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[发明专利]放大器辅助测试装置、放大器测试设备和系统-CN202211516897.4在审
发明人：夏江;邱宝军;吕宏峰;刘鹏;徐军军;罗捷;刘竞升;王庆灼 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2022-11-30 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请涉及一种放大器辅助测试装置、放大器测试设备和系统，包括第一电源模块、第二电源模块和电源开关控制模块，第一电源模块用于连接待测放大器第一端，第二电源模块用于连接待测放大器的第二端，第二电源模块还通过电源开关控制模块接地；电源开关控制模块包括导通和断开两种工作模式。其中，当电源开关控制模块断开时，第二电源模块可以和第一电源模块一起对待测放大器进行供电。当电源开关控制模块导通时，第二电源模块与接地端之间短路，此时只有第一电源模块对待测放大器进行供电。综上所述，该放大器辅助测试装置可以通过开关控制模块的导通和断开来实现单双电源的切换，无需将电源线取下重新连接，提高了测试效率。
放大器辅助测试装置设备系统

[发明专利]运算放大器通道性能的测试装置和系统-CN202211525670.6在审
发明人：夏江;邱宝军;吕宏峰;刘鹏;徐军军;罗捷;刘竞升;王庆灼 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2022-12-01 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及一种运算放大器通道性能的测试装置及系统。该测试装置包括短接装置和两个以上的测试电路；测试电路包括信号输入端、信号输出端和信号检测端；信号输出端用于输出激励信号至对应的待测试通道，信号检测端用于接收待测试通道的输出信号。当运算放大器的待测试通道为多个时，短接装置能够快速地将多个待测试通道所接入的测试电路进行串接，若最后的输出信号异常，将多个待测试通道进行分组，通过短接装置将每组对应的测试电路串接后，分组进行检测，定位出异常通道所在的小组后还可以继续分组、串接、检测，从而实现对多个通道性能的高效检测，在检测出异常时能够快速缩小异常通道范围，快速定位，测试效率高。
运算放大器通道性能测试装置系统

[发明专利]腔体器件检测方法及装置-CN201911155729.5有效
发明人： 吕宏峰;王小强;孙宇;周帅;罗军;邓传锦 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2019-11-22 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：本申请涉及一种腔体器件检测方法及装置。其中，腔体器件检测方法包括判断是否接收到各检测点的电信号；电信号为对当前处于振动状态的待测元器件进行检测得到；若判断的结果为是，则根据电信号，确定各检测点中的应激触发点；根据应激触发点，以及各检测点与待测元器件中各腔体的位置关系，输出待测元器件腔体中多余物的位置；位置关系包括各检测点于待测元器件表面形成的覆盖面与各腔体的对应关系。通过上述腔体器件的检测方法，解决了传统技术不能测试出多余物精确位置的问题，并进一步提高了检测结果的精度。在传统技术中，需要通过示波器去观测传感器传输的电信号，以得到检测结果，而本申请可直接输出多余物的位置，提高了检测效率。
器件检测方法装置

[实用新型]一种用于梯形沟槽开挖与测量的定型装置-CN202220088230.8有效
发明人：赵红明;于德洲;高嵩;刘立建;何玉龙;曹洋;沈文阳;刘田林;冯帅;杨博阁;吕宏峰;唐卫 -专利权人：中交一航局第三工程有限公司;中交第一航务工程局有限公司
申请日： 2022-01-14 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G01B5/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及建设施工技术领域，具体为一种用于梯形沟槽开挖与测量的定型装置。一种用于梯形沟槽开挖与测量的定型装置，包括呈倒梯形的主体框架，所述主体框架上部开口，主体框架的下底边上设有与下底边基本垂直的测深尺，所述测深尺的两侧分别设有支撑杆，所述主体框架上部开口的两端之间连接钢丝线，所述钢丝线的中部缠绕在测深尺的顶端，主体框架的外侧套装有可上下移动的环形卡尺。本实用新型节省测量验收时间，可随时随地对边沟进行验收，保证其过程中的边沟质量，主体框架采用铝合金结构，质量较轻，方便携带。
一种用于梯形沟槽开挖测量定型装置

[实用新型]水泥稳定碎石模板支撑加固装置-CN202123312920.1有效
发明人：曹洋;于德洲;高嵩;沈文阳;刘田林;赵红明;冯帅;杨博阁;吕宏峰;唐卫 -专利权人：中交一航局第三工程有限公司;中交第一航务工程局有限公司
申请日： 2021-12-27 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： E01C19/50 文献下载
摘要：本实用新型涉及建筑施工领域，特别涉及一种水泥稳定碎石模板支撑加固装置。该装置模板内侧沿模板纵向间隔设置有多个加固筋，加固筋的上下两端分别与模板的内上壁和内下壁固定连接，相邻两模板之间设置有连接筋，连接筋插设于加固筋与模板内侧壁之间，模板的内上壁上设置有上定位螺母，模板的内下壁上设置有下定位螺母，上定位螺母和下定位螺母交错布置，并且上定位螺母和下定位螺母的一侧边分别与模板内侧壁相接触，上定位螺母和下定位螺母分别连接有斜向支撑杆，斜向支撑杆上设置有多个定位孔，定位孔内穿设有锚固钢纤，锚固钢纤的下端插入地面。本实用新型结构简单，制作方便，能够提高施工效率，加强水稳层边部压实效果，确保路面高程准确。
水泥稳定碎石模板支撑加固装置

