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[发明专利]带电粒子束装置-CN201910886762.9在审
发明人：大庭弘;杉山安彦;大塚靖孝 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-09-19 - 公布日： 2020-05-05 - 主分类号： H01J37/32 文献下载
摘要：提供带电粒子束装置。简便地计算引出电压的设定值。带电粒子束装置具有：气体导入室，其被导入原料气体；等离子体生成室，其与气体导入室连接；线圈，其沿着等离子体生成室的外周卷绕，被施加高频电力；引出电极，其对从等离子体生成室的出口的等离子体开口流出的等离子体施加引出电压；电流测定部，其测定从等离子体开口引出的等离子体的等离子体电流的大小；引出电压计算部，其根据相对于引出电压的变化的由电流测定部测定的等离子体电流的大小的变化，计算引出电压的设定值即引出电压设定值；以及控制部，其根据引出电压计算部计算的引出电压设定值对引出电压进行控制。
带电粒子束装置

[发明专利]带电粒子束装置和试样加工观察方法-CN201910898398.8在审
发明人：铃木秀和;麻畑达也 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-09-23 - 公布日： 2020-04-28 - 主分类号： H01J37/26 文献下载
摘要：提供带电粒子束装置和试样加工观察方法，不用变更载台的尺寸便能够缩小电子束镜筒与试样之间的距离，从而得到高分辨率的SEM图像，并且能够得到正对试样的观察面的SEM图像。具有如下的工序：试样片形成工序，对所述试样照射聚焦离子束而从试样切出试样片；截面加工工序，利用试样片支承体对试样片进行支承，对试样片的截面照射聚焦离子束而进行截面的加工；试样片接近移动工序，利用试样片支承体对试样片进行支承，使试样片移动到比聚焦离子束的束光轴与电子束的束光轴的交点更接近电子束镜筒的位置；以及SEM图像取得工序，朝向试样片的所述截面照射电子束，从而取得截面的SEM图像。
带电粒子束装置试样加工观察方法

[发明专利]薄片试样制作装置以及薄片试样制作方法-CN201980004416.1在审
发明人：中谷郁子 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-02-28 - 公布日： 2020-04-24 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：薄片试样制作装置(1)具备会聚离子束照射光学系统(14)、载台(12)、载台驱动机构(13)以及计算机(22)。会聚离子束照射光学系统(14)照射会聚离子束(FIB)。载台(12)保持试样片(Q)。载台驱动机构(13)驱动载台(12)。计算机(22)在试样片(Q)中设定作为加工区域的薄片化区域和包围薄片化区域的整周的周缘部。计算机(22)使得从与试样片(Q)的被照射面交叉的方向照射会聚离子束(FIB)，通过蚀刻加工将薄片化区域的厚度形成得比周缘部的厚度薄。
薄片试样制作装置以及制作方法

[发明专利]色谱仪-CN201910915187.0在审
发明人：伊藤正人;裴敏伶;小泽真一 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-09-26 - 公布日： 2020-04-07 - 主分类号： G01N30/88 文献下载
摘要：提供色谱仪，容易地应对色谱仪不适当地动作的情况。色谱仪(液相色谱仪(100))供给洗脱液和试样，通过分离并检测上述试样所包含的成分而对上述试样进行分析，该色谱仪(液相色谱仪(100))具有：检测部(控制部(170))，其检测上述分析中的不良情况；以及动作控制部(控制部(170))，其使与上述分析相关的结构要素进行用于确定上述不良情况的原因的动作、或者用于避免上述不良情况的动作中的至少一方。
色谱仪

[发明专利]色谱仪和色谱仪的分析方法确定装置-CN201910915362.6在审
发明人：伊藤正人;宝泉雄介;小泽真一 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-09-26 - 公布日： 2020-04-07 - 主分类号： G01N30/88 文献下载
摘要：提供色谱仪和色谱仪的分析方法确定装置，更容易进行与分析对象对应的适当的分析。色谱仪的分析方法确定装置具有：输入部(220)，其受理作为分析对象的试样的试样名和成分名的输入；存储部(230)，其与试样名和成分名对应地存储上述试样名的试样中的上述成分名的成分的分析方法；以及控制部(210)，其从存储部检索并读出与输入到输入部的试样名和成分名对应的分析方法，并将该分析方法提示给用户。
色谱仪分析方法确定装置

