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[发明专利]带有基板异常检测电路的装置-CN200610004260.1无效
发明人：平野耕作 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2003-02-25 - 公布日： 2006-08-02 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：可以准确地发现、防止半导体试验装置中的DSA误安装或连接器的连接不良。本发明的半导体试验装置，具有搭载在插座板(11)上的一组DSA(10a、10b)、和包括与该一组DSA(10a、10b)的各插座板(11)的连接器(14)连接的连接器的母板(20)，还包括：ID设定用板，设定附与该DSA(10a、10b)的ID号码，输出表示该ID号码的ID信号；一致电路，输入由ID设定用板输出的ID信号，检测该ID信号的一致不一致；和菊花链电路，将来自母板(20)侧的连接器(21)之一的信号输入，经过对应的DSA侧的连接器(14)，将信号顺次传送到所有的连接器(21、14)，并检测有无输出信号。
带有异常检测电路装置

[发明专利]气体回收装置、测试头及IC器件测试装置-CN200480018484.7无效
发明人：西浦孝英 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2004-06-25 - 公布日： 2006-08-02 - 主分类号： B01D19/00 文献下载
摘要：一种气体回收装置。其中的发热元件冷却罩(5)在通过覆盖装在基板(4)上的IC器件(44)在内部使冷却液流通，可以使冷却液与IC器件(44)接触。在发热元件冷却罩(5)中，从发热元件冷却罩(5)内部容易发生气体积存的气体积存部到流通的冷却液从气体积存部更靠下游的位置设置空气和冷却液可以通过的槽(54)(旁路)。若使用这样的发热元件冷却罩(5)，气体积存部的空气就可以通过旁路放出，可以有效地除去气体积存。
气体回收装置测试 ic 器件

[发明专利]电子部件处理装置和电子部件处理装置中的加温方法-CN03826755.1无效
发明人：中村浩人 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2003-06-04 - 公布日： 2006-07-12 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：在能够处理条形块(2)的处理器(1)中，把多个条形块(2)收纳在框架(3)内并运送到恒温箱(15)内，对收纳于框架(3)内的条形块(2)施加规定温度。根据这种处理器(1)，能够实现恒温箱(15)的小型化和简洁化，同时，提高维修性。
电子部件处理装置中的加温方法

[发明专利]电子部件处理装置用插件、托盘、及电子部件处理装置-CN200480015144.9无效
发明人：筬部明浩 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2004-04-16 - 公布日： 2006-07-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：插件(16′)具有插件主体(161′)、驱动板(162)、及止动件(169)；该插件主体(161′)具有IC收容部(19)；该驱动板(162)可上下自由移动地安装于插件主体(161′)；该止动件(169)可摆动地安装于插件主体(161′)，在下端部形成推压部(169f)。止动件(169)随着驱动板(162)的上下移动而摆动，当驱动板(162)移动到上侧时，止动件(169)的推压部(169f)伸出到IC收容部(19)，将收容于IC收容部(19)的IC器件(2)推压到IC收容部(19)的侧壁部。按照这样的插件(16′)，可消除在IC器件(2)的IC收容部(19)内的晃动，使IC器件(2)的外部端子(2B)确实地接触于探针(51)，可减少接触错误、外部端子(2B)的异常变形、探针(51)的弯曲·折曲等的发生。
电子部件处理装置插件托盘

[发明专利]发泡同轴线缆及其制造方法-CN200480014160.6无效
发明人：木村浩幸;岩崎光男;村山茂;松村茂 -专利权人：平河福泰克株式会社;株式会社爱德万测试
申请日： 2004-05-19 - 公布日： 2006-06-28 - 主分类号： H01B11/18 文献下载
摘要：一种发泡同轴线缆，包括内部导体(1)、形成于内部导体(1)的外周边上的发泡绝缘层(2)、形成于发泡绝缘层(2)的外周边上的外部导体(3)以及形成于外部导体(3)的外周边上的外部覆盖(4)。具有通常完全圆形轮廓的皮层(11)形成于发泡绝缘层(2)的外周边上。因此可通过增加线缆的特性阻抗值的精度同时增加线缆的挠性和机械强度而增加发泡绝缘层(2)的生产率。
发泡同轴线缆及其制造方法

