专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]集成电路元件与双极结晶体管-CN201110049415.4有效
  • 陈家忠;周淳朴;袁锋;刘莎莉 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2011-02-28 - 2012-03-21 - H01L29/78
  • 本发明一实施例提供一种集成电路元件与双极结晶体管。集成电路元件包括:一半导体基板;一鳍状结构,配置于半导体基板上,鳍状结构具有一集极部、一射极部与一基极部,基极部位于集极部与射极部之间,其中:集极部为一第一掺杂区,第一掺杂区包括一第一型掺杂物;射极部为一第二掺杂区,第二掺杂区包括第一型掺杂物;以及基极部为一第三掺杂区,第三掺杂区包括一与第一型掺杂物相反的第二型掺杂物;以及一栅极结构,配置于鳍状结构的基极部上。本发明实施例能够提高集成电路元件的电流增益,并且特别适合用于系统整合芯片技术。
  • 集成电路元件结晶体
  • [发明专利]去嵌入的方法和装置-CN201010222592.3有效
  • 卓秀英;黄俊凯;黄文社;刘莎莉 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2010-07-02 - 2011-01-12 - G01R31/26
  • 本发明提供一种去嵌入的方法和装置,该方法包括:形成具有待测元件的受测结构,待测元件嵌入受测结构之内,受测结构具有多个左测试焊盘和多个右测试焊盘,右测试焊盘和左测试焊盘耦接待测元件,待测元件将受测结构分成左半结构和右半结构,每一左半结构和右半结构均具有本征传输参数;形成多个虚设受测结构,每一虚设受测结构均包括左焊盘和右焊盘;测量受测结构和虚设受测结构的传输参数;以及使用左半结构和右结构的本征传输参数与受测结构和虚设受测结构的传输参数,推导待测元件的本征传输参数。本发明可避免过度去嵌入。
  • 嵌入方法装置

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