[发明专利]一种ZnSnN有效
申请号: | 201711330330.7 | 申请日: | 2017-12-13 |
公开(公告)号: | CN108149206B | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
发明(设计)人: | 蔡兴民;叶凡;王博;范平;张东平 | 申请(专利权)人: | 深圳大学 |
主分类号: | C23C14/34 | 分类号: | C23C14/34;C23C14/06 |
代理公司: | 44268 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 王永文;刘文求 |
地址: | 518060 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜 制备 载流子迁移率 氮气 射频溅射 直流溅射 氩气气氛 共溅射 金属锡 金属锌 衬底 沉积 流动 | ||
本发明公开了一种ZnSnN2薄膜及其制备方法,其中,所述方法包括步骤:在流动的氮气及氩气气氛中,将金属锌经射频溅射并将金属锡经直流溅射,通过共溅射法沉积在衬底上,即得到ZnSnN2薄膜。本发明解决了现有方法制备的ZnSnN2薄膜载流子迁移率不高的问题。
技术领域
本发明涉及半导体薄膜材料技术领域,尤其涉及一种ZnSnN2薄膜及其制备方法。
背景技术
锌锡氮(ZnSnN2)薄膜作为一种新型三元化合物半导体薄膜材料,由于其具有元素储量丰富、无毒性、成本低廉、高吸收系数、并且可根据阳离子的无序性使其能带在1.0-2.0eV可调等优势,非常适合做下一代太阳能电池的吸收层。虽然ZnSnN2薄膜具有非常好的性能,但ZnSnN2并没有像其它Zn-Ⅳ-N2材料那样被深入研究,这是由于莫斯-布尔斯坦效应(Moss-Burstein effect)导致的简并化载流子浓度。这种简并化的高载流子浓度会导致重要的半导体功能消失。另外,材料的载流子迁移率也是影响太阳能电池光电转换效率的关键因素。为了得到高载流子迁移率的ZnSnN2薄膜,常用的方法是对其进行各种后处理。那么,如果能用简单的方法,直接制备出载流子浓度低,且载流子迁移率高的ZnSnN2薄膜,将会大大增加其应用价值。针对现有方法制备的ZnSnN2薄膜载流子迁移率过低的问题,常用的方法是对其进行各种后处理,但是工艺复杂且效果不理想。
因此,现有技术还有待于改进和发展。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种ZnSnN2薄膜及其制备方法,旨在解决现有方法制备的ZnSnN2薄膜载流子迁移率不高的问题。
本发明的技术方案如下:
一种ZnSnN2薄膜的制备方法,其中,包括步骤:
在氮气及氩气气氛中,将金属锌经射频溅射并将金属锡经直流溅射,通过共溅射法沉积在衬底上,即得到ZnSnN2薄膜。
所述的ZnSnN2薄膜的制备方法,其中,包括步骤:
先将锌靶固定在射频靶位上,将锡靶固定在直流靶位上,将溅射系统抽真空,再持续通入氮气与氩气并保持气压稳定,然后通过共溅射法将锌和锡同时沉积在硅片或玻璃衬底上,即得到ZnSnN2薄膜。
所述的ZnSnN2薄膜的制备方法,其中,所述氮气为99.999%的高纯氮气,所述氩气为99.995%的高纯氩气。
所述的ZnSnN2薄膜的制备方法,其中,所述氮气的流量为4~8sccm,所述氩气的流量为15~25sccm。
所述的ZnSnN2薄膜的制备方法,其中,所述射频溅射功率为30~50w,所述直流溅射功率为15~20w。
所述的ZnSnN2薄膜的制备方法,其中,所述射频溅射及直流溅射的气压均为3~7Pa。
所述的ZnSnN2薄膜的制备方法,其中,所述衬底需预先进行清洗。
所述的ZnSnN2薄膜的制备方法,其中,所述衬底需预先经丙酮、酒精及去离子水清洗。
所述的ZnSnN2薄膜的制备方法,其中,所述衬底在进行薄膜沉积前需加热至300~400℃。
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