[发明专利]一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法

权利要求书

1.一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法，测量雷达散射截面参数暗室定标方法应用测量雷达散射截面参数暗室定标装置，所述测量雷达散射截面参数暗室定标装置包括暗室(1)，所述暗室(1)中设置有标准反射体(2)、校准系统和定标系统；所述校准系统包括与控制计算机(12)电性连接的校准装置(5)，所述校准装置(5)上设置有校准装置接收天线(6)和校准装置发射天线(9)；所述定标系统包括均与矢量网络分析仪(13)电性连接的定标系统发射天线(7)和定标系统接收天线(10)，所述定标系统发射天线(7)与所述矢量网络分析仪(13)之间的连接导线上设置有放大器(11)；其特征在于，该方法包括以下步骤：

S1，将不同雷达散射截面B_n的标准反射体(2)依次放置在非金属平台架上，操作矢量网络分析仪(13)产生相对应频段的信号，经过放大器(11)进行放大，并通过定标系统发射天线(7)辐射出去，定标系统接收天线(10)接收标准反射体(2)的反射信号；通过矢量网络分析仪(13)记录定标系统接收天线(10)与定标系统发射天线(7)的输入/输出功率比值，记录为A1_n，即得到A1_n—B_n曲线；

S2，将标准反射体(2)取下，换成校准装置(5)，校准装置接收天线(6)接收定标系统发射天线(7)辐射的信号后传输至校准装置(5)，校准装置(5)在控制计算机(12)的控制下产生回波信号，并通过校准装置发射天线(9)将回波信号发射至定标系统接收天线(10)，通过调整校准装置(5)的增益，增益记录为C_n，矢量网络分析仪(13)记录不同增益下的定标系统接收天线(10)与定标系统发射天线(7)的输入/输出功率比值，记录为A2_n；

C_n和A2_n呈对应关系，即得到C_n—A2_n曲线；

选取C_n—A2_n曲线中A2_n与A1_n数值相同的多个点，并得到该点增益对应的雷达散射截面参数值，此时，C_n与B_n也呈对应关系，即得到C_n—B_n曲线。

2.根据权利要求1所述的测量雷达散射截面参数暗室定标方法，其特征在于，所述暗室(1)内铺设有暗室吸波材料(3)。

3.根据权利要求1所述的测量雷达散射截面参数暗室定标方法，其特征在于，所述暗室(1)中设置有监控系统(4)。

4.根据权利要求1所述的测量雷达散射截面参数暗室定标方法，其特征在于，所述标准反射体(2)、校准装置(5)、定标系统发射天线(7)和定标系统接收天线(10)分别放置在非金属台架上。

5.根据权利要求1所述的测量雷达散射截面参数暗室定标方法，其特征在于，所述定标系统发射天线(7)和定标系统接收天线(10)之间设置有间隔吸波材料(8)。