专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果15个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]包壳材料/纳米晶/碳纳米管复合结构材料及其制备方法-CN201911185896.4在审
  • 邰凯平;毛鹏燕;崔刊;乔吉祥;赵洋;康斯清 - 中国科学院金属研究所
  • 2019-11-27 - 2021-05-28 - G21F1/12
  • 本发明属于复合材料和抗辐照损伤材料领域,具体为一种包壳材料/纳米晶/碳纳米管复合结构材料及其制备方法。该复合材料包括:自支撑CNTs为基体,在其表面均匀附着纳米晶及高温热稳定的包壳材料。该制备方法包括:将CNTs基底在20至800℃温度下,利用物理或化学气相沉积方法均匀沉积纳米晶;再利用物理或化学气相沉积、裂解有机物等技术沉积高温稳定的非晶碳或金属氧化物。该复合材料具有高密度纳米线结构,较高的电导率,良好的抗辐照性能、高温热稳定性、化学稳定性和柔性弯曲性能可大面积制备,铺展在具有任意曲率的物体表面。本发明用于中高温度下工作的电子器件和传感器材料等,也能作为保护层材料应用于辐照损伤领域。
  • 材料纳米复合结构及其制备方法
  • [发明专利]一种无损转移自支撑低维材料的方法-CN201711218714.X有效
  • 邰凯平;赵洋;靳群;康斯清;姜辛 - 中国科学院金属研究所
  • 2017-11-28 - 2020-11-13 - H01L21/677
  • 本发明涉及低维功能材料科学和材料测试分析技术研究领域,具体为一种针对箔材、薄膜、二维材料等进行精确定位、裁剪、无损转移自支撑低维材料的方法。由于大部分需要进行转移操作的自支撑低维材料,其厚度在几纳米到几百微米不等,面内尺寸多在毫米至微米量级,取样加工过程中和转移过程中极易损坏,且其比重极小,易受外界环境(如:气流、静电等)的影响较大而难以准确控制定位。该方法引入了飞秒激光裁剪、微重力和静电引入以及显微定位等技术手段,可以有效解决以上问题,尤其针对需要把材料转移到微小易损器件上,该方法可以得到完美的应用,极大的拓展对自支撑低维功能材料的研究应用。
  • 一种无损转移支撑材料方法
  • [实用新型]一种材料导热性能测试系统-CN201922110167.4有效
  • 邰凯平;赵洋;谭军;康斯清 - 中国科学院金属研究所
  • 2019-11-30 - 2020-09-18 - G01N25/20
  • 本实用新型涉及材料性能表征领域,具体涉及一种材料导热性能测试系统。该系统样品放在样品分析室内的样品台上,真空及控温系统分别通过测试温度环境获得系统和真空获得系统与样品分析室相连,信号接收与控制系统的输入端与测试温度环境获得系统连接,信号接收与控制系统的输出端与数据可视化系统连接。信号接收与控制系统主要是对待测芯片可控地输出测试信号,并同时接收样品的反馈信号,处理后传输给数据可视化系统,数据可视化系统可对获得的数据进行自动化处理并输出可视化的数据图。本实用新型实现了在150K~750K温度范围对块体和薄膜材料的面内及面外的导热性能测试,具有测试材料范围广泛,测试结果准确等优点。
  • 一种材料导热性能测试系统
  • [实用新型]一种电子显微镜原位力学性能测试芯片-CN201920925743.8有效
  • 邰凯平;谭军;毛鹏燕;赵洋;康斯清 - 中国科学院金属研究所
  • 2019-06-19 - 2020-05-15 - G01N23/22
  • 本实用新型涉及电子显微镜原位力学性能测试领域,尤其涉及一种电子显微镜原位力学性能测试芯片。该芯片在单晶硅片上形成的两部分:一部分为固定端,通过固定件安装孔固定在电镜样品杆或支架上;另一部分为运动端,运动端通过与施力端连接件连接施加力的部件;固定端和运动端两部分通过相互配合的凹/凸部分相扣在一起,实现对样品载荷的施加。在双抛单晶硅片的两侧沉积氮化硅,一侧利用紫外光刻技术沉积铂电极,而后进行深硅刻蚀;另一侧进行等离子体刻蚀,先将氮化硅刻蚀出所需图形,而后利用湿法刻蚀对硅进行刻蚀,最后沉积钝化层,得到实现施加载荷和加热的电子显微镜原位力学性能测试芯片,对样品进行显微结构演化分析。
  • 一种电子显微镜原位力学性能测试芯片

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top