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[发明专利]一种微米级粉料无尘装料系统的粉尘监测方法-CN202310993645.9有效
发明人：陈有章;李海英;吴卫红;卢俊潇;郑刚 -专利权人： 深圳市泽信智能装备有限公司
申请日： 2023-08-09 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06F18/2433 文献下载
摘要：本发明公开了一种微米级粉料无尘装料系统的粉尘监测方法，属于数据处理技术领域，包括：密度聚类后获得数据聚类簇；确定跳转度和波动后相关系数；确定数据序列的流量滞后强度；基于跳转度、流量滞后强度以及欧式距离确定局部离群因子权重；基于局部离群因子权重和局部离群因子确定存在粉尘干扰的异常数据点。获得聚类簇后基于方差进行合并获得数据向量，再进行跳转度、流量滞后强度的计算，结合数据点与聚类簇波动中心的欧式距离确定局部离群因子权重，从而对LOF算法获得的局部离群因子进行校正，更加准确地识别微米级粉料无尘装料系统运行时的存在粉尘感染的异常压力数据、异常流量数据，大大提高了异常数据的监测效率和准确性。
一种微米级粉料无尘装料系统粉尘监测方法

[发明专利]基于机器视觉的新能源电池焊接缺陷检测方法-CN202311188035.8在审
发明人：陈有章;李海英;吴卫红;卢俊潇;郑刚 -专利权人： 深圳市泽信智能装备有限公司
申请日： 2023-09-15 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G06V10/25 文献下载
摘要：本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及基于机器视觉的新能源电池焊接缺陷检测方法，包括：采集焊接图像，进而获取焊接区域；根据焊接区域获取各个扇环区域；获取各个扇环区域的平均灰度值；根据各个扇环区域的平均灰度值获取多个固定区域；获取相邻的两个扇环区域的各个灰度值变化曲线，进而获取每个灰度值变化曲线的弧长比值；根据相邻的两个扇环区域的平均灰度值以及每个灰度值变化曲线的弧长比值，获取相邻的两个扇环区域的合并概率，进而得到各个合并区域；根据各个合并区域，获取焊接缺陷。本发明识别出焊接缺陷更加准确。
基于机器视觉新能源电池焊接缺陷检测方法

[实用新型]新型锂电原材料倒料装置-CN202222008327.6有效
发明人：吴卫红;郑刚 -专利权人： 深圳市泽信智能装备有限公司
申请日： 2022-08-01 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： B65G65/23 文献下载
摘要：本实用新型公开了新型锂电原材料倒料装置，包括，定位架、动力轴、限位板、组合杆、倒料箱、平衡片、转轴，定位架与动力轴进行定位连接，动力轴贯穿于限位板侧端，组合杆与限位板进行固定连接，转轴与动力轴进行活动配合，倒料箱两侧与平衡片进行间隙配合并与动力轴进行活动连接；本实用新型通过倒料箱进一步改进后，其根据防护装置、活动区、滑层等部件的相互搭配下，可利用滑层来提升整体部件与转轴的活动性能，进而利用防护装置将活动区的间隙进行消除，使之能随动力轴等部件进行一同转动，断绝两者之间的活动间隙因车间杂质粉尘侵入导致的转向困难等影响转动性能的情况。
新型原材料装置

[实用新型]一种锂电原材料粉尘清洁装置-CN202221874115.X有效
发明人：郑刚;吴卫红 -专利权人： 深圳市泽信智能装备有限公司
申请日： 2022-07-20 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： B08B1/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种锂电原材料粉尘清洁装置，包括支杆定位台、工作台、动力体、送风端、固定板、滤尘机构、主机，支杆贯穿于定位台并进行固定连接，工作台安装于定位台的中心，动力体定位于工作台的侧端，送风端与动力体相连接，固定板设置于送风端上方，主机与固定板进行定位连接，滤尘机构上端与主机进行通电连接；本实用新型通过滤尘机构进一步改进后，其可根据新增的伸缩座与延伸杆来在清洁装置运作过程中进行循环带动清除装置在过滤网上来回活动，使之能将过滤网上所堆积的粉尘进行快速去除，从而能有效的解决过滤网持续受粉尘影响导致的堆积堵塞情况。
一种原材料粉尘清洁装置

[实用新型]一种新能源材料生产搅拌设备-CN202221631767.0有效
发明人：吴卫红;郑刚 -专利权人： 深圳市泽信智能装备有限公司
申请日： 2022-06-28 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： B01J19/20 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种新能源材料生产搅拌设备，包括脚架、搅拌桶、进料处、驱动电机、转动轴、螺旋叶片、出料处、控制器、电源线、调节组件和清理组件，通过设置了调节组件在脚架左侧底，当新能源材料搅拌完成后需要将容器放置在指定区域对其进行盛放时，第一电机运行会驱使活动杆带动调节板移动对放置区域的大小进行调节，使得新能源材料生产搅拌设备放置容器的区域能够接纳不同型号大小的容器，无需配备对应的容器，使用上十分便利，省时省力。
一种新能源材料生产搅拌设备

