[发明专利]一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法

说明书

本发明公开一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法，该方法包括：获取A1subgt;n/subgt;—Bsubgt;n/subgt;曲线。获取增益记录为Csubgt;n/subgt;，利用矢量网络分析仪(13)记录不同增益下的定标系统接收天线(10)与定标系统发射天线(7)的输入/输出功率比值，记录为A2subgt;n/subgt;。Csubgt;n/subgt;和A2subgt;n/subgt;呈对应关系，即得到Csubgt;n/subgt;—A2subgt;n/subgt;曲线。选取Csubgt;n/subgt;—A2subgt;n/subgt;曲线中A2subgt;n/subgt;与A1n数值相同的多个点，并得到该点增益对应的雷达散射截面参数值，此时，Csubgt;n/subgt;与Bsubgt;n/subgt;也呈对应关系，即得到Csubgt;n/subgt;—Bsubgt;n/subgt;曲线。

技术领域

本发明涉及雷达参数校准技术领域，尤其涉及一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法。

背景技术

雷达散射截面参数是测量雷达一项非常重要的技术指标，该参数的准确性直接影响雷达对被测目标雷达反射能力的判定。其参数测量准确性是评判被测目标雷达反射能力指标的重要依据。通常对有源雷达散射截面校准装置的定标是采用测量定标装置与测试装置之间的距离，利用雷达方程公式进行计算实现的，该方式具有较大的测量和计算误差，存在绝对定标值不准确的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法，解决背景技术中，雷达散射截面校准装置的定标准确性偏低的问题。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

本发明公开了一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法，该方法包括以下步骤：

S1，将不同雷达散射截面B_n的标准反射体依次放置在非金属平台架上，操作矢量网络分析仪产生相对应频段的信号，经过放大器进行放大，并通过定标系统发射天线辐射出去，定标系统接收天线接收标准反射体的反射信号；通过矢量网络分析仪记录定标系统接收天线与定标系统发射天线的输入/输出功率比值，记录为A1_n，即得到A1_n—B_n曲线；

S2，将标准反射体取下，换成校准装置，校准装置接收天线接收定标系统发射天线辐射的信号后传输至校准装置，校准装置在控制计算机的控制下产生回波信号，并通过校准装置发射天线将回波信号发射定标系统接收天线，通过调整校准装置的增益，增益记录为C_n，矢量网络分析仪记录不同增益下的定标系统接收天线与定标系统发射天线的输入/输出功率比值，记录为A2_n；

C_n和A2_n呈对应关系，即得到C_n—A2_n曲线；

选取C_n—A2_n曲线中A2_n与A1n数值相同的多个点，并得到该点增益对应的雷达散射截面参数值，此时，C_n与B_n也呈对应关系，即得到C_n—B_n曲线。

与现有技术相比，本发明提供的有益技术效果：

本发明方法采用少数几个典型雷达散射界面参数定标体的暗室内定标，得到定标值相对应的中间量—输入/输出比值，并通过选取相同输入/输出比值，将该典型雷达散射截面参数值与雷达散射截面校准装置的增益值相对应。该方法解决了常规方法直接计算定标值误差较大的问题，提高了校准装置暗室定标得准确性，从而保证了雷达散射截面参数校准的准确性。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：