[发明专利]基准定位点设定错位加工孔的方法有效
申请号: | 202110369213.1 | 申请日: | 2021-04-07 |
公开(公告)号: | CN113102804B | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 蒋国华;杨庆明;潘明强 | 申请(专利权)人: | 常州宝菱重工机械有限公司 |
主分类号: | B23B49/00 | 分类号: | B23B49/00;B23B41/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 213019 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基准 定位 设定 错位 加工 方法 | ||
本发明公开了一种基准定位点设定错位加工孔的方法,S1,通过第一基准和第二基准建立公共中心线设定平面X轴及Y轴的起始坐标,以该起始坐标为基准确定各组凸缘上的第一孔和第二孔的起始加工中心坐标;S2,半精镗各个第一孔和第二孔;S3,采用三坐标检测仪检测各个半精镗后的第一孔和第二孔的中心坐标;S4,根据检测得到的半精镗后的第一孔和第二孔的中心坐标,对第一孔进行精镗,对第二孔进行试镗,采用三坐标检测仪检测精镗后的第一孔的坐标,以及第二孔的坐标;S5,以三坐标检测仪检测的偏差调整镗杆的坐标对第二孔进行错位精镗。本发明能够提升两个位于同一轴线上的离散孔的加工精度。
技术领域
本发明涉及键槽加工技术领域,特别涉及一种基准定位点设定错位加工孔的方法。
背景技术
众所周知,机械加工行业中对任何产品的加工均必须要通过不同的加工设备来达到要求,而加工设备的本体精度更是保证被加工产品质量的前提,继而在企业中对于高精度、超范围的产品来说由于企业的特性或加工设备由于多年的使用而精度下降来说用常规方法是无法达到产品使用质量的。
例如,如图1和图2中的工件1,该工件1的周面上设有多组凸缘和多个空心柱体2,这些空心柱体2与每组凸缘沿着工件1的周向交替布置,各组凸缘包括上凸缘3、下凸缘4,上凸缘3上设有第一孔5,下凸缘4上设有第二孔6,其中第一孔5为通孔,第二孔6为盲孔。针对上述工件1中的第一孔5和第二孔6的加工一般均采用立式镗削或卧式镗削,加工设备的精度直接影响产品的质量。
然而,我国在验收加工设备时的标准(GB/T19362.1—2003)ab的间距300mm时允许的公差为0.02mm(如图3所示),按照上述计算原则,如图4所示,第一孔5和第二孔6间距为H(H为981mm)时允许的公差要求仅为位置度为0.05/2=0.025,众所周知,一般企业的设备在实际运行中已经是难以达到设备验收要求,何况一些设备经过多年的运行,各部分配合面难免有不同程度的磨损。经检测现有准备加工的龙门铣(MVR35)实际精度在H1(H1为300mm)间距上第一误差L1为0.025mm,转化计算在间距为H时的第二误差为L2,L2的实测值为0.0793mm。因此,现有的加工设备无法满足允许的公差要求。
发明内容
本发明提供一种基准定位点设定错位加工孔的方法,本发明能够提升两个位于同一轴线上的离散孔的加工精度。
基准定位点设定错位加工孔的方法,包括以下步骤:
S1,以工件一端的外圆为第一基准,以工件另一端的外圆为第二基准,通过第一基准和第二基准建立公共中心线设定平面X轴及Y轴的起始坐标,以该起始坐标为基准确定各组凸缘上的第一孔和第二孔的起始加工中心坐标;
S2,根据步骤S1中确定的各个第一孔和第二孔的起始加工中心坐标,半精镗各个第一孔和第二孔,并留精镗余量;
S3,以步骤S1中设置的平面X轴及Y轴的起始坐标作为基准,采用三坐标检测仪检测各个半精镗后的第一孔和第二孔的中心坐标;
S4,根据检测得到的半精镗后的第一孔和第二孔的中心坐标,对第一孔进行精镗,对第二孔进行试镗,采用三坐标检测仪检测精镗后的第一孔的坐标,以及第二孔的坐标;
S5,以步骤S4中三坐标检测仪检测精镗第一孔及第二孔试镗的坐标偏差为根本,以精镗后第一孔的坐标为基准,以三坐标检测仪检测的偏差调整镗杆的坐标对第二孔进行错位精镗。
进一步地,步骤S4中,所述对第二孔的试镗是指对第二孔的一部分进行精镗,以供三坐标检测仪检测检测出第一孔与第二孔的坐标偏差。
进一步地,精镗第二孔的一部分是指精镗第二孔的孔口至孔内8至12mm的部分。
本发明的优点为:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州宝菱重工机械有限公司,未经常州宝菱重工机械有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110369213.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。