专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体存储器装置及其制造方法-CN202210092100.6在审
  • 朴仙美;金南局;权殷美;陈尚完 - 爱思开海力士有限公司
  • 2022-01-26 - 2022-11-15 - H01L27/11582
  • 本申请涉及半导体存储器装置及其制造方法。一种半导体存储器装置及其制造方法,该半导体存储器装置包括:下层叠物,其中多个第一层间绝缘层和第一导电层交替地层叠;多个单元插塞,其在垂直方向上穿过下层叠物;在下层叠物上的上层叠物,其中多个第二层间绝缘层和至少一个第二导电层交替地层叠;多个漏极选择插塞,其穿过上层叠物并且与多个单元插塞的上部接触;以及分离图案,其使多个漏极选择插塞当中的相邻的漏极选择插塞分离,其中,分离图案与相邻的漏极选择插塞中的每一个侧壁接触。
  • 半导体存储器装置及其制造方法
  • [发明专利]大面积单晶单层石墨烯膜及其制备方法-CN201480029328.4在审
  • 朴浩范;金翰秀;尹熙煜;朴仙美;李民镛 - 汉阳大学校产学协力团
  • 2014-05-21 - 2016-01-06 - C23C16/22
  • 本发明涉及:大表面积单晶单层石墨烯膜,其中,石墨烯层在衬底上或在没有衬底的情况下在仅以(111)晶面为取向的单晶金属催化剂层上形成;和用于通过金属前体的热处理和化学气相沉积制备仅以(111)晶面为取向的大表面积单晶单层石墨烯的方法。根据本发明,仅以(111)晶面为取向的单晶金属催化剂层可以在衬底上或甚至在没有衬底的情况下以箔、平板、块或管的各种形式来形成,和,通过制备其中石墨烯层在催化剂层上形成的大表面积单晶单层石墨烯,可以以批量生产的方式使高品质的大表面积石墨烯薄膜商品化,并且可以使用本发明作为透明电极材料和用于显示元件、半导体元件、分离膜、燃料电池、太阳能电池或各种类型的传感器的材料。
  • 大面积单层石墨及其制备方法
  • [发明专利]非易失性存储器件-CN201210047282.1有效
  • 朴仙美;朴丙洙;吴尚炫 - 海力士半导体有限公司
  • 2012-02-28 - 2012-11-07 - H01L27/115
  • 本发明提供一种非易失性存储器件,包括:第一沟道,所述第一沟道包括自衬底垂直地延伸的一对第一柱体和位于所述一对第一柱体之下并且将一对第一柱体耦接的第一耦接部分;第二沟道,所述第二沟道与第一沟道相邻,包括自衬底垂直地延伸的一对第二柱体和位于一对第二柱体之下并且将一对第二柱体耦接的第二耦接部分;多个栅电极层和层间电介质层,所述多个栅电极层和层间电介质层沿着第一柱体和第二柱体交替地层叠;以及第一沟槽和第二沟槽,所述第一沟槽和第二沟槽分别将一对第一柱体之间和一对第二柱体之间的多个栅电极层隔离。
  • 非易失性存储器
  • [发明专利]制造快闪存储器件的方法-CN200710084450.3无效
  • 朴仙美;全裕男;金南经;金世埈 - 海力士半导体有限公司
  • 2007-03-02 - 2007-09-05 - H01L21/8247
  • 本发明提供一种制造快闪存储器件的方法,包括蚀刻在基板上方设置的绝缘层以形成接触孔从而定义暴露在该基板上形成的结区域的接触孔。以第一导电材料填充该接触孔,该第一导电材料接触该结区域且延伸于该接触孔的上表面上方。蚀刻该第一导电材料以部分填充该接触孔,从而该第一导电材料填充该接触孔的下部分,其中该接触孔的上部分因该第一导电材料的蚀刻而保持未被填充,其中所述被蚀刻的第一导电材料定义接触塞。在该接触塞上方形成第一电介质层和第二电介质层,藉以填充该接触孔的上部分。蚀刻该第一和第二电介质层的一部分以暴露该接触塞和该接触孔的上部分。在该接触塞上形成第二导电材料且填充该接触孔的上部分来形成位线。
  • 制造闪存器件方法

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