[发明专利]一种薄膜型负温度系数传感器及其制备方法在审
申请号: | 202011569505.1 | 申请日: | 2020-12-26 |
公开(公告)号: | CN112735709A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 何苗;杨丙文;王润;熊德平;赵韦人 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | H01C7/00 | 分类号: | H01C7/00;H01C7/04;H01C17/075;H01C17/12;H01C17/14;H01C17/30 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 贾小慧 |
地址: | 510060 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄膜 温度 系数 传感器 及其 制备 方法 | ||
本发明涉及传感器技术领域,尤其涉及一种薄膜型负温度系数传感器及其制备方法。本发明公开了一种薄膜型负温度系数传感器,包括:陶瓷基片、薄膜热敏电阻和第一电极和第二电极;所述第一电极和所述第二电极设置在所述陶瓷基片的表面;所述薄膜热敏电阻设置在所述陶瓷基片的表面,且位于所述第一电极与所述第二电极之间。薄膜型负温度系数传感器温度响应时间快,灵敏度高,从而可以更快的反应出温度的变化,本发明薄膜型负温度系数传感器的响应时间仅为0.5~1秒。而且该传感器可靠性和稳定性有了较大的提升,从而提升了其R值和B值,本发明薄膜型负温度系数传感器的R精度在±1%,B值的精度在±1%。
技术领域
本发明涉及传感器技术领域,尤其涉及一种薄膜型负温度系数传感器及其制备方法。
背景技术
负温度系数传感器是指随温度上升电阻呈指数关系减小、具有负温度系数的传感器。反应电阻温度特性的公式为:
RT:在温度T(K)时的NTC热敏电阻阻值。
R0:在温度T0(K)时的NTC热敏电阻阻值。
T:规定温度(K)。
B:NTC热敏电阻的材料常数。
该器件是利用锰、铜、钴、铁、镍、锌等两种或两种以上的金属氧化物进行充分混合、成型、烧结等工艺而成的半导体陶瓷,其电阻率和负温度系数根据材料成分、烧结气氛、烧结温度和结构状态不同而变化。这些金属氧化物材料都具有半导体性质,因为在导电方式上完全类似锗、硅等半导体材料。温度低时,这些氧化物材料的载流子(电子和孔穴)数目少,所以其电阻值较高;随着温度的升高,载流子数目增加,所以电阻值降低。传感器可广泛应用于温度测量、温度补偿、抑制浪涌电流等。
随着电子设备的小型化,集成化,例如在打印机的硒鼓中的温度传感器、电池中温度传感器、穿戴设备中,要求负温度系数传感器具备更好的测量精度,尺寸更小,灵敏度高,自热现象小。
然而传统的负温度系数传感器为片式,多应用于各种需要控温的家用电器空调、冰箱、热水器等。块状片式传感器,因为加工工艺的局限性,传感器的响应时间、自热现象、灵敏度、测量精度等性能都收到了一定影响。
发明内容
本发明提供了一种薄膜型负温度系数传感器,解决了现有的负温度系数传感器响应时间长、灵敏度和测量精度不够高的问题。
其具体技术方案如下:
本发明提供了一种薄膜型负温度系数传感器,包括:陶瓷基片、薄膜热敏电阻和第一电极和第二电极;
所述第一电极和所述第二电极均设置在所述陶瓷基片的表面;
所述薄膜热敏电阻设置在所述陶瓷基片的表面,且位于所述第一电极与所述第二电极之间。
优选地,所述薄膜热敏电阻由锰、钴、镍、铜和铁中一种或多种氧化物制备而成;
所述薄膜热敏电阻厚度为1μm-2μm。
优选地,所述第一电极和所述第二电极均为金电极;
所述第一电极与所述第二电极之间的间距为10μm-100μm。
优选地,还包括保护层;
所述保护层设置在所述薄膜热敏电阻表面;
所述保护层的材料为二氧化硅;
所述保护层的厚度为5μm-20μm。
优选地,所述薄膜热敏电阻材料的分子式为Mn1.5CoNi0.5O4。
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