[实用新型]一种半导体光学检测设备-CN202221633646.X有效
发明人：吴卫红 -专利权人： 深圳市泽信智能装备有限公司
申请日： 2022-06-28 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体光学检测设备，包括设备箱、工作台、安置板、主电机、滑槽、第一螺杆、滑块、置晶板、龙门柱、支架、光学仪器、成图相机、红外发射器和红外接收器，通过优化设置了挡尘辅助组件于设备箱右侧，有利于对设备箱进行防尘，避免在停止工作的时间里灰尘通过进出货孔进入设备箱内形成沉积，防止影响光学检测设备的检测效果，降低使用者关于设备的清洁工作的工作强度，有利于在工作时遮挡外界的强光或阻挡灰尘，降低意外情况影响检测工作导致出错，通过优化设置了升降装置于底板顶部，有利于使用者精准控制调整工作台的高度，便于配合不同高度的生产线，提高了了设备的泛用性，有利于半导体光学检测设备的稳定运行。
一种半导体光学检测设备

[实用新型]一种用于检测半导体芯片厚度的检测装置-CN202222007982.X有效
发明人：吴卫红;郑刚 -专利权人： 深圳市泽信智能装备有限公司
申请日： 2022-08-01 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于检测半导体芯片厚度的检测装置，包括支架、承重座、放置块、固定轴、检测台、检测端、主机、连接架，支架上端与承重座下端进行固定连接，承重座上端与放置块下端相贴合，固定轴横向分布于放置块的中端，检测端设置于固定轴上方，主机嵌入于检测端上端；本实用新型通过检测台进一步改进后，其可根据伸缩组件来将放置端进行从测试壁区域上升到特定高度，使之便于圆形芯片直接投入放置端当中，同时吸附块可将圆形芯片的圆心进行吸附，达到快速定位的效果，使之能够解决手动调整位置产生的位置偏差以及影响数据的现象，同时利用机械化能够完全断绝圆形芯片与测试壁形成倾斜卡死的现象保证芯片的良品率。
一种用于检测半导体芯片厚度装置

[实用新型]一种新能源材料称重检测装置-CN202221411747.2有效
发明人：郑刚 -专利权人： 深圳市泽信智能装备有限公司
申请日： 2022-06-08 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G01G21/23 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种新能源材料称重检测装置，包括定位架、底座、载物端、动力缸、通电组座、称重机构，定位架焊接于底座的侧端，底座上端与载物端进行卡合连接，动力缸固定于载物端顶上，通电组座设置于动力缸侧端并进行通电连接，称重机构安装于通电组座侧端并进行通电连接；本实用新型通过称重机构进一步改进后，其利用卡块与锁紧装置通过卡合与螺纹连接来将固定座进行定位于载物端表端当中，使之能够代替以往的焊接方式进行衔接，使之能够大幅度提升称重机构的组装效率，并且节省了焊接过程的频繁位置调试的工序，并且利用卡合与螺纹能够加强称重端等部件的垂直度，断绝倾斜现象的产生。
一种新能源材料称重检测装置

[实用新型]一种自动化芯片检测用次品剔除装置-CN202221874120.0有效
发明人：郑刚;吴卫红 -专利权人： 深圳市泽信智能装备有限公司
申请日： 2022-07-20 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： B07C5/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种自动化芯片检测用次品剔除装置，包括龙门架、主机、检测体、输送机构、剔除端、线路箱，龙门架上端与主机进行定位连接，主机下端与检测体进行通电连接，剔除端与检测体相通并进行调控配合，线路箱设置于剔除端下端，输送机构上方与检测体相通；本实用新型通过输送机构进一步改进后，其可根据定位装置、固定壳、传送端等部件进行搭配，使之能利用限位板来将传送端位置限定，从而芯片放入定位装置后可保证芯片的中端能与检测体的位置进行匹配，断绝因传送作用力所导致的中点不一致的情况，使之能够提升芯片的传送稳定性，断绝掉落，以及解决芯片中端无法与检测体进行匹配的问题。
一种自动化芯片检测次品剔除装置

[发明专利]一种半导体芯片缺陷检测设备及方法-CN202210904231.X在审
发明人：李海英 -专利权人： 深圳市泽信智能装备有限公司
申请日： 2022-07-29 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供了一种半导体芯片缺陷检测设备及方法，方法包括：采用线扫描图像传感器对待检测的半导体芯片表面扫描，得到扫描图像；以扫描图像的像素点定义半导体芯片表面的横坐标和纵坐标；将扫描图像与计算机预存储的标准图像比对，扫描图像与预存储的标准图像不同，将半导体芯片表面的横坐标和纵坐标发送至计算机，并存储进行后续检测。设备包括：控制柜、计算机、显示器；计算机通过导线与线扫描图像传感器连接。本发明对于提高半导体设备的检测准确度有很好的促进作用，线扫描图像传感器的传输速度快，适用于半导体缺陷的流水线检测，有利于减少企业成本，提高经济效益；通过像素点的坐标准确的找到缺陷位置，缩短了半导体缺陷检测的时间。
一种半导体芯片缺陷检测设备方法

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