[发明专利]一种磁力计校准评价的方法和装置

说明书

本发明公开了一种磁力计校准评价的方法和装置，该方法包括：根据磁力计实时采集的磁力计数据，对磁力计进行多次校准，每次校准获得一个拟合椭圆；依次对相邻两次校准得到的两个拟合椭圆计算长短轴误差值；根据多次计算的长短轴误差值输出磁力计的校准评价结果，根据校准评价结果确定对磁力计是否继续做校准，克服了现有技术中用户无法知道磁力计校准结果的问题，而且用户根据评价结果和自身意愿选择是否继续做校准，较为人性化，用户体验较好。

技术领域

本发明涉及磁力计领域，特别涉及一种磁力计校准评价的方法和装置。

背景技术

磁力计是九轴传感器中最容易受干扰的，磁力计校准又是计算航向角的重要因子，所以对磁力计的校准尤为重要。在磁力计的初始化校准中经过一系列算法获得拟合椭圆，椭圆拟合完成后，会再经过旋转、平移、缩放等处理，将中心不在坐标原点的倾斜椭圆通过几何变换变为中心在坐标原点的圆，从而实现去除软磁和硬磁干扰的地磁校准。传统的“8”字校准，对于用户来说像黑匣子一样，客户在空中画8字舞动磁力计过程中，不知道此时校准结果是什么，也没有校准好坏的反馈，体验效果差。

发明内容

本发明提供的一种磁力计校准评价的方法和装置，以解决或部分解决上述的问题。

根据本发明的一个方面，提供了一种磁力计校准评价的方法，该方法包括：

根据磁力计实时采集的磁力计数据，对磁力计进行多次校准，每次校准获得一个拟合椭圆；

依次对相邻两次校准得到的两个拟合椭圆计算长短轴误差值；

根据多次计算的长短轴误差值输出所述磁力计的校准评价结果，根据校准评价结果确定对磁力计是否继续做校准。

可选地，

所述根据磁力计传感器实时采集的磁力计数据，对磁力计进行多次校准包括：

每当获取到磁力计实时采集的预设数量的新磁力计数据时，根据获取的新磁力计数据与之前获取的磁力计数据，对磁力计进行一次校准。

可选地，

所述根据获取的新磁力计数据和之前获取的磁力计数据，对所述磁力计进行一次校准包括：

对获取的新磁力计数据与之前获取的磁力计数据进行排序；

基于排序后的数据点，找到最外层点；

基于所述最外层点，使用最小二乘法进行椭圆拟合获得拟合椭圆。

可选地，

所述依次对相邻两次校准得到的两个拟合椭圆计算长短轴误差值包括：

使用下述计算公式，计算相邻两次校准得到的两个拟合椭圆的长短轴误差值：

其中，c为误差值，a_n、b_n分别为第本次校准得到的拟合椭圆的长轴长和短轴长，a_n-1、b_n-1分别为上一次校准得到的拟合椭圆的长轴长和短轴长。

可选地，

所述根据多次计算的长短轴误差值输出所述磁力计的校准评价结果包括：

预设校准评价结果对应的误差阈值区间和次数阈值，所述校准评价结果包括差、中、优；

统计所述长短轴误差值落入所述误差阈值区间内的次数，在统计出的次数达到所述次数阈值时，输出相应的校准评价结果。

本发明还公开了一种磁力计校准评价的装置，该装置包括：

校准模块，用于根据磁力计传感器实时采集的磁力计数据，对磁力计进行多次校准，每次校准获得一个拟合椭圆；