[实用新型]一种PCB背钻孔残桩的测量装置

说明书

本实用新型公开了一种PCB背钻孔残桩的测量装置，其中，背钻孔的底部为钻孔，所述钻孔底部为焊盘；测量装置包括：下测试架，包括下探针，所述下探针与所述焊盘相抵接；上测试架，包括上探针；所述上探针的外径小于所述背钻孔的内径；电测设备，同时连接所述上探针和下探针，所述上探针、下探针和电测设备导通。本申请提供的一种PCB背钻孔残桩的测量装置，能够准确快速地检测背钻孔内残桩是否超标，检测速度快，效率高，进一步确保了PCB板的使用性能。

技术领域

本实用新型涉及PCB背钻孔领域，尤其涉及一种PCB背钻孔残桩的测量装置。

背景技术

背钻工艺广泛应于高频高速的PCB中，背钻的工艺指的是将钻孔中多余的铜层钻掉，避免高速信号传输反射、散射、延迟等给信号带来失真的问题。在背钻工艺中，往往会因为定位不准导致背钻孔偏斜，造成背钻孔内残桩超长。针对残桩长度超标的现象，目前是质检员采用放大镜进行肉眼检查，人工检查严重依赖质检员的工作经验，且长时间作业易疲劳，造成残桩漏检；进而影响PCB使用过程中的信号传输。

实用新型内容

本实用新型旨在至少在一定程度上解决相关技术中的问题之一。为此，本实用新型的目的在于提供一种PCB背钻孔残桩的测量装置，能够准确快速地检测背钻孔内残桩是否超标，检测速度快，效率高，进一步确保了PCB板的使用性能。

为了实现上述目的，本实用新型提出了一种PCB背钻孔残桩的测量装置，其中，背钻孔的底部为钻孔，所述钻孔底部为焊盘；包括：

下测试架，包括下探针，所述下探针与所述焊盘相抵接；

上测试架，包括上探针；所述上探针的外径小于所述背钻孔的内径；

电测设备，同时连接所述上探针和下探针，所述上探针、下探针和电测设备导通。

进一步的，背钻板上设置有下测试架固定孔，所述下测试架中设置有下测试架定位销，所述下测试架定位销与所述下测试架固定孔相适配。

进一步的，所述下测试架远离背钻板的一侧设置有竖直销钉。

进一步的，背钻板上设置有上测试架固定孔，所述上测试架中设置有上测试架定位销，所述上测试架定位销与所述上测试架固定孔相适配。

进一步的，所述上测试架的左右两侧设置有水平销钉。

进一步的，所述上探针包括测试部和绝缘部，所述绝缘部位于测试部远离背钻孔的一侧。

进一步的，所述测试部远离绝缘部的一端为弧状结构，且测试部轴线位置相对于两边位置凹陷。

进一步的，所述绝缘部在轴线方向的长度为3-5mm；所述测试部在轴线方向的长度为X-0.4mm；X表示背钻孔所用的钻刀在轴线方向的长度。

进一步的，所述绝缘部的外径与测试部的外径均为Y-0.05mm；Y表示背钻孔所用的钻刀的刀径。

本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：本申请中下探针连接钻孔下方的焊盘，焊盘为导体；上探针从顶部伸入至背钻孔内部，并通过电测设备与下探针导通，若背钻孔内残桩超标，则上探针和下探针与电测设备形成通路；若背钻孔内残桩未超标，则上探针和下探针无法形成通路，本申请通过在电测设备中观测是否形成通路，便可快速准确地判断出背钻孔内残桩是否超标，大大提高了背钻孔的检测效率，确保了PCB板的使用性能。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本实用新型的实施例，并与说明书一起用于解释本实用新型的原理。

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。