[发明专利]电子部件试验装置-CN200480012843.8无效
发明人：山下和之;伊藤明彦 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2004-05-28 - 公布日： 2006-06-14 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种电子部件试验装置，将IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)推压到测试头(150)的接触部(151)进行试验；其中：具有测试板(110)，该测试板(110)在测试板主体部(111)可摇动地对保持部(113)进行保持，该保持部(113)将IC芯片(IC)的未导出输入输出端子(HB)的背面保持在比该背面大、实质上平滑的保持面(114)，测试时，保持部(113)的侧面(113b)由设于接触部(151)周围的导向面(153)引导，同时，由保持部(113)保持着的状态的IC芯片(IC)被推压到接触部的接触销。
电子部件试验装置

[发明专利]电子部件试验装置-CN200480012837.2无效
发明人：伊藤明彦;山下和之 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2004-05-28 - 公布日： 2006-06-14 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种电子部件试验装置，将IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)推压到测试头的接触部进行试验；其中：至少具有IC移动装置(410)、第一摄像机(415)、第二摄像机(420)、图像处理装置；该IC移动装置(410)由把持部(414)把持着IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)导出的前面使其移动；该第一摄像机(415)对把持之前的上述IC芯片(IC)的前面进行摄像；该第二摄像机(420)对把持着的IC芯片(IC)的背面进行摄像；该图像处理装置从由第一摄像机(415)和第二摄像机(420)摄像获得的图像信息，计算出已由IC移动装置(410)把持的IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)的位置，根据该计算结果，确定已由IC移动装置(410)把持的IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)相对接触部的相对位置；IC移动装置(410)根据由图像处理装置确定的IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)相对接触部的相对位置，修正上述IC芯片的位置。
电子部件试验装置

[发明专利]调试集成电路中有关定时的故障的基于事件的测试方法-CN200480009741.0无效
发明人：安肯·巴曼尼克;西达尔特·萨韦;罗克特·拉吉舒曼 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2004-04-07 - 公布日： 2006-05-17 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种使用基于事件的半导体测试系统来调试IC设备的故障的测试方法，该方法能够分辨有关定时的故障和其他故障。该测试方法包括步骤：施加测试信号到DUT上并评估DUT的响应输出，在响应输出中检测故障，识别与故障有关的参考信号，识别参考信号的一部分，以及逐渐增大参考信号的该部分中的事件的定时来检测来自DUT的响应输出中的变化。
调试集成电路有关定时故障基于事件测试方法

[发明专利]半导体试验装置-CN200380107718.0无效
发明人：大岛英幸 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2003-12-26 - 公布日： 2006-02-08 - 主分类号： G01R31/3181 文献下载
摘要：在从DUT输出的系统时钟的边沿定时，取得与比系统时钟高速的内部时钟同步的恢复时钟。包括：时间插补器(20)、数字滤波器(40)和数据侧选择器(30)。时间插补器包括输入DUT(1)的系统时钟的触发器(21a～21n)、顺次将以一定的定时间隔延迟的选通脉冲输入到FF(21)并输出时间系列的电平数据的延迟电路(22)、输入从FF输出的时间系列的电平数据并编码成表示边沿定时的位置数据的编码器(28)。数字滤波器包括顺次存储编码器的位置数据在预定的定时输出的多个寄存器(41a～41n)，输出来自寄存器(41)的位置数据作为恢复时钟。数据侧选择器将恢复时钟作为选择信号选择DUT的输出数据。
半导体试验装置

[发明专利]半导体试验装置-CN200380106975.2无效
发明人：大岛英幸 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2003-12-18 - 公布日： 2006-02-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：以由DUT输出的时钟的上升及下降的两种边沿定时取得DUT(被试验器件)的输出数据，同期取得DDR型器件的输出数据。具备：时钟侧时间插入器(20)，其输入由DUT1的时钟、由一定的定时间隔的多个选通脉冲取得、作为时间序列的电平数据输出；数据侧时间插入器(20)，其输入由DUT1的输出数据、由一定的定时间隔的多个选通脉冲取得、作为时间序列的电平数据输出；和边沿选择器(30)，其转换由时间插入器(20)取得的时间序列的电平数据、选择地输出表示该电平数据的上升和/或下降沿的电平数据。
半导体试验装置

