专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种探针用全自动打尾孔机-CN202310536556.1在审
  • 丁崇亮;张飞龙 - 渭南木王智能科技股份有限公司
  • 2023-05-12 - 2023-09-15 - B23Q3/08
  • 本发明公开了一种探针用全自动打尾孔机,包括箱体,所述箱体上设置有油盘,所述油盘内设置有机体和振动盘,所述机体上设置有夹紧机构、取放料机构和打孔机构,箱体上设置有顶杆机构;所述振动盘用于输送针管,所述取放料机构用于从振动盘中抓取针管并将其放在夹紧机构中,所述夹紧机构用于夹紧针管,所述顶杆机构用于驱动打孔机构运动,所述打孔机构用于在针管尾部打孔。该探针用全自动打尾孔机,解决了探针针管进行高效作业打尾孔的问题。
  • 一种探针全自动打尾孔机
  • [发明专利]半导体测试模块-CN202310697544.7在审
  • 丁崇亮;井高飞 - 渭南木王智能科技股份有限公司
  • 2023-06-13 - 2023-09-15 - G01R1/067
  • 本发明公开了一种半导体测试模块,包括上压板、下压板、针杆和两个弯折形的测试针头;所述上压板和下压板之间通过多个压缩弹簧连接在一起,针杆的上端装配在上压板上,针杆的下端从下压板中伸出,两个测试针头可转动地设置在下压板的下侧,针杆上下移动时其下端驱动测试针头转动。该半导体测试模块,解决了测试针小进行更小设计时,存在加工难度高,稳定性第,成本高,寿命低的问题。
  • 半导体测试模块
  • [发明专利]针头与针管可靠接触的半导体测试探针-CN202310859984.8在审
  • 丁崇亮;张飞龙 - 渭南木王智能科技股份有限公司
  • 2023-07-13 - 2023-09-12 - G01R1/067
  • 本发明公开了一种针头与针管可靠接触的半导体测试探针,包括针管,所述针管内设置有弹性件和针头,弹性件的一端抵触在针头的尾部,弹性件的另一端抵触在针管的底部,针头的外部套设有冠簧,冠簧与针管的内壁相接触,针头的头部可从针管的上端伸出。该针头与针管可靠接触的半导体测试探针,解决了由于现有半导体探针内部的针头与弹簧、针管内壁之间存在间隙,在测试过程中针头与弹簧、针管内壁之间的接触部位的接触面积不能始终完全相等而且可能出现瞬时断开的现象,造成某些瞬时测试结果变化非常大,难以或无法真实反映出待测产品的相关性能,进而导致的无法满足上述待测产品测试精度的问题。
  • 针头针管可靠接触半导体测试探针
  • [发明专利]弧形双头双动半导体测试探针-CN202310859944.3在审
  • 丁崇亮;张飞龙 - 渭南木王智能科技股份有限公司
  • 2023-07-13 - 2023-09-05 - G01R1/067
  • 本发明公开了一种弧形双头双动半导体测试探针,包括可弹性弯曲的弧形针套,所述弧形针套的一端中设置有第一弧形针管,所述第一弧形针管内设置有第一弧形弹性件和第一弧形针头,所述第一弧形弹性件位于第一弧形针头和第一弧形针管的底部之间;弧形针套的另一端中设置有第二弧形针管,所述第二弧形针管内设置有第二弧形弹性件和第二弧形针头,所述第二弧形弹性件位于第二弧形针头和第二弧形针管的底部之间。该弧形双头双动半导体测试探针,解决了现有半导体测试探针无法完成位于非直线位置上的被测物与测试基板之间连接的问题。
  • 弧形双头双动半导体测试探针
  • [发明专利]具有过压触发功能的半导体测试探针-CN202310697532.4在审
  • 丁崇亮;张飞龙 - 渭南木王智能科技股份有限公司
  • 2023-06-13 - 2023-09-01 - G01R1/067