[发明专利]液相色谱分析方法以及液相色谱分析装置-CN201910915871.9在审
发明人：桥本诚;松下美由纪;柳田显郎;森川刚;深海和人 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-09-26 - 公布日： 2020-04-07 - 主分类号： G01N30/88 文献下载
摘要：本发明提供液相色谱分析方法以及液相色谱分析装置，能够利用液相色谱准确、简便且短时间地对试样中所含的多个成分进行测定。在液相色谱分析方法中，利用液相色谱对测定试样中所含的多个成分进行定量，其中，该液相色谱分析方法具有：预处理工序，从多个成分中分离出各个成分；以及定量工序，在将多个成分混在一起的状态下利用一次液相色谱对各成分进行定量时的洗提时间设为T0时，针对分离出的各个成分，调整各成分的液相色谱的测定条件而进行定量，使得分别能够以洗提时间小于T0且各个成分的洗提时间之差为±10％以内的方式利用液相色谱进行定量。
色谱分析方法以及装置

[发明专利]色谱仪及色谱分析的定量方法-CN201910788274.4在审
发明人：福田真人;伊藤正人;杉本直树 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-08-26 - 公布日： 2020-04-03 - 主分类号： G01N30/88 文献下载
摘要：本发明提供色谱仪及色谱分析的定量方法，既使用基于内部标准法的检量线，又不需要在未知试样中添加标准物质的作业，在简化测定的同时抑制了定量精度的降低。色谱仪具备控制部和存储部，对规定的测定对象进行定量，存储部存储基于内部标准法的检量线数据，该检量线数据是通过对测定对象添加规定浓度的内部标准而求出的，具有测定对象的强度和内部标准的强度之间的强度比，当测定了包含规定浓度的内部标准的QC样品的色谱、以及包含浓度未知的测定对象且不包含内部标准的未知试样的色谱时，控制部根据QC样品的内部标准的强度和未知试样的测定对象的强度计算出强度比，根据检量线对未知试样的测定对象进行定量。
色谱仪色谱分析定量方法

[发明专利]聚焦离子束装置-CN201710160053.3有效
发明人：大西毅;岩堀敏行 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2017-03-17 - 公布日： 2020-03-20 - 主分类号： H01J37/20 文献下载
摘要：本发明涉及聚焦离子束装置。提供一种能够以简易的结构使观察对象的微小样品片在聚焦离子束装置与样品观察装置之间容易地移动的聚焦离子束装置。具备：样品台，载置样品；聚焦离子束镜筒，向所述样品照射聚焦离子束来制作微小样品片；样品室，收容所述样品台和所述聚焦离子束镜筒；侧面插入型的托架，以能对所述样品室插拔的方式形成，能够在顶端侧保持所述微小样品片；以及样品片移动单元，使所述微小样品片在所述样品台和所述托架之间移动，所述样品台以能至少分别沿着沿水平面的x轴和与其成直角的y轴及沿铅垂方向的z轴移动的方式形成，在所述样品台的一端形成有与所述托架拆装自由地卡合并且伴随着该样品台的移动也使该托架移动的托架卡合部。
聚焦离子束装置

[发明专利]色谱装置-CN201910799914.1在审
发明人：福田真人;伊藤正人 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-08-28 - 公布日： 2020-03-10 - 主分类号： G01N30/86 文献下载
摘要：本发明提供色谱装置，能够在装置侧可靠地执行色谱装置的分析步骤和条件的变更，能够简单且无错误地进行分析。色谱装置(100)依据规定的步骤和条件来进行色谱分析，其中，具有：读取部(11)，在依据一个分析步骤书开始色谱分析时，该读取部(11)按照规定的定时从将步骤和条件记载于规定的位置的纸质文件或者包含文本数据的分析步骤书(20a～20c)中读取位置的数值和/或字符；以及控制部(9)，其根据读取部读取的数值和/或字符、或者与该读取的数值和/或字符预先关联起来的事项，执行色谱分析。
色谱装置

[发明专利]荧光X射线分析装置-CN201510838845.2有效
发明人：高原稔幸;能田弘行;增田蓝 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2015-11-26 - 公布日： 2020-03-06 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明涉及荧光X射线分析装置。提供一种即使不将装置大型化也能够大幅度地提高载置于样品台的样品的测定位置的观察性并且样品的放入取出也变得容易的X射线分析装置。具备：样品台2，具有能够设置样品的载置面；X射线源3，配置在对样品照射一次X射线X1的照射位置P的正上方，对样品照射一次X射线；检测器4，对从被照射一次X射线后的样品产生的荧光X射线进行检测；以及遮蔽容器5，至少收纳样品台、X射线源和检测器，遮蔽容器具备：样品室部6，收纳样品台；以及门部7，能够对样品室部的上部的至少前半部分进行开闭，X射线源和检测器被配置在门部的后侧。
荧光射线分析装置

