专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种氟化物晶体位错密度的检测方法-CN202310380824.5在审
  • 苏良碧;张博;汤港;寇华敏 - 中国科学院上海硅酸盐研究所
  • 2023-04-11 - 2023-08-01 - G01N1/32
  • 本发明涉及晶体检测技术领域,具体涉及一种氟化物晶体位错密度的检测方法,尤其适合用于氟化钙晶体的位错密度分析。一种氟化物晶体位错密度的检测方法,所述检测方法为:(1)对所述待测氟化物晶体的待测表面进行预处理;(2)利用腐蚀混合溶液腐蚀待测氟化物晶体的待测表面,随后终止腐蚀,所述腐蚀混合溶液用于在所述待测氟化物晶体的待测表面形成腐蚀坑;(3)观察所述待测氟化物晶体的待测表面,统计所述待测氟化物晶体中的错蚀坑数量,基于所述错蚀坑的数量计算所述待测氟化物晶体的位错密度,其中所述错蚀坑为所述腐蚀坑中具有位错特性的腐蚀坑。
  • 一种氟化物晶体密度检测方法
  • [发明专利]一种利用C方向籽晶实现CeF3-CN202211375706.7在审
  • 吴振;武安华;张中晗;张振;苏良碧 - 中国科学院上海硅酸盐研究所
  • 2022-11-04 - 2023-07-07 - C30B11/14
  • 本发明涉及一种利用C方向籽晶实现CeF3晶体定向生长的方法,包括如下步骤:a)将CeF3单晶沿晶体C轴方向进行定向切割,经滚圆后,得到轴向平行于晶体C方向的圆柱形单晶棒,作为定向生长所需的C方向籽晶;b)将CeF3粉料和氟化物除氧剂均匀混合,再经高温氟化处理,得到高温氟化处理后的混合粉料;c)将所得C方向籽晶装入石墨坩埚底部籽晶孔中,再将高温氟化处理后的混合粉料装入石墨坩埚中,随后装上坩埚盖;d)将石墨坩埚装入坩埚下降法晶体生长炉中,在真空条件下,以0.3~1mm/h的下降速度进行CeF3晶体的生长,得到C方向的CeF3晶体。
  • 一种利用方向籽晶实现cefbasesub

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