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[发明专利]一种多层折射样品形貌结构检测系统及方法-CN202311089248.5在审
发明人：夏珉;邵谭彬;郭文平;李微;杨克成 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2023-08-25 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种多层折射样品形貌结构检测系统及方法，方法包括：发射光束；获取发射光束反射得到的第一路反射光束；获取发射光束经色散元件和光学延迟单元传输至待测样品后从待测样品反射的第二路反射光束；光学延迟单元用于调制不同次测量的第二路反射光束的光程，使得不同次测量得到的待测样品形貌结构能够拼接；将第一路和第二路反射光束的干涉光谱进行分析成像，得到待测样品的形貌结构信息，并将不同次测量得到待测样品形貌结构信息拼接；第二路反射光束中每个反射界面的反射信号具有相同符号的非线性相位，使得光分析成像模块对干涉光谱相位补偿时真实信号被增强，真实信号共轭的镜像信号被抑制。本发明实现对大深径比样品的形貌检测。
一种多层折射样品形貌结构检测系统方法

[发明专利]一种基于标定板的视野不重叠三维点云拼接方法及系统-CN202310413205.1在审
发明人：郭文平;康祉璐;杨克成;夏珉 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2023-04-14 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G06T3/40 文献下载
摘要：本发明提供一种基于标定板的视野不重叠三维点云拼接方法及系统，产品包括M条不重叠边框，本发明设计的标定板包括M条标定边框，每条标定边框上放置有至少3个不共线的标定球，M条标定边框与M条不重叠边框的位置分布一一重合；不重叠边框指通过多个视野下的三维传感器采集的边框三维点云数据间不存在重叠区域。基于标定板，本发明通过坐标统一算法实现对多传感器测量系统坐标系的统一，解决了多个高精度小视场三维传感器测量产品边框不同方位时不存在重叠区域而无法进行高精度拼接的问题，并且通过辅助孔和穷举迭代算法进一步优化实现点云拼接的仿射变换矩阵，最终实现三维点云的高精度拼接。
一种基于标定视野重叠三维拼接方法系统

[发明专利]一种光学无接触式扫描大深径比小孔的测量装置及方法-CN202210544594.7有效
发明人：沈泓宇;夏珉;郭文平;李微;杨克成 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-05-19 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01B11/22 文献下载
摘要：本发明提供了一种光学无接触式扫描大深径比小孔的测量装置及方法，属于扫描测量领域，方法为：将入射光分成第一子光束和第二子光束；在二维振镜系统中添加电压控制信号，使第一子光束到达待测小孔区域，通过调节准直器和场镜的搭配，调节第一子光束的光斑大小和准直距离，对待测小孔区域进行扫描，经反射形成反射光；将第二子光束反射形成参考光；反射光与参考光发生干涉，对干涉信号进行光谱分析后依次进行傅里叶变换和寻峰处理，获取小孔的深度信息和小孔底部的表面形貌信息。本发明提供的光学无接触式扫描大深径比小孔的测量装置可以测量孔径大于或等于300μm，同时深度小于或等于2.3cm，深径比达到75以下的底部形貌信息。
一种光学接触扫描大深径小孔测量装置方法

[发明专利]一种实现动态调节扫描光束直径的样品检测装置及方法-CN202210544597.0有效
发明人：董伯彰;郭文平;李微;杨克成;夏珉 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-05-19 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供了一种实现动态调节扫描光束直径的样品检测装置及方法，属于样品检测领域，方法为：将低相干光分为第一路子光束和第二路子光束；将第一路子光束经反射形成参考光；将第二路子光束转变为线偏振光；评估样品当前扫描检测位置所需的扫描精细程度，在反射式空间光调制器上加载相位图，在扫描过程中动态改变光束的波前相位并反射扫描光束；对样品面扫描，并利用扫描透镜压缩扫描光束，经样品表面反射形成反射光；反射光与参考光发生干涉，由光谱仪获取的频域干涉信息经计算机提取出样品各点高度信息；对样品待检测区域中各个扫描位置的高度信息进行整合，获取整个样品的表面形貌。本发明大大提高了对不同区域扫描精度不同的样品的检测效率。
一种实现动态调节扫描光束直径样品检测装置方法

[发明专利]一种同步测量多角度动态光散射的粒径分布测量装置-CN202210955994.7有效
发明人：李微;孟自强;夏珉;郭文平 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-08-10 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种同步测量多角度动态光散射的粒径分布测量装置，属于光学测量领域。本发明利用球面反射镜、多角度选择器和面阵光电倍增管的组合，同时测量颗粒群更多散射角度的动态光散射信号，其中，样品池中心颗粒群发生散射，散射光经球面反射镜反射后，变为向内腔开口方向传播的平行光束；多角度选择器通过与不同微面元对应的多个小孔，实现多个角度的出射光选择；面阵光电倍增管一次性获取多个角度的动态光散射信息，避免了使用多个探测器探测不同角度动态光散射信息时存在的探测偏差问题，测量稳定性好，结合粒径分布反演算法，测量速度快、精度高，可同步测量粒径从纳米到微米分布较宽的颗粒群。
一种同步测量角度动态散射粒径分布装置

