瑞;张东;李杰;蒋常斌;于明 -专利权人：北京自动测试技术研究所
申请日： 2015-12-29 - 公布日： 2018-11-02 - 主分类号： H03K5/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于频率信号发生芯片的修调装置，包括高速计数电路、2选1电路、修调译码电路和修调控制电路；高速计数电路一方面接收来自集成电路自动测试设备的寄存器输入信号，另一方面接收来自待测试的频率信号发生芯片的频率输出信号，高速计数电路输出的计数值传递给2选1电路；2选1电路的一端连接集成电路自动测试设备，另一端连接修调译码电路；修调译码电路连接修调控制电路，修调控制电路通过修调控制通道连接待测试的频率信号发生芯片的修调管脚。利用本发明，可以实现实时频率测试和修调，可多路并行测试，满足高速低成本的量产测试要求。
一种用于频率信号发生芯片装置

[发明专利]一种循环冗余校验方法、设备及存储介质-CN201711472801.8在审
发明人：高剑;冯建科;郭士瑞;袁科学;蒋常斌;李杰;阎伟 -专利权人：北京自动测试技术研究所
申请日： 2017-12-29 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： H03M13/09 文献下载
摘要：本发明公开了一种循环冗余校验方法、设备及存储介质。其中，该循环冗余校验方法包括如下步骤：将第一校验码CSAi‑1和第二校验码CSBi‑1作为数据序列Pi的初值与数据序列构成输入数据序列；分别进行CRC第一校验模式和CRC第二校验模式的校验，得到第一校验码CSAi和第二校验码CSBi，将第一校验码CSAi与上一个数据序列Pi‑1的第二校验码CSBi‑1连接到一起构成新数据序列；对构成的新数据序列再进行CRC第一校验模式的校验，得出数据序列Pi的校验码；计数器的数值逐一增加，重复上述步骤，直至所有传输的数据序列全部校验完成，得到所有数据序列的校验码。该方法避免了传统CRC32异或运算的信息丢失，在不增加资源消耗的基础上，提高了校验的准确性。
校验码校验数据序列循环冗余校验存储介质新数据输入数据序列计数器信息丢失异或运算资源消耗传输重复

[发明专利]基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法-CN201310741944.X有效
发明人： 蒋常斌;刘春来;黎云浩;李力军;高剑;李杰;于明 -专利权人：北京自动测试技术研究所
申请日： 2013-12-27 - 公布日： 2018-04-06 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法。该方法采用微处理器集成开发工具为测试模型产生可执行模块，并通过自动矢量生成技术产生完备的测试矢量集。测试矢量集包含IEEE1149.1协议，实现在线下载测试代码到被测微处理器并实现仿真控制的功能。依赖于微处理器的不同特点，测试矢量能建立自动测试设备和被测微处理器之间的通信链路，同步调用子程序与测试矢量，实现微处理器的功能测试。微处理器集成开发工具根据被测参数和测试模型生成参数测试步长表，实现微处理器的参数测试。本发明有效减少了微处理器测试的操作环节，降低微处理器的批量生产测试的测试成本。
基于自动矢量生成技术复杂微处理器测试方法

[发明专利]一种柔性芯片、具有该柔性芯片的动力电池组及电动汽车-CN201310690667.4有效
发明人：姜岩峰;张东;蒋常斌;杜宇;李瑞麟;李杰;于明;赵雪莲 -专利权人：北京自动测试技术研究所
申请日： 2013-12-15 - 公布日： 2017-12-29 - 主分类号： H01M2/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种柔性芯片，同时也公开了具有该柔性芯片的动力电池组，还公开了应用该动力电池组的电动汽车。该柔性芯片包括依序设置在绝缘衬底上的金属层、电阻层以及钝化层；电阻层通过接线端与金属层电连接，金属层通过接线端与外层电路电连接。在动力电池组中，温度传感器、均衡电阻以及加热电阻均可采用该柔性芯片实现，使得电池单元控制电路变得结构简单、易于装配、可靠性高。由于柔性芯片可以通过印刷工艺制备，便于实现规模化生产，可以有效控制成本以及缩短动力电池组的上市周期。
一种柔性芯片具有动力电池组电动汽车

[实用新型]一种内部空间照明舒适性设计和评价系统-CN201520112203.X有效
发明人：冉令华;蒋常斌;张欣;赵朝义;呼慧敏 -专利权人：中国标准化研究院
申请日： 2015-02-16 - 公布日： 2015-06-17 - 主分类号： H05B37/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种内部空间照明舒适性设计和评价系统，涉及光照条件舒适性设计和评价领域。系统包括：灯具、照度调节装置、至少一个测量终端、数据采集设备和工作站，所述灯具和所述至少一个测量终端均设置在所述内部空间，所述灯具与所述照度调节装置电连接，所述照度调节装置用于调节所述灯具的照度水平，所述照度调节装置设置在所述工作站中；所述至少一个测量终端设置在至少一个检测点，用于检测所述内部空间至少一个检测点的照度；所述测量终端与所述数据采集设备数据连接，所述数据采集设备与所述工作站数据连接。不仅实现了内部空间照明舒适性设计和评价，而且减少了照度水平检测的次数，提高了光照舒适性评价和设计的工作效率。
一种内部空间照明舒适设计评价系统

