[发明专利]一种数控机床半闭环伺服进给系统刚性的检验及分析方法

权利要求书

1.一种数控机床半闭环伺服进给系统刚性的检验及分析方法，其特征在于：

在机床外部固定激光头，机床主轴上通过磁力表座设置干涉镜，机床的工作台上通过磁力表座设置反射镜；

数控机床半闭环伺服进给系统刚性的检验及分析方法，包括以下步骤：

第一步，激光干涉仪清零，设置测试起点；

第二步，以最大进给速度的1％～5％和最大进给加速度的1％～5％的伺服参数组合，使机床工作台沿正向运行一定距离X，通过激光干涉仪测得基准测量距离L；

第三步，以机床不同进给速度和不同进给加速度的伺服参数组合，以第二步中机床工作台同样的运行距离X，通过激光干涉仪测得实际测量距离L₁；

第四步，实测距离差值计算：

将实际测量距离L₁与基准测量距离L作差，得到差值A；

A=L₁-L

第五步：差值A越小，则伺服进给系统刚性越强，差值A越大，则伺服进给系统刚性越弱。

2.根据权利要求1所述的一种数控机床半闭环伺服进给系统刚性的检验及分析方法，其特征在于：第一步中，反射镜越程停止在测试距离的一端点处，在该端点处进行激光干涉仪清零操作，作为测试起点。

3.根据权利要求1所述的一种数控机床半闭环伺服进给系统刚性的检验及分析方法，其特征在于：第二步中，机床工作台运行距离不小于机床进给轴行程的三分之一。

4.根据权利要求1所述的一种数控机床半闭环伺服进给系统刚性的检验及分析方法，其特征在于：第三步中，不同进给速度包括机床进给轴的低速度区间、中速度区间和高速度区间，不同加速度要包括机床进给轴的低加速度区间、中加速度区间和高加速度区间。

5.根据权利要求4所述的一种数控机床半闭环伺服进给系统刚性的检验及分析方法，其特征在于：不同进给速度选择：

低速度区间：最大进给速度的5%和/或30%；

中速度区间：最大进给速度的50%；

高速度区间：最大进给速度的80%和/或100%；

不同进给加速度选择：

低加速度区间：最大进给加速度的5%和/或30%；

中加速度区间：最大进给加速度的50%；

高加速度区间：最大进给加速度的80%和/或100%。

6.根据权利要求1所述的一种数控机床半闭环伺服进给系统刚性的检验及分析方法，其特征在于：第二步中，使用最大进给速度的5%及最大加速度的5%的伺服参数组合得到的实测距离值作为基准值L。