专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体器件及其制造方法-CN202310194196.1在审
  • 陈诚;王宏付 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2023-02-27 - 2023-06-02 - H10B12/00
  • 本公开实施例提供了一种半导体器件及其制造方法,所述制造方法包括:在半导体基底中形成接触孔;在所述接触孔的侧壁和底部沉积第一接触材料,形成第一接触层;对所述第一接触层执行离子注入工艺;其中,所述离子注入工艺包括多次离子注入,每次离子注入中,离子束与所述半导体基底所在平面的垂线成第一预设角度,每次离子注入之后将所述半导体基底绕所述垂线旋转第二预设角度;在所述第一接触层表面沉积填充所述接触孔的第二接触材料,形成第二接触层;对所述半导体基底进行热处理,修复所述第一接触层和所述第二接触层。
  • 半导体器件及其制造方法
  • [发明专利]一种半导体结构的制备方法及半导体结构-CN202310133154.7在审
  • 张强;王宏付 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2023-02-08 - 2023-05-05 - H01L21/768
  • 本公开实施例提供了一种半导体结构的制备方法和半导体结构,其中,所述制备方法包括:提供衬底,在所述衬底上形成多个功能结构,将位于多个所述功能结构之间的区域定义为待填充区域;向反应腔室内通入第一气体,以形成第一子层,所述第一子层至少覆盖所述功能结构的表面;执行第一处理工艺,以防止所述第一子层包含的元素发生迁移;向反应腔室内通入第二气体,以在所述第一子层的表面形成第二子层;执行第二处理工艺,以防止所述第二子层包含的元素发生迁移;其中,所述第一子层和所述第二子层位于所述功能结构侧表面的部分填充所述待填充区域。
  • 一种半导体结构制备方法
  • [发明专利]炉管和向炉管内通入反应气体的方法-CN201910822049.8在审
  • 卢经文;王宏付 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2019-08-30 - 2021-03-05 - C23C16/455
  • 该发明涉及一种炉管和向炉管内通入反应气体的方法,其中炉管包括:反应腔,用于放置待反应的晶圆;至少两根进气管路,伸入至反应腔,并与反应腔相连通,以向反应腔内通入反应气体,进气管路包括:至少一根第一进气管路,一端伸入至反应腔内的第一高度,以向反应腔的第一高度通入反应气体;至少一根第二进气管路,一端伸入至反应腔内的第二高度,以向反应腔的第二高度通入反应气体。本发明可以通过不同种类的进气管路在炉管内的不同高度内通入反应气体,便于用户对炉管内不同高度的反应气体的浓度进行控制,有助于在晶圆表面形成膜层时,减少气体扰流对反应气体浓度的影响,提高膜层的均匀性,提高晶圆生产的良率。
  • 炉管内通入反应气体方法

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