[发明专利]电子元器件划痕缺陷检测方法、装置和计算机设备-CN202111575064.0在审
发明人：赵玥;罗军;吕宏峰;夏皓;王小强 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2021-12-21 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种电子元器件划痕缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取样本电子元器件的样本图像集，其中，样本图像集包括有划痕缺陷的样本图像以及无划痕缺陷的样本图像；基于平均精确度的平均值及样本图像集对划痕缺陷检测模型进行训练，调整划痕缺陷检测模型中的参数，获取训练后的划痕缺陷检测模型；根据训练后的划痕缺陷检测模型，对目标电子元器件进行划痕缺陷检测。采用本方法能够提高划痕缺陷检测模型的检测精度。
电子元器件划痕缺陷检测方法装置计算机设备

[发明专利]腔体器件的检测设备及系统-CN201911155713.4有效
发明人： 吕宏峰;王小强;孙宇;周帅;罗军;邓传锦 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2019-11-22 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01V9/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种腔体器件的检测设备及系统。其中，腔体器件的检测设备包括振动设备、振动传感器和主控电路；主控电路包括信号发生电路和芯片；芯片分别连接信号发生电路和振动传感器；信号发生电路连接振动设备；芯片指示信号发生电路向振动设备传输振动驱动信号，以使设于振动设备上的待测元器件处于相应的振动状态；芯片接收贴于待测元器件外表面的振动传感器传输的电信号，并基于电信号输出待测元器件内部多余物的位置。本申请提供的腔体器件的检测设备提高了检测结果的精度，在传统技术中，需要通过示波器去观测传感器传输的电信号，根据电信号的波形等参数，得到检测结果。而本申请中可以直接输出多余物的位置，大幅度的提高了检测效率。
器件检测设备系统

[发明专利]电子元器件的划痕检测方法、装置及计算机设备-CN202110960485.9在审
发明人：赵玥;罗军;王小强;吕宏峰;夏皓 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2021-08-20 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种电子元器件的划痕检测方法、装置及计算机设备。所述方法包括：获取待检测的电子元器件图像；对电子元器件图像进行分块，得到多个电子元器件图像块；根据每个电子元器件图像块的像素灰度值，确定每个电子元器件图像块的局部阈值；根据所获取的多个局部阈值，确定电子元器件图像的分割阈值；比较每个电子元器件图像块的像素灰度值与分割阈值，根据所得到的比较结果确定电子元器件图像中的划痕区域。采用本方法能够提高在电子元器件图像对比度低时分割划痕区域的准确率，从而提高划痕识别的准确率。
电子元器件划痕检测方法装置计算机设备

[发明专利]除法函数实现方法、电路、芯片以及系统-CN201810311630.9有效
发明人：罗军;罗宏伟;王小强;吕宏峰 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2018-04-09 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G06F7/544 文献下载
摘要：本申请涉及一种除法函数实现方法、电路、芯片以及系统。所述方法包括：获取待处理除法函数的变量值；将变量值输入二阶函数处理模型，得到二阶函数值；将变量值输入二阶非线性插值函数处理模型，得到二阶非线性插值函数值；获取二阶函数值与二阶非线性插值函数值的乘积，将乘积作为待处理除法函数的函数值输出，本发明通过二阶函数处理模型对待处理除法函数进行初始近似计算，再通过二阶非线性插值函数处理模型对待处理除法函数进行精确计算，其中，二阶函数处理模型采用了二阶函数实现，提高了除法函数计算的精度；二阶非线性插值函数处理模型中的系数具备对称性质，大大减少了处理器在进行除法函数运算时对硬件资源的占用。
除法函数实现方法电路芯片以及系统

[发明专利]电子元器件外壳缺陷检测方法及系统-CN202011594022.7在审
发明人： 吕宏峰;王小强;罗军;刘磊 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2020-12-29 - 公布日： 2021-04-30 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明涉及电子元器件检测技术领域，公开了一种电子元器件外壳缺陷检测方法及系统。所述方法包括将待测电子元器件移动至检测区域，获取所述电子元器件的第一表面图像信息；使所述电子元器件旋转预设角度，获取所述电子元器件的第二表面图像信息；根据所述第一表面图像信息和所述第二表面图像信息判断所述电子元器件是否存在表面缺陷。分别对电子元器件外壳上下表面是否存在表面缺陷进行判断。通过获取电子元器件的表面图像信息，同时在多重算法的协助下，对电子元器件表面是否存在缺陷进行判断，减少人为的参与程度和主观性，使检测更加客观，极大的提高了检测效率和精度，可以长时间连续工作，从而满足高强度任务需求。
电子元器件外壳缺陷检测方法系统

