专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]时刻同步系统、主控装置、从属装置及程序-CN201980095470.1在审
  • 日置荣太郎;内山直哉 - 三菱电机株式会社
  • 2019-04-22 - 2021-11-26 - G06F1/14
  • 时刻同步系统(100)具有通过数据总线(4)及发送固定周期信号的专用信号线(3)而连接的主控装置(1)和从属装置(2A、2B、2C)。主控装置(1)经由信号线(3)以固定发送周期发送固定周期信号。主控装置(1)经由数据总线(4)对表示固定周期信号的发送开始时刻的开始时刻信息、表示固定周期信号的发送周期的发送周期信息进行发送。从属装置(2A、2B、2C)对固定周期信号的接收次数进行计数,基于固定周期信号的接收次数、开始时刻信息所示的发送开始时刻、发送周期信息所示的发送周期,计算主控装置(1)中的固定周期信号的发送时刻作为主控装置(1)的当前时刻。从属装置(2A、2B、2C)将自身的时刻校正为计算出的主控装置(1)的当前时刻。
  • 时刻同步系统主控装置从属程序
  • [发明专利]图像处理设备、图像处理系统、图像处理方法-CN201510994020.X有效
  • 内山直哉 - 株式会社其恩斯
  • 2015-12-25 - 2020-11-27 - B25J9/16
  • 本发明公开了一种图像处理设备、图像处理系统和图像处理方法。其中,将使得末端执行器移动至多个预定位置的移动命令传送至机器人控制器从而改变成为成像目标的目标相对于成像装置的相对位置。获取第一坐标值,该值是已根据移动命令移动的末端执行器的各位置坐标,并且在末端执行器已移动到的每个移动目的地处捕获目标的图像。基于在每个移动目的地处捕获的目标的图像检测作为目标的位置坐标的第二坐标值,并且基于第一坐标值和第二坐标值来计算两种坐标之间的转换规则。
  • 图像处理设备系统方法
  • [发明专利]光刻用下层膜形成材料、光刻用下层膜及图案形成方法-CN201610562638.3有效
  • 越后雅敏;东原豪;内山直哉 - 三菱瓦斯化学株式会社
  • 2012-08-09 - 2019-11-22 - G03F7/11
  • 提供碳浓度高、氧浓度低、耐热性较高、溶剂溶解性也比较高、能够适用湿式工艺的新型光刻用下层膜形成材料、光刻用下层膜及图案形成方法。一种下述通式(1)所示的化合物作为光刻用下层膜的应用,式(1)中,X各自独立地是氧原子或硫原子,R1各自独立地是单键或碳原子数为1~30的2n价的烃基,该烃基任选具有环式烃基、双键、杂原子或碳原子数为6~30的芳香族基团,R2各自独立地是碳原子数为1~10的直链状、支链状或环状的烷基、碳原子数为6~10的芳基、碳原子数为2~10的链烯基或羟基,其中,R2的至少一个是羟基,m各自独立地是1~6的整数,n是1~4的整数。
  • 光刻下层形成材料图案方法
  • [发明专利]化合物的纯化方法-CN201680051083.4在审
  • 内山直哉;堀内淳矢;牧野嶋高史;越后雅敏;大越笃 - 三菱瓦斯化学株式会社
  • 2016-09-02 - 2018-05-11 - C07C37/70
  • 本发明的化合物的纯化方法包括使下述式(A0)和/或(B0)所示的羟基取代芳香族化合物和溶剂的溶液在过滤器中流通的工序。(前述式(A0)中,n0为0~9的整数,m0为0~2的整数,p0为0~9的整数,此处,m0为1时,表示前述式(A0)具有萘骨架或联苯骨架,Ra各自独立地为选自由羟基、卤代基、碳数1~40的直链状、支链状或环状的烷基、任选具有取代基的碳数6~40的芳基、或碳数2~40的烯基以及它们的组合组成的组中的基团,该烷基、该芳基或该烯基任选包含醚键、酮键、或酯键。前述式(B0)中,n1为0~9的整数,p1为0~9的整数,Rb各自独立地为选自由氢原子、羟基、卤代基、碳数1~40的直链状、支链状或环状的烷基、任选具有取代基的碳数6~40的芳基、或碳数2~40的烯基以及它们的组合组成的组中的基团,该烷基、该芳基或该烯基任选包含醚键、酮键、或酯键。)
  • 化合物纯化方法
  • [发明专利]化合物的纯化方法-CN201680051150.2在审
  • 内山直哉;堀内淳矢;牧野嶋高史;越后雅敏;大越笃 - 三菱瓦斯化学株式会社
  • 2016-09-02 - 2018-05-11 - C07C37/82
  • 本发明的化合物的纯化方法包括使包含下述式(A0)和/或(B0)所示的羟基取代芳香族化合物和溶剂的溶液(A)与离子交换树脂接触的工序。(前述式(A0)中,n0为0~9的整数,m0为0~2的整数,p0为0~9的整数,此处,该n0、m0以及p0的至少1个为1以上的整数,进而,m0为1时,表示前述式(A0)具有萘骨架或联苯骨架,Ra各自独立地为选自由羟基、卤代基、碳数1~40的直链状、支链状或环状的烷基、任选具有取代基的碳数6~40的芳基、或碳数2~40的烯基以及它们的组合组成的组中的基团,该烷基、该芳基或该烯基任选包含醚键、酮键、或酯键。前述式(B0)中、n1为0~9的整数,p1为0~9的整数,Rb各自独立地为选自由氢原子、羟基、卤代基、碳数1~40的直链状、支链状或环状的烷基、任选具有取代基的碳数6~40的芳基、或碳数2~40的烯基以及它们的组合组成的组中的基团,该烷基、该芳基或该烯基任选包含醚键、酮键、或酯键。)
  • 化合物纯化方法
  • [发明专利]光刻用下层膜形成材料、光刻用下层膜及图案形成方法-CN201280039344.2有效
  • 越后雅敏;东原豪;内山直哉 - 三菱瓦斯化学株式会社
  • 2012-08-09 - 2017-06-23 - G03F7/11
  • 提供碳浓度高、氧浓度低、耐热性较高、溶剂溶解性也比较高、能够适用湿式工艺的新型光刻用下层膜形成材料等。本发明的光刻用下层膜形成材料的特征在于,其含有下述通式(1)所示的化合物。(式(1)中,X各自独立地是氧原子或硫原子,R1各自独立地是单键或碳原子数为1~30的2n价的烃基,该烃基任选具有环式烃基、双键、杂原子或碳原子数为6~30的芳香族基团,R2各自独立地是碳原子数为1~10的直链状、支链状或环状的烷基、碳原子数为6~10的芳基、碳原子数为2~10的链烯基或羟基,其中,R2的至少一个是羟基,m各自独立地是1~6的整数,n是1~4的整数。)
  • 光刻下层形成材料图案方法

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