[发明专利]X射线透射检查装置和X射线透射检查方法-CN201910681428.X在审
发明人：的场吉毅 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-07-26 - 公布日： 2020-02-14 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明提供X射线透射检查装置和X射线透射检查方法，能够迅速地获取试样的各高度的截面像。该X射线透射检查装置具有：X射线源(2)；二维传感器(3)，其检测透射过试样(S)的X射线；试样移动机构，其能够使试样移动；运算部，其处理由二维传感器检测出的X射线的图像；以及显示部，其能够显示截面像，二维传感器能够一次读出通过所有的像素检测到的图像，在将移动速度设为V1、将二维传感器的帧速率设为F、将二维传感器的像素间距设为A、将从X射线源到二维传感器的距离设为LS时，运算部进行沿着移动方向对每隔(LS×V1)/(L×F×A)的像素的图像进行持续相加的加法处理，从而生成与X射线源相距L的位置处的试样的截面像。
二维传感器透射检查装置试样移动运算部图像透射像素加法处理像素检测移动方向位置处检测读出相加相距移动检查

[外观设计]热重量测量器-CN201930270554.7有效
发明人：小岛昭;柳濑和幸;邹梦婷;山本俊;高木康行;松本凉太;迎井朝之;横山仁 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-05-29 - 公布日： 2020-01-07 - 主分类号： 10-04 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：热重量测量器。;2.本外观设计产品的用途：本产品为将试剂加热、冷却或保持一定温度时测量试剂热重量的测量器。;其主要用于对被测量的试剂成分的材料赋予特征。;3.本外观设计产品的设计要点：在于本外观设计产品的形状。;4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。;5.在示出各部名称参考图中，E‑加热炉盖，F‑液晶显示部，G‑操作按钮，H‑电源按钮。;其中，斜线所示的F部与H部为透光性材质。
热重量测量器

[发明专利]电感耦合等离子体发生装置和电感耦合等离子体分析装置-CN201610135085.3有效
发明人：中川良知;一宫丰 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2016-03-10 - 公布日： 2019-12-10 - 主分类号： H05H1/28 文献下载
摘要：本发明涉及电感耦合等离子体发生装置和电感耦合等离子体分析装置。提供能够不使用冷却水而以高的冷却能力冷却高频感应线圈的电感耦合等离子体发生装置和使用其的电感耦合等离子体分析。电感耦合等离子体发生装置（10）由等离子体焰炬（13）、高频感应线圈（14）和高频电源（16）概略构成。此外，在电感耦合等离子体发生装置（10）设置有第一端（18a）连接于高频感应线圈（14）而第二端（18b）连接于冷却块（17）的传热构件（18）。使传热构件（18）的第二端（18b）为与第一端（18a）相比上方的位置，由此，凝结后的工作液由于重力的作用而向第一端（18a）落下移动，因此，工作液的循环、移动性提高，能够发挥高的冷却能力。
电感耦合等离子体发生装置分析

[发明专利]荧光X射线分析装置以及其样品显示方法-CN201510538448.3有效
发明人：八木勇夫 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2015-08-28 - 公布日： 2019-12-06 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明涉及荧光X射线分析装置以及其样品显示方法。具备：样品台（2），能够设置样品S；样品移动机构，能够移动样品台（2）；X射线源，对样品照射一次X射线；检测器，检测从样品产生的荧光X射线；摄像部，对样品台上的样品进行摄像；显示器部（7），在画面中显示所摄像的图像；定点设备，能够在画面中指定特定的位置来输入；图像处理部，在输入的画面中的位置显示标记M；以及控制部，控制样品移动机构和图像处理部，控制部在利用样品移动机构使样品台移动时利用图像处理部使画面中的标记沿与样品台相同的移动方向移动相同的移动距离并显示。
荧光射线分析装置及其样品显示方法

[发明专利]带电粒子束装置-CN201880021206.9在审
发明人：藤井利昭;富松聪;铃木浩之 -专利权人： 日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2018-03-27 - 公布日： 2019-11-19 - 主分类号： H01J37/20 文献下载
摘要：带电粒子束装置具有：带电粒子束镜筒，其向试样照射带电粒子束；倾斜台(64A)，其具有能够对试样进行保持的第1试样保持部，将第1试样保持部保持为能够绕轴线(S1)进行转动；倾斜台(64B)，其具有能够对试样进行保持的第2试样保持部，将第2试样保持部保持为能够绕与轴线(S1)平行的轴线(S2)进行转动；以及驱动力提供部，其向倾斜台(64A、64B)提供使倾斜台(64A、64B)连动地转动的驱动力。
试样保持部倾斜台转动带电粒子束装置照射带电粒子束带电粒子束驱动力提供驱动力绕轴线镜筒连动平行