[发明专利]一种顶发光面板的修复装置及其工作方法在审
申请号: | 202010048302.1 | 申请日: | 2020-01-16 |
公开(公告)号: | CN111128811A | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 李东伟 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677;H01L21/68;H01L27/32 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 杨艇要 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 发光 面板 修复 装置 及其 工作 方法 | ||
本申请公开了一种顶发光面板的修复装置及其工作方法,该修复装置包括:支撑平台、翻转机构、定位机和修复机;翻转机构与支撑平台连接,翻转机构用于固定顶发光面板,并对顶发光面板进行翻转,顶发光面板包括相对设置的显示面和背面;定位机与支撑平台连接,定位机用于获取显示面中缺陷像素的第一坐标,并换算成在背面中的第二坐标;修复机支撑平台连接,修复机用于根据第二坐标修复缺陷像素。本申请的修复装置能够精准修复顶发光面板的缺陷像素。
技术领域
本申请涉及有面板修复器械的技术领域,特别是涉及一种顶发光面板的修复装置及其工作方法。
背景技术
目前显示市场上量产的大尺寸面板仍采用底发光方式。为了实现更高的分辨率,顶发光面板是目前各大公司开发的方向。但是在实际量产中,对于顶发光面板的缺陷像素的修复一直是一个难题。主要因为发光像素区覆盖了TFT驱动,造成在发光面难以对TFT及金属走线进行切割。而因为在TFT侧观察不到顶发光面板的显示面的显示状态,所以在TFT侧进行切割又难以定位到顶发光面板的缺陷像素的具体位置。对顶发光面板的修复及精度都提出了很高的要求。
由此可知,顶发光面板的修复问题严重影响着目前大尺寸OLED量产的良率,甚至决定着顶发光面板是否可以量产,所以对可实现大尺寸顶发光面板的高精度修复机台需求日益迫切。
发明内容
本发明提供一种顶发光面板的修复装置及其工作方法,以解决顶发光面板的缺陷像素不易修复的问题。
为解决上述技术问题,本发明申请采用的一个技术方案是:提供一种顶发光面板的修复装置,该修复装置包括:支撑平台、翻转机构、定位机和修复机;翻转机构与支撑平台连接,翻转机构用于固定顶发光面板,并对顶发光面板进行翻转,顶发光面板包括相对设置的显示面和背面;定位机与支撑平台连接,定位机用于获取显示面中缺陷像素的第一坐标,并换算成在背面中的第二坐标;修复机支撑平台连接,修复机用于根据第二坐标修复缺陷像素。
为解决上述技术问题,本发明申请采用的另一个技术方案是:提供一种如上述的修复装置的工作方法,该工作方法包括:将顶发光面板放置于翻转机构上;定位机获取显示面中缺陷像素的第一坐标,并换算成在背面中的第二坐标;翻转机构翻转顶发光面板;修复机根据第二坐标修复缺陷像素。
本申请的有益效果:该修复装置包括支撑平台、翻转机构、定位机和修复机。翻转机构、定位机和修复机分别与支撑平台连接,翻转机构用于固定顶发光面板并翻转顶发光面板,定位机用于从显示面方向定位缺陷像素,修复机用于从背面方向修复缺陷像素。具体地,翻转机在定位机寻找缺陷像素时,保持顶发光面板的显示面朝向定位机,翻转机在修复机修复缺陷像素时,翻转顶发光面板并保持顶发光面板的背面朝向修复机,翻转的角度可以是180度,当然其它角度也是可行的,例如90度、120度等等。定位机用于从显示面方向上获取显示面中缺陷像素的第一坐标,并换算成在背面中的第二坐标。修复机与支撑平台连接,修复机用于根据第二坐标从背面方向上修复缺陷像素,从而精准地修复了顶发光面板的缺陷像素。
附图说明
图1是本申请提供的修复装置的一实施例的结构示意图;
图2是本申请提供的工作方法的一实施例的流程示意图。
具体实施方式
下面将对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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