专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]LED芯片、LED器件、消杀设备及LED芯片制备方法-CN202211152295.5在审
  • 张立胜;沈波;康香宁;许福军;秦志新 - 北京中博芯半导体科技有限公司
  • 2022-09-21 - 2023-01-13 - H01L33/46
  • 本申请实施例公开了一种LED芯片、LED器件、消杀设备及LED芯片制备方法,该LED芯片包括第一半导体层、多个凸台、反光膜、第一电极及第二电极,第一半导体层具有第一上表面;各凸台均凸设于第一上表面,各凸台包括发光层和第二半导体层,各凸台具有第二上表面及设于第二上表面周侧的六个侧表面,各侧表面均连接第一上表面和第二上表面;反光膜设于各侧表面;第一电极设于第一上表面并位于凹槽内;第二电极设于凸台的第二上表面。对于该LED芯片,在第一半导体层的第一上表面形成点状分布且具有六个侧表面的多个凸起,各侧表面附着有反光膜,该侧表面的反光膜能够将侧面光反射回出光面,降低了侧表面出光的光损耗,提高了LED芯片的出光效率。
  • led芯片器件设备制备方法
  • [发明专利]一种高晶体质量AlN薄膜及其制备方法和应用-CN202110322125.6在审
  • 许福军;沈波;王嘉铭;康香宁;秦志新 - 北京大学
  • 2021-03-25 - 2022-09-30 - H01L21/02
  • 本发明属于III族氮化物半导体制备技术领域,具体涉及高晶体质量AlN薄膜及其制备方法和应用。本发明所述的AlN薄膜,其含有金属原子空位,且所述金属原子空位的浓度为过饱和浓度。本发明在AlN生长过程中,有意地引入具有低脱附能的异质金属原子,并通过热处理使异质金属原子向表面扩散并脱离晶格,从而在AlN薄膜内产生过饱和浓度的金属原子空位;利用该空位能够促进AlN薄膜中贯穿位错的攀移,进而弯折,发生湮灭或反应,不再向上延伸,从而有效减少贯穿位错密度并实现原子级别平整表面。同时,本发明提供的AlN薄膜的制备方法具有效率高、重复性好的特点,适合大力推广。
  • 一种晶体质量aln薄膜及其制备方法应用
  • [发明专利]一种高质量n型AlGaN的制备方法及应用-CN202210281153.2在审
  • 许福军;王嘉铭;沈波;郎婧;康香宁 - 北京大学
  • 2022-03-21 - 2022-08-09 - C30B25/18
  • 本发明涉及III族氮化物半导体制备技术领域,具体涉及一种电子浓度高、电阻率低,且具有原子级平整的表面形貌的n型AlGaN的制备方法。所述n型AlGaN的制备方法包括两个关键步骤,一是增大蓝宝石衬底的斜切角,二是降低n‑AlGaN层的外延温度。本发明通过使用较大斜切角的蓝宝石衬底,使得衬底表面台阶宽度变窄,如此可使得n型AlGaN生长时满足二维生长模式所需要的吸附原子扩散长度变短,为较低生长温度情况下仍然维持二维生长、并能保持较高的生长速度打开控制窗口;在此基础上再进一步降低外延n‑AlGaN层的温度,有效抑制了金属空位的形成,缓解了金属空位对电子的补偿作用,从而可在保证表面形貌原子级平整的前提下,显著提高n型AlGaN中的电子浓度,并降低电阻率。
  • 一种质量algan制备方法应用
  • [发明专利]一种降低高Al组分n-AlGaN材料接触电阻的方法及应用-CN202110102249.3在审
  • 许福军;沈波;张娜;王嘉铭;康香宁;秦志新 - 北京大学
  • 2021-01-26 - 2022-07-26 - H01L33/00
  • 本发明涉及半导体光电器件技术领域,具体涉及一种降低器件制造工艺中高Al组分n‑AlGaN材料接触电阻的方法及应用。所述降低高Al组分n‑AlGaN材料接触电阻的方法为在保护气体作用下,对n‑AlGaN层进行表面原子吸附及退火处理;所述原子为Si原子和N原子。采用本发明所述方法可显著提高材料表面的载流子浓度,从而有助于形成优良的欧姆接触性能,降低材料的接触电阻率,解决了高Al组分n‑AlGaN材料欧姆接触制备难,尤其是刻蚀后的欧姆接触难形成的问题。所述方法过程简单易重复,有效避免了现有工艺中酸碱溶液腐蚀或者高温退火等技术带来的工艺复杂、不稳定的问题,可以保障规模化的批量生产,并且对后续的器件制作不会产生任何不良影响,具有较好的工艺兼容性。
  • 一种降低al组分algan材料接触电阻方法应用
  • [发明专利]一种AlGaN基深紫外发光二极管器件结构及其制备方法-CN202111389389.X在审
  • 许福军;沈波;王嘉铭;郎婧;康香宁;秦志新 - 北京大学
  • 2021-11-22 - 2022-04-19 - H01L33/06
  • 本发明涉及化合物半导体光电子器件领域,尤其涉及一种高性能AlGaN基深紫外发光二极管器件(LED)的器件结构及其制备方法。本发明所述的AlGaN基深紫外发光二极管器件结构具有V形立体p‑n结注入结构。所述V形立体p‑n结注入结构是通过在AlGaN基量子阱部分的V形腐蚀坑的侧壁的半极性面上进一步形成AlGaN电子阻挡层(EBL)、p‑AlGaN和p‑GaN接触层而形成的。该V形立体p‑n结注入结构改变了目前广泛使用的在(0001)面蓝宝石衬底上生长的AlGaN基深紫外LED中空穴只能沿着[000‑1]方向注入这一固有限制,从而有效解决空穴迁移能力不足导致的注入效率低下的问题,显著提升LED器件量子阱中空穴浓度和均匀分布,进而提升器件的光输出功率,同时有效解决了大电流注入下的Droop效应问题。
  • 一种algan深紫发光二极管器件结构及其制备方法

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