[实用新型]一种宽禁带半导体量子点荧光的二阶相关性测量系统

权利要求书

1.宽禁带量子点荧光的二阶相关性测量系统，其特征在于，至少包括：

一用于提供激光的激光源，一用于对激光进行聚焦和用于收集量子点荧光的共聚焦显微镜，一实现样品进行横向平面内的位移的电动平移载物台；一光谱仪，包括两个出口，一个出口外接光谱成像CCD，另一个出口外接二阶相关性测量装置；

共聚焦显微镜位于激光源的激光光照方向上，电动平移载物台位于共聚焦显微镜的下方，光谱仪的进光口位于共聚焦显微镜的样品的荧光透射方向上。

2.根据权利要求1所述的宽禁带量子点荧光的二阶相关性测量系统，其特征在于，所述二阶相关性测量装置包括：用于探测到达的包含多于或等于一个光子的极弱光的单光子计数器和用于对单光子计数器输出信号事件的相对时间进行精确测量的时间相关单光子计数系统。

3.根据权利要求2所述的宽禁带量子点荧光的二阶相关性测量系统，其特征在于，所述二阶相关性测量装置具体包括：分束器II，两个单光子计数器，一个时间相关单光子计数系统，分束器II位于光谱仪的出口处，两个单光子计数器分别位于分束器II的两个反射光方向上，两个单光子计数器均连接至时间相关单光子计数系统。

4.根据权利要求1或3所述的宽禁带量子点荧光的二阶相关性测量系统，其特征在于：所述激光源和共聚焦显微镜之间按照光照顺序依次设置有窄带滤光片、反射镜I、分束器I、反射镜II，所述分束器I和光谱仪的进光口之间设置有高通滤光片。

5.根据权利要求4所述的宽禁带量子点荧光的二阶相关性测量系统，其特征在于，所述分束器I采用二向色分束器。

6.根据权利要求4所述的宽禁带量子点荧光的二阶相关性测量系统，其特征在于，所述分束器I和分束器II均为反射透射比为50：50的分束器。