[实用新型]一种数字集成电路测试适配器-CN201320879055.5有效
发明人：李杰;刘春来;黎云浩;蒋常斌;高剑;于明 -专利权人：北京自动测试技术研究所
申请日： 2013-12-27 - 公布日： 2014-11-05 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种数字集成电路测试适配器，用于ICN83系列集成电路芯片的测试。该数字集成电路测试适配器中，主机板具有与集成电路测试系统的机头相对应的形状；主机板为多层板，设有独立的电源层和地层，地层位于主机板的中间位置；在电源层和地层之间设有旁路电容；在相邻的信号线之间设有地线。在测试过程中，该数字集成电路测试适配器可以有效地分配测试资源，并具有有效的抗干扰机制和信号同步设计，从而确保了测试工作高速、准确。
一种数字集成电路测试适配器

[实用新型]一种WCDMA通用射频测试装置-CN201320697511.4有效
发明人：张东;高剑;李杰;于明;蒋常斌 -专利权人：北京自动测试技术研究所
申请日： 2013-11-07 - 公布日： 2014-06-11 - 主分类号： H04B17/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种WCDMA通用射频测试装置，该装置设置在一个金属材质的屏蔽盒，屏蔽盒的侧壁上设置有接口，一个信号发生器通过该接口与屏蔽盒相连，屏蔽盒内设置有WCDMA测试板卡，屏蔽盒外设置有天线，天线通过屏蔽盒上的一个屏蔽端口与盒内的WCDMA测试板卡相连，所述WCDMA测试板卡通过一个接口插卡与射频卡相连，WCDMA测试板卡通过供电模块供电，上位机通过通信模块与WCDMA测试板卡相连，屏蔽盒上设置有串行接口、电源开关和USB接口。本实用新型具备的有益技术效果是：缩短了测试卡的开发时间，实现了测试卡的软硬件结合利用率，提高了测试系统的硬件稳定性，并提高了工作效率，金属材质的屏蔽盒还能够起到防止外界信号干扰的作用。
一种 wcdma 通用射频测试装置

[实用新型]一种TD-SCDMA通用射频测试装置-CN201320697514.8有效
发明人：张东;高剑;李杰;于明;蒋常斌 -专利权人：北京自动测试技术研究所
申请日： 2013-11-07 - 公布日： 2014-06-11 - 主分类号： H04B17/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种TD-SCDMA通用射频测试装置，该装置包括一个屏蔽盒，屏蔽盒内设置有通用接口板和TD-SCDMA测试板卡，屏蔽盒外设置有天线，天线通过屏蔽盒上的一个屏蔽端口与盒内的TD-SCDMA测试板卡相连，TD-SCDMA测试板卡与一个用于插接射频卡的接口板相连，通用接口板通过供电模块供电，并与一个信号发生器相连，上位机通过通信模块与通信接口板相连，所述通用接口板上设置有电源接口、串行接口、电源开关、USB接口。本实用新型具备的有益技术效果是：缩短了测试卡的开发时间，实现了测试卡的软硬件结合利用率，提高了测试系统的硬件稳定性，并提高了工作效率。
一种 td scdma 通用射频测试装置

[实用新型]一种用于VXI总线数字测试系统的故障诊断模块-CN201220546058.2有效
发明人：李杰;冯建科;蒋常斌 -专利权人：北京自动测试技术研究所
申请日： 2012-10-23 - 公布日： 2013-05-08 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于VXI总线数字测试系统的故障诊断模块，包括主控制器、配置存储器、多个诊断模块、继电器和探卡接口。其中，主控制器一方面连接集成电路测试仪，另一方面分别连接配置存储器、多个诊断模块和探卡接口；配置存储器用于存储故障诊断的配置程序；探卡接口连接继电器。本故障诊断模块可以与各种VXI总线数字测试系统相互配合，自动完成集成电路生产测试过程中的故障诊断工作，故障定位快速准确，操作简单方便。
一种用于 vxi 总线数字测试系统故障诊断模块

[实用新型]一种用于VXI总线数字测试系统的老化模块-CN201120523266.6有效
发明人：李杰;张东;蒋常斌 -专利权人：北京自动测试技术研究所
申请日： 2011-12-14 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G01R31/3181 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于VXI总线数字测试系统的老化模块，包括主控制器、配置存储器、多个老化测试模块、继电器矩阵和老化电阻。其中，主控制器一方面连接集成电路测试仪，另一方面分别连接配置存储器、继电器矩阵和各老化测试模块；配置存储器与主控制器连接，用于存储老化测试的配置程序；继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪，另一方面连接老化电阻。本老化模块可以与各种VXI总线数字测试系统相互配合，自动完成相关数字测试系统的老化测试工作，配置灵活，操作方便。
一种用于 vxi 总线数字测试系统老化模块

[发明专利]面向复杂可编程逻辑器件的批量测试方法-CN201010550885.4有效
发明人：郭士瑞;冯建科;张东;高剑;蒋常斌;李瑞麟;李杰;于明;生晓坤 -专利权人：北京自动测试技术研究所
申请日： 2010-11-19 - 公布日： 2012-05-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种面向复杂可编程逻辑器件的批量测试方法。该方法针对CPLD需要先编程开发才能使用的特点，将CPLD的编程与测试统一起来，由ATE实现CPLD的批量测试。用CPLD开发软件得到针对故障模型的JTAG编程文件及仿真文件，把这些编程文件和仿真文件分别转换成ATE能够识别的向量文件。在批量测试前确定并行测试器件数目，并一次性向ATE加载所有向量。批量测试时每个被测试的CPLD仅需与自动测试设备连接一次，多次执行编程向量和测试向量，可以实现多个故障模型的测试。利用本发明，可基于ATE实现CPLD的在线编程和测试，并通过并行测试技术满足CPLD大批量测试的要求，从而降低测试成本，提高测试效率。
面向复杂可编程逻辑器件批量测试方法

1
共 13 条