[发明专利]外加电压的电流测量装置及所用具有开关的电流缓存器-CN200380105756.2无效
发明人：中原久晴 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2003-12-11 - 公布日： 2006-01-25 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一外加电压的电流测量装置，其中来自直流电源部分(220)的电压经由范围转换部分(210)被施加到待测设备(DUT)的终端并测量流经该终端的电流；其中范围转换部分(210)包括具有对应于电流测量范围的开关(CB1至CBn)的多个电流缓存器，和分别串联到这些输出端的多个电流测量电阻(R1至Rn)；和其中通过由压差测量部分(150)测量所选择串联电流测量电阻两端的电压，测量流经待测设备的终端的电流。每个具有开关(CBi)的电流缓存器具有能响应一控制信号连接/阻断的输出级(12)。
外加电压电流测量装置所用具有开关缓存

[发明专利]按压部件和电子部件处理装置-CN02830149.8无效
发明人：山下毅 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2002-12-04 - 公布日： 2006-01-11 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种按压部件，其在靠压向Z轴方向的支持部件(51)和加热块(53)之间设置第一弹簧(54)，靠压支持部件(51)和加热块(53)向互相隔离的方向。还在按压IC组件(8)的台(81)的第一按压块(55)和按压IC组件(8)的基板(82)的第二按压块(56)之间设置第二弹簧(57)，靠压第一按压块(55)和第二按压块(56)向互相隔离的方向。根据具有这种结构的电子部件处理装置，能够应对电子部件的种变更，同时改善面重合，能够以正确的负荷均匀按压电子部件。
按压部件电子处理装置

[发明专利]有针对性应用的基于事件的半导体存储器测试系统-CN02820406.9无效
发明人：菅森茂;高桥公二;矢元裕明 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2002-10-10 - 公布日： 2005-12-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种用于测试半导体器件的半导体测试系统，具有多个不同的测试器模块，和用于产生针对被测试的器件中的存储器的算法码型的算法码型发生器(ALPG)，从而实现低成本和专用的存储器测试系统。该半导体测试系统包括两个或多个性能彼此不同的测试器模块、产生针对特定存储器的算法码型的ALPG模块；容纳测试器模块和ALPG模块的组合的测试系统主机、电连接测试器模块和被测试器件的测试设备、在测试设备中提供的用于安装被测试器件的执行板，以及通过测试器总线与测试器模块通信从而控制测试系统的整体操作的主计算机。
针对性应用基于事件半导体存储器测试系统

[发明专利]位置侦测装置、位置侦测方法以及电子零件搬运装置-CN200380102965.1无效
发明人：市川雅理;菊池有朋 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2003-11-25 - 公布日： 2005-12-21 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种位置侦测装置，适用于侦测一具有端子的电子零件的位置，包括：一影像取得部，取得端子的一影像、一端子区域侦测部，由影像取得部所取得的影像侦测端子的区域，以及一电子零件位置侦测部，根据端子区域侦测部所侦测的端子区域，及预设的电子零件的端子资讯，侦测电子零件的位置。
位置侦测装置方法以及电子零件搬运

[发明专利]元件介面装置-CN200480000097.0无效
发明人：滨博之;松村茂 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2004-06-01 - 公布日： 2005-11-16 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明是关于一种元件介面装置，其是一种向被测试元件施加测试被测试元件的测试信号的同时，接收从被测试元件输出的输出信号的元件介面装置，该元件介面装置包括针式电子基板、基板侧连接器(是一种设置在上述针式电子基板端部的基板侧的连接器，具有多个基板侧芯线以及基板侧遮护板)、保持上述被测试元件的插口、插口侧连接器(具有多个插口侧芯线以及插口侧遮护板)、与在插口以及上述针式电子基板之间传递传送信号的电缆元件，电缆元件具有基板嵌合连接器、插口嵌合连接器以及多个传送电缆。
元件介面装置