  • 本发明公开了一种具有过压触发功能的半导体测试探针,包括绝缘针管,所述绝缘针管的一端设置有第一针管,所述第一针管内设置有第一针头和第一弹簧,所述第一弹簧位于第一针头的尾部和第一针管的底部之间,绝缘针管的另一端设置有第二针管,所述第二针管的内设置有第二针头和第二弹簧,所述第二针头的中部设置有限位台阶,所述第二弹簧套设在第二针头上并且第二弹簧位于限位台阶的一侧与第二针管的底部之间,第二针头的尾部从第二针管的底部穿出。该具有过压触发功能的半导体测试探针,解决了解决现有半导体测试探针使用时,由于测试过程中力度过大且超过设定行程时,容易导致压坏半导体测试探针进而导致压坏待测产品的问题。
  • 具有触发功能半导体测试探针
  • [发明专利]双弯折型半导体测试探针-CN202310697478.3在审
  • 丁崇亮;张飞龙 - 渭南木王智能科技股份有限公司
  • 2023-06-13 - 2023-09-01 - G01R1/067
  • 本发明公开了一种双弯折型半导体测试探针,包括弯折式针管,所述弯折式针管的一端设置有第一针管,第一针管的内设置有第一针头和第一弹簧,第一弹簧位于第一针头的尾部和第一针管的底部之间,弯折式针管的另一端设置有第二针管,第二针管内设置有第二针头和第二弹簧,所述第二弹簧位于第二针头的尾部和第二针管的底部之间。该双弯折型半导体测试探针,解决了若测试机的接触点和待测产品之间无法满足同轴布置的时候,现有半导体测试探针使用时难以实现电连接测试的问题。
  • 双弯折型半导体测试探针
  • [发明专利]一种分度盘式探针打尾孔机-CN202310536575.4在审
  • 丁崇亮;张飞龙 - 渭南木王智能科技股份有限公司
  • 2023-05-12 - 2023-08-22 - B23P23/04
  • 本发明公开了一种分度盘式探针打尾孔机,包括箱体,所述箱体顶部设置有分度盘机构、顶升机构、振动盘机构、第一取放料机构、打定位孔机构、打尾孔机构、第二取放料机构和接料盒,所述分度盘机构的顶部设置有多个弹簧夹紧机构;所述顶升机构、振动盘机构、第一取放料机构、打定位孔机构、打尾孔机构、第二取放料机构和接料盒依次轴向布置在分度盘机构的外部。该分度盘式探针打尾孔机,解决了探针针管进行高效作业打尾孔的问题。
  • 一种分度探针打尾孔机
  • [发明专利]一种用于测量距离的测试探针-CN202310388089.2在审
  • 丁崇亮;张飞龙 - 渭南木王智能科技股份有限公司
  • 2023-04-12 - 2023-07-28 - G01B21/16
  • 本发明公开了一种用于测量距离的测试探针,包括:固定件,所述固定件放置在针管的一端口内;绿色指示圈、黄色指示圈和红色指示圈,所述绿色指示圈、黄色指示圈和红色指示圈依次安置在针管外部固定设置的槽口内部且牢固安装;弹簧,所述弹簧安置在针管内部,所述弹簧的一端与固定件接触,另一端与活动针头可靠接触;活动针头,所述活动针头放置在针管的另一端口且使用针管端面包口方式限位,所述活动针头的大直径端设计有槽口,用于安装感应圈;感应圈,所述感应圈牢固安装在所述活动针头的大直径端的槽口内部且随活动针头实时往复运动。该用于测量距离的测试探针,解决了探针长期使用后容易出现探针掉落以及探针进行安装时,其通常是在底面进行卡合,存在一定的不便利性的问题。
  • 一种用于测量距离测试探针
  • [发明专利]一种带收集的针管打结机-CN202011022275.7有效
  • 张飞龙;付盼红;申啸;张明海 - 渭南木王智能科技股份有限公司
  • 2020-09-25 - 2023-07-07 - G01R1/067
  • 本发明公开了一种带收集的针管打结机,包括一对第一支架;一动端压紧机构,所述动端压紧机构可滑动地设置在该对第一支架中;一对第二支架;一静端压紧机构,所述静端压紧机构设置在该对第二支架内,并且静端压紧机构布置在所述动端压紧机构的一侧;一伺服驱动机构,所述伺服驱动机构位于所述动端压紧机构和所述静端压紧机构的下方,并且伺服驱动机构与动端压紧机构传动配合驱使动端压紧机构靠近或远离静端压紧机构。该带收集的针管打结机,解决了现有这种人工操作方式完成针管的打结加工存在工作效率低的问题。
  • 一种收集针管打结

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