专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果5个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]半导体器件-CN201910742197.9在审
  • 全永斗;朴韩蔚;朴世镇;郑鲁永 - 三星电子株式会社
  • 2019-08-12 - 2020-04-17 - H01L29/78
  • 提供了一种半导体器件,包括:衬底;有源区,从所述衬底向上突出;多个有源鳍,从所述有源区向上突出并在与所述衬底的上表面平行的第一方向上延伸,所述多个有源鳍设置在与所述衬底的所述上表面平行并与所述第一方向交叉的第二方向上;以及隔离结构,设置在所述衬底上,所述隔离结构覆盖所述有源区的侧壁和所述多个有源鳍中的每一个的侧壁的下部,其中,所述有源区的与所述多个有源鳍中的第一有源鳍相邻的第一侧壁具有阶梯形状,所述第一有源鳍在所述第二方向上设置在所述有源区的第一边缘上。
  • 半导体器件
  • [发明专利]制造半导体器件的方法-CN200810177601.4无效
  • 全永斗 - 东部高科股份有限公司
  • 2008-11-17 - 2009-05-20 - H01L21/00
  • 一种用于制造半导体器件的方法可以包括:在刻蚀膜上和/或上方形成相互交叉的第一光刻胶图样和第二光刻胶图样,以及使用第一光刻胶图样和第二光刻胶图样作为刻蚀掩膜,通过刻蚀该刻蚀膜在刻蚀膜上形成精细的图样。根据本发明实施例,可以通过实施两个曝光工艺来形成诸如接触孔的精细图样。该方法可以使用用于线和/或隔离的现有掩膜。该方法可以经由两个光刻胶涂覆工艺通过确保光刻胶膜足够的厚度来确保足够的刻蚀余量。
  • 制造半导体器件方法
  • [发明专利]用于形成接触孔的掩模-CN200710141970.3无效
  • 全永斗 - 东部高科股份有限公司
  • 2007-08-10 - 2008-02-20 - G03F1/00
  • 本发明的实施例涉及一种用于形成接触孔的掩模,在所述的掩模中,在用于形成接触孔的光刻处理中,用于形成接触孔的掩模图案被设计为其水平轴长度大于垂直轴长度,或者其垂直轴长度大于水平轴长度。在本发明实施例中,提供了一种用于制造掩模的方法,所述掩模具有用于形成接触孔的多个图案,其中根据待形成的接触孔之间的距离可以设计不同的图案。
  • 用于形成接触

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top