[发明专利]用于半导体集成电路粒子碰撞噪声试验的夹具及试验方法-CN201811206511.3有效
发明人：周帅;王斌;黄煜华;吕宏峰 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2018-10-16 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于半导体集成电路粒子碰撞噪声试验的夹具及试验方法，所述夹具包括固定座和连接片，所述固定座上开设有容纳槽，被测半导体集成电路和所述连接片设置在所述容纳槽内，所述固定座与粒子碰撞噪声试验的振动冲击台连接固定的状态下，所述连接片的一个侧面与所述振动冲击台相贴合，所述连接片的另一个侧面与所述半导体集成电路的芯腔面相贴合。基于本发明的夹具及试验方法，可以使芯腔面向上封装的陶瓷针栅阵列半导体集成电路进行PIND试验时，提高该类器件封装内腔多余颗粒的检测准确率，保证试验结果的准确性。
用于半导体集成电路粒子碰撞噪声试验夹具方法

[发明专利]夹具、夹具对及拉伸装置-CN201710867116.9有效
发明人： 吕宏峰;王小强;邓传锦;孙宇;罗军;刘焱 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所
申请日： 2017-09-22 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： G01N3/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种夹具、夹具对及拉伸装置，所述夹具用于固定样件，包括：基座和与基座可拆卸连接的夹板，所述夹板包括用于抵推样件的抵推部和与抵推部连接的夹持部，所述夹持部的壁面为平滑的圆弧面，且所述夹持部的壁面与样件的外廓匹配。本发明由于夹持部的壁面与样件的外廓匹配，夹持部与样件紧密贴合，夹具固定样件的稳定性强，且夹持部为平滑的圆弧面，增加夹具与样件受力部分的接触面积，保证样件受力均匀；另外，由于所述夹具还包括抵推部，在进行拉伸试验时，抵推部抵住样件，间接固定样件，助力于样件的拉伸，提高拉伸过程中夹具固定样件的可靠性。
夹具拉伸装置

[发明专利]具有复合金属镀层的电子元件中各镀层厚度的测量方法-CN201610069964.0有效
发明人：刘磊;吕宏峰;王小强;牛付林;卢思佳 -专利权人：工业和信息化部电子第五研究所
申请日： 2016-01-29 - 公布日： 2018-02-02 - 主分类号： G01B15/02 文献下载
摘要：本发明一种具有复合金属镀层的电子元件中各镀层厚度的测量方法，包括如下步骤(1)制备培养基片；(2)确定材质为M的金属镀层的影响因子Δ；(3)测量。本发明的方法可以实现对电子元件中复合金属镀层厚度的准确测量，特别是当电子元件的复合金属镀层中包含2个材质相同的金属镀层的情况，测量方法简便、成本低，结果重现性好。
具有复合金属镀层电子元件厚度测量方法

[实用新型]振动试验夹具-CN201620148487.2有效
发明人：邓传锦;罗宏伟;邓锐;姜思博;刘焱;吕宏峰 -专利权人：工业和信息化部电子第五研究所
申请日： 2016-02-26 - 公布日： 2016-07-27 - 主分类号： G01M7/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种振动试验夹具，包括母夹具和至少一个子夹具，所述母夹具设有至少一个安装部，所述子夹具可拆卸地固定于所述安装部，所述子夹具包括相互配合连接的盖板和底座，所述底座设有装夹槽，所述盖板上设有与所述装夹槽位置相对应的压紧凸台，所述压紧凸台与所述装夹槽配合。通过将测试芯片放置于所述子夹具的所述装夹槽内，并通过所述盖板上的所述压紧凸台抵紧，可以达到限制测试芯片各个方向自由度的目的，实现对测试芯片的稳固装夹，避免在振动测试试验中因松动对测试芯片造成损害，影响试验结果的准确性。
振动试验夹具

[发明专利]振动试验夹具-CN201610109243.8在审
发明人：邓传锦;罗宏伟;邓锐;姜思博;刘焱;吕宏峰 -专利权人：工业和信息化部电子第五研究所
申请日： 2016-02-26 - 公布日： 2016-07-13 - 主分类号： G01M7/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种振动试验夹具，包括母夹具和至少一个子夹具，所述母夹具设有至少一个安装部，所述子夹具可拆卸地固定于所述安装部，所述子夹具包括相互配合连接的盖板和底座，所述底座设有装夹槽，所述盖板上设有与所述装夹槽位置相对应的压紧凸台，所述压紧凸台与所述装夹槽配合。通过将测试芯片放置于所述子夹具的所述装夹槽内，并通过所述盖板上的所述压紧凸台抵紧，可以达到限制测试芯片各个方向自由度的目的，实现对测试芯片的稳固装夹，避免在振动测试试验中因松动对测试芯片造成损害，影响试验结果的准确性。
振动试验夹具

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