[发明专利]一种混杂颗粒系粒径分布反演方法与系统-CN202211038130.5有效
发明人：李微;徐佳星;杨克成;夏珉 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-08-29 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种混杂颗粒系粒径分布反演方法与系统，属于光散射微小颗粒检测领域。包括：根据若干散射角度测量到的未知粒径分布的待测样品的光强自相关函数，通过累积量法计算在若干散射角度下待测样品的平均粒径，接着将该平均粒径输入至采用最优平滑因子训练好的混杂颗粒系粒径分布反演回归网络，最终得到待测样品的粒径分布曲线，所述最优平滑因子根据标定的动态光散射系统的噪声水平，评价并比较混杂颗粒系粒径分布反演回归网络反演效果得到。该方法适用于球形颗粒系、非球形颗粒系及存在多种不同性质与形态颗粒物的混杂颗粒系，且粒径分布反演速度快、效果好、非接触，可满足实际检测环境下的多种需求。
一种混杂颗粒粒径分布反演方法系统

[发明专利]一种光伏印刷网版的栅线提取方法及系统-CN202210545211.8在审
发明人：王蕾;夏珉;郭文平;李微;杨克成 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-05-19 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种光伏印刷网版的栅线提取方法及系统，包括：利用矩形和六边形的结构元素对图片进行灰度值闭运算，得到粗栅区域1和粗栅区域2；提取竖直型栅线区域。对粗栅区域1进行开运算得到竖直型栅线1；提取波浪型栅线。利用通过阈值分割得到的粗栅区域3和竖直型栅线进行差分运算得到波浪型栅线，并利用骨架抽取对波浪型栅线进行整形；提取图案栅线。利用粗栅区域2对竖直栅线1和波浪栅线2进行差分操作准确的提取图案栅线1。将分块提取的三种栅线进行组合得到网版的栅线。本发明实施例能够精确、快速的提取网版中的竖直型栅线、波浪型栅线和图案型栅线，提升了网版提升效率。
一种印刷提取方法系统

[发明专利]防喷溅的锅炉排渣装置及排渣方法-CN202010809578.7有效
发明人：夏珉;张保成;鲍纯阳 -专利权人：中海石油舟山石化有限公司
申请日： 2020-08-13 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： F23J1/06 文献下载
摘要：一种防喷溅的锅炉排渣装置，包括排渣立管、受渣套筒、环形盖板和止喷罩，排渣立管的上端形成排渣口并与锅炉的炉膛连接，下端伸入受渣套筒，环形盖板设于前述受渣套筒端口上，该环形盖板中部具有供排渣立管贯穿通过的中心孔；止喷罩上能启闭地开设有第一捅渣口；所述排渣立管侧壁能启闭地开设有第二捅渣口，第二捅渣口位于止喷罩上方位置并对应第一捅渣口布置。本发明还公开了一种排渣方法。环形盖板和止喷罩配合可以降低喷渣，确保安全作业。
喷溅锅炉装置方法

[发明专利]一种提高PCB检查精度的方法及系统-CN201910850100.6有效
发明人：夏珉;夏楠卿;胡海;杨克成 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2019-09-10 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开一种提高PCB检查精度的方法及系统，所述方法包括：读取Gerber文件，检查Gerber文件是否是RS‑274X格式；根据Gerber文件语法规则，查找各种Gerber文件代码，获得Gerber文件图像的参数信息；根据Gerber文件图像的参数信息，采用插值补点的算法计算绘制XLD图像所需参数；根据所计算得到的参数使用Halcon软件绘制XLD图像。同时本发明还实现了一种转换RS‑274X格式的Gerber文件为XLD文件的系统。本发明技术方案在应用于AOI上时，不会产生由于位图像素本身的大小带来的精度上的误差，具有精度高，简单高效的特点，提高了PCB检查的精准率。
一种提高 pcb 检查精度方法系统

[发明专利]一种用于丝网检测的多动子扫描方法及系统-CN202210544678.0在审
发明人：陈欣慰;杨克成;夏珉;李微;郭文平 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-05-19 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明提供一种用于丝网检测的多动子扫描方法及系统，包括：X轴导轨、多个Z轴导轨、多个相机动子、Y轴导轨、支撑机台以及工控机；每个相机动子包括：相机和激光传感器；相机用于拍摄丝印网版的图像，激光传感器用于测量相机的高度，以辅助Z轴导轨完成相机的对焦；工控机根据待检测丝印网版的面积大小，以及每个相机的视场大小，划分每一个相机动子的扫描成像区域；根据每个相机动子的扫描成像区域，设置相机动子的扫描起点和扫描路径；并模拟所有相机动子的扫描路径，确保任意两个相机动子不会发生碰撞，之后通过控制X轴导轨和Y轴导轨使每个相机动子按照对应的扫描起点和扫描路径采集丝印网版对应区域的图像。本发明可以提高检测效率。
一种用于丝网检测多动子扫描方法系统

