专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种最劣镜面视宁度的测量方法-CN201611155639.2有效
  • 黄善杰;许方宇;金振宇;袁沭;张涛;柳光乾;付玉;李正刚 - 中国科学院云南天文台
  • 2016-12-14 - 2018-11-23 - G01M11/02
  • 本发明涉及一种最劣镜面视宁度的测量方法,包括:步骤(1)、测量一年周期内望远镜运行期间的镜面、镜体附属结构和空气的温度数据,获取镜面与空气温差绝对值最大时的镜面温度分布、镜体附属结构表面温度和空气温度;测量一年周期内望远镜运行期间的风速和风向数据,获取风速最小值及对应的风向;步骤(2)、测量望远镜所处站址的大气压强参数,测量镜体及镜体附属结构的尺寸参数;步骤(3)、计算镜体周围空气温度场:步骤(4)、计算最劣镜面视宁度;本发明利用Fluent计算结果的节点温度值,直接获取镜面视宁度,大幅度降低了镜面视宁度的计算难度。
  • 一种最劣镜面视宁度测量方法
  • [发明专利]基于短曝光斑点图统计特性的幸运成像选帧方法-CN201510806154.4有效
  • 杨磊;刘忠;金振宇 - 中国科学院云南天文台
  • 2015-11-20 - 2018-08-28 - G06T7/00
  • 本发明涉及一种基于短曝光斑点图统计特性的Lucky Imaging选帧方法,该方法通过快速读出的CCD或CMOS相机获取大量短曝光斑点图,利用瞬时短曝光斑点图的频谱与平均短曝光像的频谱比值来消除目标信息对选帧像质评价的影响,通过对频谱比值的模和相位进行统计,最终得到Lucky Imaging像质评价函数,然后对ImageQ进行排序,ImageQ最大值对应的图像即为幸运图像。与传统的选帧方法相比,本发明将与目标有关的量从像质评价函数中消除,只包含与大气湍流参数有关的量,因此能够更准确地反映出大气湍流引起的像质变化,通过本发明方法可以为后续的图像重建提供更多可靠的高频信息,有利于提高图像重建效果。
  • 基于曝光斑点统计特性幸运成像方法

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