专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]考虑DIBL的GaAs pHEMT电流模型计算方法-CN202310703447.4在审
  • 黄磊;朱世泉;毛书漫;武庆智;徐跃杭 - 电子科技大学
  • 2023-06-14 - 2023-09-29 - G06F30/20
  • 本发明公开了考虑DIBL的GaAspHEMT电流模型计算方法,应用于微波半导体器件建模技术领域,包括:根据每个栅源电压下的饱和电流进行最小二乘法拟合,得到饱和电流的数值表达式,并代入非线性电流表达式中,根据每个偏置点下的漏源电流,获取每个偏置点对应的临界电场;根据GaAs pHEMT的等效热阻,获取不同偏置下的沟道温度,并结合临界电场进行最小二乘法拟合,得到临界电场的数值表达式;将饱和电流以及临界电场代入非线性电流表达式中,并以考虑DIBL的等效栅压替换栅源电压,得到考虑DIBL的GaAspHEMT电流模型。本发明弥补了现有GaAspHEMT电流模型二阶效应考虑不全导致的精度不足的问题。
  • 考虑diblgaasphemt电流模型计算方法
  • [发明专利]一种基于成品率负载牵引系统的芯片设计方法及系统-CN202010211261.3有效
  • 徐跃杭;毛书漫;吴韵秋 - 电子科技大学
  • 2020-03-24 - 2023-08-18 - G06F30/33
  • 本发明公开了一种基于成品率负载牵引系统的芯片设计方法及系统。该方法包括:设置成品率阈值、源阻抗值和负载阻抗对应的Smith圆图扫描范围;确定Smith圆图扫描范围内的负载阻抗点;根据源阻抗值和各负载阻抗点对应的阻抗信息,调用ADS中的谐波平衡仿真器,确定多个样本器件在特定源阻抗条件下,各负载阻抗点的输出特性;以样本器件的输出特性满足成品率阈值为原则,确定各负载阻抗点对应的器件成品率;计算样本器件在各负载阻抗点处的各输出特性的均值;结合各负载阻抗点对应的器件成品率以及各负载阻抗点对应的各输出特性的均值,确定最佳负载阻抗;根据最佳负载阻抗进行芯片设计。本发明能够减小电路设计调谐优化中的随机性,降低芯片的设计制造成本。
  • 一种基于成品率负载牵引系统芯片设计方法
  • [发明专利]一种晶体管物理基陷阱效应模型参数提取方法-CN202211399445.2在审
  • 毛书漫;徐跃杭 - 电子科技大学长三角研究院(湖州)
  • 2022-11-09 - 2023-03-03 - G01R31/26
  • 本发明提供了一种晶体管物理基陷阱效应模型参数提取方法。针对需要提取参数的晶体管,采用脉冲IV测试模式执行常温状态下脉冲电流特性曲线测试;针对待提取参数的晶体管,执行不同温度下的瞬态电流特性曲线测试;执行晶体管电流模型的参数提取;根据不同温度下的瞬态电流提取发射时间常数,绘制Arrhenius曲线,并提取陷阱激活能和陷阱俘获截面;建立陷阱模型等效电路,根据提取的陷阱激活能和陷阱俘获截面,以及晶体管电流模型,基于静态偏置点下的脉冲IV实测数据,提取陷阱控制电势模型参数和稳态时的陷阱背景电势。相比于现有技术,提升了晶体管陷阱效应模型的建模效率,且能针对不同晶体管提取其对应的物理参数。
  • 一种晶体管物理陷阱效应模型参数提取方法

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