[发明专利]一种Micro LED颜色均匀性检测系统-CN202110182271.3有效
发明人：李念念;洪志坤;王锦;郑增强;欧昌东;夏珉 -专利权人：武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司
申请日： 2021-02-10 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种Micro LED颜色均匀性检测系统，包括沿待检测的Micro LED光源的光路方向顺次设置的微透镜阵列、超表面微透镜阵列和探测器件；微透镜阵列靠近Micro LED光源的一侧设置有多个周期性间隔排列且与Micro LED光源中的发光单元一一对应的微透镜，每个微透镜将Micro LED光源中的一个发光单元输出的发散光调制为平行光；超表面微透镜阵列远离微透镜阵列的一侧设置有多个周期性间隔排列且与微透镜阵列中的微透镜一一对应的超表面结构，用于将各微透镜输出的平行光分开投射在探测器件的探测面阵上的不同区域；本发明将不同芯片单元的光充分地分离并聚焦在光电探测器的不同位置，从而可以单独检测到每个Micro LED芯片单元的波长特性，具有分辨率高的优点，提高了检测精度。
一种 micro led 颜色均匀检测系统

[发明专利]一种非特定形状物体识别、定位与机械手抓取系统及方法-CN202210384412.4在审
发明人：夏珉;许晗;李正泳;马宇霆 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-04-13 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G06V20/10 文献下载
摘要：本发明提供了一种非特定形状物体识别、定位与机械手抓取系统及方法，属于机械手抓取领域，系统包括多自由度机械手、机器视觉成像模块和中央处理模块，多自由度机械手与中央处理模块相连接，机器视觉成像模块与中央处理模块相连接，以将采集的图像数据传输给中央处理模块，中央处理模块对图像数据进行处理，提取目标轮廓，并根据目标轮廓结合标定后的物空间尺寸与像空间像素数量映射关系实现对每个目标的外形尺寸的测量，还用于采用深度神经网络模型依据目标外形尺寸对目标进行分类，以控制多自由度机械手对目标进行识别、定位和拾取。本发明还提供了对目标进行识别、定位和拾取的方法。本发明方法和系统适应性强，能对目标进行灵活拾取。
一种非特形状物体识别定位机械手抓取系统方法

[发明专利]一种光器件芯片封装金线缺陷检测方法-CN202210362277.3在审
发明人：夏珉;谢谊;杨克成;郭文平;李微 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-04-07 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种光器件芯片封装金线缺陷检测方法，属于机器视觉缺陷检测领域，本发明方法包括如下步骤：S1采集光器件芯片上具有封装金线的区域块图像，通过模板匹配检测获得金线的焊点，S2对封装金线的区域块图像依据灰度均值和灰度方差进行基于焊点寻迹的金线线区域提取，获得金线线区域，S3对提取的金线线区域进行灰度分析以及特征计算，完成金线缺陷检测。本发明检测方法的检测速度快，鲁棒性强。
一种器件芯片封装缺陷检测方法

[发明专利]一种具有主动光学防抖功能的面阵扫频测距/厚的装置和方法-CN202011517746.1有效
发明人：夏珉;谢谊;鄢淦威;杨克成;郭文平;李微 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2020-12-21 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明公开一种具有主动光学防抖功能的面阵扫频测距/厚的装置，属于测距/厚领域，包括第一、二二向色镜、分束器、远心镜头、相机、光谱仪、采集控制单元和可运动反射器件，第一二向色镜的透射光方向上设置分束器，分束器反射光方向上设置有载物台，分束器透射光方向上设置可运动反射器件，分束器具有四个端口，第一端口和第三端口位于相对的两个边上，第一端口正对第一二向色镜，第二端口正对载物台，第三端口正对可运动反射器件，第四端口的方向上设置有第二二向色镜，第二二向色镜透射光方向上设置远心镜头，远心镜头连接有相机，第二二向色镜反射光方向上设置光谱仪，光谱仪连通采集控制单元。本发明装置结构简单、测量快速、测量精度高。
一种具有主动光学功能面阵扫频测距装置方法

[发明专利]一种CMP垫的金属微粒缺陷的检测装置及方法-CN202111634362.2在审
发明人：郭文平;王锦;杨克成;夏珉;李微 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2021-12-29 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明提供了一种CMP垫的金属微粒缺陷的检测装置及方法，属于CMP垫内部缺陷的检测领域，方法包括：对CMP垫进行背向照明，使用机器视觉成像系统对CMP垫进行扫描成像；对扫描图像进行灰度值的底帽变换；对传统OSTU法获取预设前景灰度百分比进行改造，计算灰度阈值；对预处理后的扫描图像进行自动阈值分割；将分割完成之后的区域进行连通；将连通域中存在缺陷的特征区域进行图像坐标提取；采用张正友角点标定法，对机器视觉系统图像坐标系与X射线成像系统的图像坐标系进行坐标转换获取X射线成像的图像坐标；采用X射线成像方法，对金属微粒缺陷成像核实。本发明检测范围、检测精度和检测效率均得到了极大的提升。
一种 cmp 金属微粒缺陷检测装置方法

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